Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
ATEST - OCHRONA PRACY
ATEST - OCHRONA PRACY
AURA
AURA
AUTO MOTO SERWIS
AUTO MOTO SERWIS
CHEMIK
CHEMIK
CHŁODNICTWO
CHŁODNICTWO
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
DOZÓR TECHNICZNY
DOZÓR TECHNICZNY
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
GAZETA CUKROWNICZA
GAZETA CUKROWNICZA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA WODNA
GOSPODARKA WODNA
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MATERIAŁY BUDOWLANE
MATERIAŁY BUDOWLANE
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
ODZIEŻ
ODZIEŻ
OPAKOWANIE
OPAKOWANIE
PACKAGING REVIEW
PACKAGING REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
PROBLEMY JAKOŚCI
PROBLEMY JAKOŚCI
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
SZKŁO I CERAMIKA
SZKŁO I CERAMIKA
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH
Menu
Menu
Menu
Prenumerata
Prenumerata
Publikacje
Publikacje
Drukarnia
Drukarnia
Kolportaż
Kolportaż
Reklama
Reklama
O nas
O nas
ui-button
Twój Koszyk
Twój koszyk jest pusty.
Niezalogowany
Niezalogowany
Zaloguj się
Zarejestruj się
Reset hasła
Baza publikacji
Formularz wyszukiwania
Szukany tekst
Szukaj tylko w tych wybranych czasopismach
ATEST - OCHRONA PRACY
AURA
AUTO MOTO SERWIS
CHEMIK
CHŁODNICTWO
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
DOZÓR TECHNICZNY
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
GAZETA CUKROWNICZA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA WODNA
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MATERIAŁY BUDOWLANE
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
ODZIEŻ
OPAKOWANIE
PACKAGING REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
PROBLEMY JAKOŚCI
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
SZKŁO I CERAMIKA
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH
Wyszukaj
Zobacz przykłady zapytań
title:węgiel
title:"węgiel kamienny"
title:"węgiel kamienny" AND issueYear:2020
authorDesc:"Grzegorz Ojczyk"
authorDesc:"Grzegorz Ojczyk" AND issueYear:2020
abstract:"problemy jakości"
keywords:"węgiel kamienny" AND issueYear:2020
titleAlias:quality
keywordsAlias:"hard coal"
abstractAlias:"food quality"
keywordsAlias:"thermal resistance" AND issueYear:2020
Wynik wyszukiwania
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-12
Analityczno-numeryczna metoda badania właściwości stanów kwantowych w supersieciach półprzewodnikowych
Stanisław PAWŁOWSKI
Mariusz MĄCZKA
nr katalogowy: 111045
10.15199/48.2017.12.35
supersieci półprzewodnikowe
samouzgodnionione rozwiązywanie równań Schrödingera i Poissona
semiconductor superlatices
self-consistent solution of Schrödinger and Poisson equations
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-12
Paths of the heat flow from semiconductor devices to the surrounding (Drogi przepływu ciepła wydzielanego w elementach półprzewodnikowych do otoczenia)
Krzysztof Górecki
Janusz Zarębski
nr katalogowy: 73351
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-9
Lasery półprzewodnikowe
Włodzimierz NAKWASKI
Robert P. SARZAŁA
nr katalogowy: 93262
10.15199/48.2015.09.38
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-6
Low-ohmic contacts on the basis of silver nanopowder dedicated to photovoltaic cells
Joanna Kalbarczyk
Marian Teodorczyk
Konrad Krzyżak
Grzegorz Gawlik
Mateusz Jarosz
Anna Młożniak
nr katalogowy: 68598
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-1b
A Modular Simulation System for Semiconductor Manufacturing Scheduling
Li LI
Fei QIAO
nr katalogowy: 65395
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-6
Research achievements of the DSOD Lodz in the field of photovoltaics
Katarzyna Znajdek
Maciej Sibiński
nr katalogowy: 68618
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-12
Start-up of SSTC semiconductor tesla coil - an example of an educational project
Piotr MIGO
Henryk NOGA
nr katalogowy: 95278
10.15199/48.2015.12.42
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2007-12
Technika próżni i technologie próżniowe - Biuletyn Polskiego towarzystwa próżniowego nr 1-2
nr katalogowy: 32125
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-9
Półprzewodnikowe lasery dyskowe korzyści z inżynierii przerwy wzbronionej
Jan MUSZALSKI
Artur BRODA
Agata JASIK
Anna WÓJCIK-JEDLIŃSKA
Iwona SANKOWSKA
Justyna KUBACKA-TRACZYK
Artur TRAJNEROWICZ
nr katalogowy: 93261
10.15199/48.2015.09.37
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-6
Application of semiconductor sensors for quality control of food products
VITALY ZARAPIN
VALERY LUHIN
PAWEŁ ŻUKOWSKI
TOMASZ KOŁTUNOWICZ
nr katalogowy: 35629
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-7
Tutorial on epitaxy of semiconductor materials
Damian Pucicki
Beata Ściana
Katarzyna Bielak
nr katalogowy: 77846
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Charakteryzacja wielokanałowego transportu nośników ładunku dla epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych
Jarosław Wróbel
Sebastian Złotnik
Jacek Boguski
Marek Kojdecki
Jerzy Wróbel
nr katalogowy: 139313
10.15199/48.2022.09.53
analiza widma ruchliwości
struktury epitaksjalne
półprzewodniki wąskoprzerwowe
przewodność.
mobility spectrum analysis
epitaxial structures
low-bandgap semiconductors
conductivity.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Charakteryzacja wielokanałowego transportu nośników ładunku dla epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych
Jarosław Wróbel
Sebastian Złotnik
Jacek Boguski
Marek Kojdecki
Jerzy Wróbel
nr katalogowy: 139313
10.15199/48.2022.09.53
analiza widma ruchliwości
struktury epitaksjalne
półprzewodniki wąskoprzerwowe
przewodność.
mobility spectrum analysis
epitaxial structures
low-bandgap semiconductors
conductivity.
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-6
Formation of thin polyaniline films by means of ionic sputtering in crossed electromagnetic field
ZENON HOTRA
PAVLO STAKHIRA
ZYNOVIY SHANDRA
VLADYSLAV CHERPAK
IRYNA KREMER
DMYTRO VOLYNYUK
MARIUSZ SKOCZYLAS
nr katalogowy: 35664
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-10
Wybrane aspekty projektowania przełączników fotokonduktancyjnych
Marek SUPRONIUK
Ewelina MAJDA-ZDANCEWICZ
Michał PAWŁOWSKI
Mariusz WIERZBOWSKI
nr katalogowy: 109841
10.15199/48.2017.10.24
przełącznik fotokonduktacyjny
półprzewodnik
fotoprzewodnictwo
HPEM
photoconductive switch
semiconductor
photoconductivity
HPEM.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-3
Model źródła przewodzonych zaburzeń elektromagnetycznych – weryfikacja, zastosowanie
Piotr RUSZEL
nr katalogowy: 50470
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2009-11
Estymacja parametrów niezawodnościowych półprzewodnikowych źródeł światła
Ryszard KOPKA
nr katalogowy: 48198
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-11a
Wpływ zastosowania elementów półprzewodnikowych z węglika krzemu na charakterystyki przetwornicy buck
Janusz ZARĘBSKI
Krzysztof GÓRECKI
Krzysztof POSOBKIEWICZ
nr katalogowy: 55737
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2016-5
Wyznaczanie parametrów cieplnych przyrządów półprzewodnikowych dużej mocy metodą eksperymentalną
Andrzej DOMINO
Piotr MAZUREK
Jan SIKORA
Krzysztof ZYMMER
nr katalogowy: 98210
10.15199/48.2016.05.46
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3
IGBT static model based on diffusion equation implemented in SPICE source code
ŁUKASZ STARZAK
ANDRZEJ NAPIERALSKI
nr katalogowy: 58384
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2019-11
Concept of a measuring system for diagnostics of photoconductive semiconductor switches parameters
Karol PIWOWARSKI
Marek SUPRONIUK
Paweł KAMIŃSKI
Bogdan PERKA
nr katalogowy: 123243
10.15199/48.2019.11.31
photoconductive semiconductor switch
impulse systems
switch diagnostics.
półprzewodnikowy łącznik fotokonduktancyjny
układy impulsowe
diagnostyka łączników
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2017-2
Połączenie USB-C - HDMI bez elementów pośredniczących
nr katalogowy: 104242
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2004-7
Międzynarodowe Sympozjum ISPSD'03
nr katalogowy: 1081
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2006-6
KSIĄŻKI
nr katalogowy: 16381
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-1
Międzynarodowe Sympozjum ISPSD'04
S. Januszewski
nr katalogowy: 8977
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-1
Międzynarodowe Sympozjum ISPSD'04
S. Januszewski
nr katalogowy: 8977
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2016-9
Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra
Mikhail TIVANOV
Irina KAPUTSKAYA
Aleksy PATRYN
Anis SAAD
Ludmila SURVILO
Evgenij OSTRETSOV
nr katalogowy: 100511
10.15199/48.2016.09.23
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-1
IV International Workshop on Semiconductor Gas Sensors - SGS'2004
nr katalogowy: 8976
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-1
IV International Workshop on Semiconductor Gas Sensors - SGS'2004
nr katalogowy: 8976
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2006-12
V international Workshop on semiconductor Gas sensors sGs 2006
Jacek Szuber
nr katalogowy: 22682
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3
Characterisation of a heterojunction structure based on Au doped WO3 and SnO2
PATRYK HALEK
HELENA TETERYCZ
MARTA FIEDOT
KAMIL WIŚNIEWSKI
nr katalogowy: 58379
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-4
Korekcja nieliniowości charakterystyk rezystancyjnych czujników gazów
Henryk URZĘDNICZOK
nr katalogowy: 76338
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2016-9
Lasery półprzewodnikowe pompowane promieniowaniem słonecznym
Włodzimierz NAKWASKI
nr katalogowy: 100525
10.15199/48.2016.09.37
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-8
Wytwarzanie nanoigieł z krzemku palladu
Ewa Kowalska
Elżbieta Czerwosz
Joanna Radomska
Halina Wronka
nr katalogowy: 70164
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-4b
Pomiary termiczne dla weryfikacji wartości strat łączeniowych w półprzewodnikowych przyrządach mocy
Mieczysław NOWAK
Piotr GRZEJSZCZAK
Mariusz ZDANOWSKI
Roman BARLIK
nr katalogowy: 67712
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-9a
Nowa metoda detekcji kondensatu w higrometrze punktu rosy ze zintegrowanym detektorem półprzewodnikowym
Daniel PACZESNY
Roman IWASZKO
Franciszek MIKŁASZEWICZ
Jerzy WEREMCZUK
Grzegorz TARAPATA
Ryszard JACHOWICZ
nr katalogowy: 62309
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-10
Wyznaczanie temperatury struktury przyrządu półprzewodnikowego w warunkach przeciążeń i zwarć
Andrzej DOMINO
Krzysztof ZYMMER
nr katalogowy: 80169
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-3
Nanoimprint Lithography - a next generation high volume lithography technique for the transition of MEMS technology to nanofabrication
Gerald Kreindl
Roland Staudinger
nr katalogowy: 75384
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Wpływ postaci modelu termicznego na dokładność obliczania charakterystyk statycznych modułu IGBT
Krzysztof Górecki
Paweł Górecki
nr katalogowy: 139295
10.15199/48.2022.09.35
moduł IGBT
model termiczny
samonagrzewanie
wzajemne sprzężenia termiczne
analiza elektrotermiczna
SPICE.
IGBT module
thermal model
self-heating
mutual thermal couplings
electrothermal analysis
SPICE
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Wpływ postaci modelu termicznego na dokładność obliczania charakterystyk statycznych modułu IGBT
Krzysztof Górecki
Paweł Górecki
nr katalogowy: 139295
10.15199/48.2022.09.35
moduł IGBT
model termiczny
samonagrzewanie
wzajemne sprzężenia termiczne
analiza elektrotermiczna
SPICE.
IGBT module
thermal model
self-heating
mutual thermal couplings
electrothermal analysis
SPICE
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2021-12
WPROWADZENIE DO GreenPAK (CZĘŚĆ I)
nr katalogowy: 135140
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3
Thermal stability of SiC MOS transistors
WITOLD J. STEPOWICZ
nr katalogowy: 58376
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-8
Technology development of organic photosensitive structures and study of their electrophysical properties
Zenon HOTRA
prof. Pavlo STAKHIRA
Vla dyslav CHER PAK
Dmytro VOLYNYUKA
nr katalogowy: 53921
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-10
Evolution of IC Switching Voltage Regulator
Labonnah F. RAHMAN
Lim M. RONG
Mamun B. I. REAZ
Hafizah HUSAIN
Mohammad MARUFUZZAMAN
nr katalogowy: 94021
10.15199/48.2015.10.31
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2024-5
CO PISZĄ INNI?
Agnieszka Sobczak-Kupiec
nr katalogowy: 151200
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2024-5
Fully spectrum-sliced four-wave mixing wavelength conversion in a Semiconductor Optical Amplifier
David I. Forsyth
Kanar R. Tariq
Ahmed Jamal Abdullah Al-Gburi
nr katalogowy: 148625
10.15199/48.2024.05.40
Semiconductor optical amplifier
four-wave mixing
spectrum-slicing
Półprzewodnikowy wzmacniacz optyczny
mieszanie czterofalowe
cięcie widma
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2007-3
Wyładowania elektrostatyczne w układach scalonych: modele ESD i powodowane zniszczenia
BARTŁOMIEJ PÓŁTORAK
KRZYSZTOF DOMAŃSKI
JACEK SZATKOWSKI
WACŁAW BAŁA
nr katalogowy: 24688
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA 2017-19-20
Historia rozwoju przyrządów półprzewodnikowych w Polsce stosowanych w praktyce (cz. II)
Jerzy KLAMKA
nr katalogowy: 109237
diody półprzewodnikowe
przyrządy półprzewodnikowe
przyrządy mikrofalowe
diody prostownicze
dioda Zanera
fotodioda
waraktor
dioda lawinowa
dioda Schottky’
ego
dioda Gunna
tranzystor.
semiconductor diodes
semiconductor devices
microwave devices
rectifying diodes
Zener diode
photodiode
varactor
avalanche diode
Schottky diode
Gunna diode
transistor.
PRZEGLĄD GEODEZYJNY 2021-4
CMOS versus CCD. Zmiany technologiczne we współczesnych kamerach fotogrametrycznych
Krzysztof Konieczny
nr katalogowy: 131174
PRZEGLĄD GEODEZYJNY 2021-4
CMOS versus CCD. Zmiany technologiczne we współczesnych kamerach fotogrametrycznych
Krzysztof Konieczny
nr katalogowy: 131174
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-7a
Impedance of reverse biased diodes irradiated with krypton ions with energy of 250 MeV
Nikolai A. POKLONSKI
Nikolay I. GORBACHUK
Anna V. ERMAKOVA
Mariya I. TARASIK
Sergey V. SHPAKOVSKI
Viktor A. FILIPENIA
Viktor A. SKURATOV
Andreas WIECK
Tomasz N. KOŁTUNOWICZ
nr katalogowy: 69261
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-11
Nonlinear compact thermal model of SiC power semiconductor devices
KRZYSZTOF GÓRECKI
JANUSZ ZARĘBSKI
DAMIAN BISEWSKI
JACEK DĄBROWSKI
nr katalogowy: 55990
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2008-11
Use of EM fields in production processes for PV cells
Bernard NACKE
nr katalogowy: 39580
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-7
Parallel operation of MOSFET and IGBT transistors in resonant mode converter
Cezary WOREK
Sławomir LIGENZA
nr katalogowy: 53442
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-1
MOVPE - present state, future challenges, application in optoelectronic structures
BEATA ŚCIANA
nr katalogowy: 32604
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-1
Wpływ składu materiałowego na przewodnictwo elektryczne cienkich warstw otrzymanych na bazie TiO2
EUGENIUSZ PROCIÓW
JAROSŁAW DOMARADZKI
AGNIESZKA BORKOWSKA
DANUTA KACZMAREK
TADEUSZ BERLICKI
BOGDAN ADAMIAK
KAROLINA SIERADZKA
nr katalogowy: 32583
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2007-12
Application of laser-plasma source with gas-puff target for calibration of EUV radiation detectors
JANUSZ MIKOŁAJCZYK
ZBIGNIEW BIELECKI
nr katalogowy: 32113
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2008-8
Measurements of the temperature-dependent changes of the photometrical and electrical parameters of LEDs
Krzysztof WANDACHOWICZ
Konrad DOMKE
nr katalogowy: 37117
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-11
Wpływ długoterminowych wymuszeń optycznych na charakterystyki widmowe detektorów UV
Joanna ĆWIRKO
Robert ĆWIRKO
nr katalogowy: 110391
10.15199/48.2017.11.21
półprzewodnikowe detektory UV
charakterystyki widmowe
długoterminowe pobudzenia optyczne
semiconductor UV detectors
spectral characteristics
long-term optical excitation
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-6
Multivariate analysis of signals from array of semiconductor gas sensors
ADAM SZPAKOWSKI
CUMA TYSZKIEIWCZ
TADEUSZ PUSTELNY
nr katalogowy: 35643
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-7
Prezentacja Freescale w Warszawie
nr katalogowy: 61179
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3
Characterization of mos structures with ultrathin insulator layer by means of a theoretical model
BOGDAN MAJKUSIAK
nr katalogowy: 58380
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-2
Influence of the magnetic field on the charge transport in InxGa1-xAs (0 < x < 1) MBE layers
ANDRZEJ WOLKENBERG
TOMASZ PRZESŁAWSKI
nr katalogowy: 33197
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-1
Studies of the feasibility of using global and local optimization methods in MOSFET characterization
JAROSŁAW ARABAS
SŁAWOMIR SZOSTAK
LIDIA ŁUKASIAK
ANDRZEJ JAKUBOWSKI
nr katalogowy: 32588
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2019-10
Analiza elektrotermiczna obudowy zintegrowanej ze strukturą mikrokanałową dla pastylkowych przyrządów półprzewodnikowych mocy
Ewa RAJ
Salvatore MASSA
Janusz WOŹNY
Zbigniew LISIK
nr katalogowy: 122737
10.15199/48.2019.10.34
mikrokanały
chłodzenie
dioda mocy
modelowanie.
microchannel
cooling
power diode
modelling.
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2020-6
WYBRANE KOMPONENTY UKŁADÓW CHŁODZENIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
Krzysztof Posobkiewicz
Krzysztof Górecki
nr katalogowy: 126910
10.15199/13.2020.6.2
chłodzenie elementów półprzewodnikowych
ciepłowód
komora parowa
komora cieczowa
moduł Peltiera
chłodzenie wodne
semiconductor devices cooling
heat pipe
vapour chamber
liquid chamber
Peltier module
water cooling
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2023-3
Next level epitaxy (NLE) – a novel approach for the mass production of semiconductor layers
Yilmaz Dikme
Volker Sinhoff
nr katalogowy: 144061
10.15199/28.2023.3.2
next level epitaxy
semiconductor layers
physical vapor deposition
chemical vapor deposition
epitaksja następnego poziomu
warstwy półprzewodnikowe
fizyczne osadzanie z fazy gazowej
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2023-3
Next level epitaxy (NLE) – a novel approach for the mass production of semiconductor layers
Yilmaz Dikme
Volker Sinhoff
nr katalogowy: 144061
10.15199/28.2023.3.2
next level epitaxy
semiconductor layers
physical vapor deposition
chemical vapor deposition
epitaksja następnego poziomu
warstwy półprzewodnikowe
fizyczne osadzanie z fazy gazowej
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2023-3
Next level epitaxy (NLE) – a novel approach for the mass production of semiconductor layers
Yilmaz Dikme
Volker Sinhoff
nr katalogowy: 144061
10.15199/28.2023.3.2
next level epitaxy
semiconductor layers
physical vapor deposition
chemical vapor deposition
epitaksja następnego poziomu
warstwy półprzewodnikowe
fizyczne osadzanie z fazy gazowej
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2018-3
Model of PV inverter in H4 and H5 topologies for power loss analysis
Dariusz SOBCZYŃSKI
nr katalogowy: 112475
10.15199/48.2018.03.31
PV inverters
semi conductor elements power loss calculation
power electronics transformerless converters.
falowniki PV
obliczanie strat mocy elementów półprzewodników
beztransformatorowe przekształtniki energoelektroniczne
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-2
Wpływ procesów utleniania i wygrzewania w atmosferze zawieraja˛cej fosfor lub azot na jakos´c´ mie˛dzypowierzchni dielektryk/półprzewodnik w strukturze MOS Ti/SiO2/4H-SiC
Maciej Kamiński
Ernest Brzozowski
Andrzej Taube
Oskar Sadowski
Krystian Król
Marek Guziewicz
nr katalogowy: 130187
SiC
stany powierzchniowe
dielektryk bramkowy
mi˛edzypowierzchnia dielektryk/półprzewodnik
POCl3
NO
SiC
surface states
gate dielectric
semiconductor/dielectric interface
POCl3
NO
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-10
Effect of Low Temperature Annealing on Anatase TiO2 Layer as Photoanode for Dye-Sensitized Solar Cell
Nur Syamimi NOORASID
Faiz ARITH
Ahmad Nizamuddin MUSTAFA
Mohd Asyadi AZAM
Syazwan Hanani Meriam SUHAIMY
Oras A AL-ANI
nr katalogowy: 133550
10.15199/48.2021.10.03
Anatase TiO2
Annealing Temperature
Dye-Sensitized Solar Cell
Surface Morphology
Anatase TiO2
Temperatura wyżarzania
Ogniwo słoneczne światłoczułe
Morfologia powierzchni
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2023-9
PRZEMYSŁOWE AKCELERATORY ELEKTRONÓW I ICH ZASTOSOWANIA W TECHNOLOGIACH RADIACYJNYCH ZASTOSOWANIE TECHNOLOGII RADIACYJNYCH DO MODYFIKACJI PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH – WDROŻENIA PRZEMYSŁOWE
Sylwester Bułka
nr katalogowy: 145197
10.15199/13.2023.9.4
wiązka elektronów
półprzewodnik
defekty sieci
efekt radiacyjny
modyfikacja struktury
electron beam
semiconductor
lattice defects
radiation-induced effect
structure modification
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2024-3
Opportunities of electrical technologies for control of the quality parameters of light sensitive materials
Maryna MIKHALIEVA
Lubomyra ODOSII
Krzysztof PRZYSTUPA
Yuryi SHABATURA
Volodymyr ROMANCHUK
Lidiya PARASHCHUK
nr katalogowy: 147773
10.15199/48.2024.03.51
photocatalitic activity
light-sensitive materials
immittanse
spectroscopy
aktywność fotokatalityczna
materiały światłoczułe
immitanza
spektroskopia
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2024-5
DECT FORUM, PÓŁPRZEWODNIKI OSTATNIEJ MILI
nr katalogowy: 148752
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2024-11
dect Forum, półprzewodniki ostatniej mili
nr katalogowy: 151595
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-8
Aparaturowe ograniczenia pomiaru kinetyki pojemności w metodzie DLTS
Michał PAWŁOWSKI
Marek PAWŁOWSKI
Marek SUPRONIUK
nr katalogowy: 85967
10.12915/pe.2014.08.049
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-9
Enhancement of immunity on MeV electron radiation of MOS structures by means of fluorine implantation from r.f. plasma
Małgorzata Kalisz
Robert Mroczyński
nr katalogowy: 70988
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2016-10
Osadzanie i charakteryzacja cienkich warstw dielektrycznych AlOxNy
Piotr Firek
Anastasiia Veklych
Mariusz Sochacki
nr katalogowy: 101668
10.15199/13.2016.10.15
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2016-9
Programowanie świetlnej odpowiedzi czasowej emitera promieniowania widzialnego
Marian GILEWSKI
nr katalogowy: 100528
10.15199/48.2016.09.40
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009-6
Estymacja parametrówmodelu Danga tranzystora MOS
JANUSZ ZARĘBSKI
DAMIAN BISEWSKI
nr katalogowy: 44781
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-5
Photoelectric semiconductor converters with a large dynamic range
Roman I. VOROBEY
Oleg K. GUSEV
Andrey K. TYAVLOVSKY1
Konstantin L. TYAVLOVSKY1
Alexander I. SVISTUN1
Lyudmila I. SHADURSKAYA
Nadezhda V. YARZHEMBITSKAYA
Konrad KIERCZYŃSKI
nr katalogowy: 84454
10.12915/pe.2014.05.016
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-11
Moduł czujnikowy do pomiarów ste˛z˙en´ lotnych zwia˛zków
Piotr BATOG
Andrzej SZCZUREK
nr katalogowy: 87766
10.12915/pe.2014.11.40
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-11
Węglik krzemu w energoelektronice – nadzieje i ograniczenia
Włodzimierz JANKE
nr katalogowy: 63894
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-10
Pomiary parametrów cieplnych elementów półprzewodnikowych wykonanych z węglika krzemu
Janusz ZARĘBSKI
Jacek DĄBROWSKI
Damian BISEWSKI
nr katalogowy: 63351
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-8
Comparative analysis of selected models of semiconductor superlattices
Mariusz MĄCZKA
Stanisław PAWŁOWSKI
Jolanta PLEWAKO
nr katalogowy: 61627
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-10
Badania falownika napięcia z węglikowo - krzemowymi tranzystorami JFET o charakterystykach mieszanych
Mariusz ZDANOWSKI
Jacek RĄBKOWSKI
Marek PATOKA
Roman BARLIK
nr katalogowy: 80152
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-9
Modelowanie kinetyki fotoprzewodnictwa półizolującego GaAs
Marek SUPRONIUK
Michał PAWŁOWSKI
Paweł KAMIŃSKI
Roman KOZŁOWSKI
nr katalogowy: 79566
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2015-12
Wpływ domieszkowania na właściwości węglika krzemu (SiC) - przegląd
Katarzyna Racka-Szmidt
nr katalogowy: 95862
10.15199/13.2015.12.14
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-10
Wybrane zagadnienia pomiaru fotoprzewodnictwa w aspekcie badania struktury defektowej materiałów półprzewodnikowych
Marek SUPRONIUK
Mariusz WIERZBOWSKI
Michał PAWŁOWSKI
Ewelina MAJDA-ZDANCEWICZ
Piotr PAZIEWSKI
nr katalogowy: 109828
10.15199/48.2017.10.11
system pomiarowy
materiały półprzewodnikowe
centra defektowe.
measurement system
semiconductor materials
defect centres.
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2014-7
Czujnik wodoru do zastosowań w podwyższonej temperaturze i wilgotności
Elżbieta Czerwosz
Anna Kamińska
Ewa Kowalska
Mirosław Kozłowski
Sławomir Krawczyk
Joanna Radomska
Halina Wronka
nr katalogowy: 85796
10.15199/ELE-2014-080
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-11b
Semiconductor gas sensors for mobile robot navigation
Piotr BATOG
Andrzej R. WOŁCZOWSKI
nr katalogowy: 72332
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-12a
Research on the Mechanism of Pin-to-Pin ESD to SCB Initiators
Fei CHEN
Bin ZHOU
Zhi-chun QIN
nr katalogowy: 64256
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-8
Process-oriented suboptimal controller for SiC bulk crystal growth system
Marek Orzyłowski
nr katalogowy: 70156
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-7b
Performance Evaluation of Fabless CMOS Image Sensor Design Houses by Using an Multiple Objective Programming Based Data Envelopment Analysis
Hueiling CHEN
Chi-Yo HUANG
nr katalogowy: 69344
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-7a
Electrical properties of the layered single crystals TlGaSe2 and TlInS2
Aleksander K. FEDOTOV
Maria I. TARASIK
Tofig G. MAMMADOV
Ivan A. SVITO
Pawel ZHUKOWSKI
Tomasz N. KOLTUNOWICZ
MirHasan Yu. SEYIDOV
Rauf A. SULEYMANOV
Vitautas GRIVICKAS
Vitalius BICBAEVAS
nr katalogowy: 69258
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-5b
A Multi-Level Inverter for Ultra High Speed PM Motor Control Application
Lie XU
Yongdong LI
Zedong ZHENG
Hongwei MA4
Kui WANG
nr katalogowy: 67820
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-10
Analiza porównawcza strat mocy w trójfazowych falownikach PWM z elementami aktywnymi z węglika krzemu
Mariusz ZDANOWSKI
Jacek RĄBKOWSKI
Roman BARLIK
nr katalogowy: 63369
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-5
A new control method for the three level active neutral point clamped converter for low speed applications
Lucian PARVULESCU
Dan FLORICAU
Mircea COVRIG
nr katalogowy: 59999
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-4
Determining of the transformer operating modes by means of vibroacoustic signals
Nikolay KUZNIETSOV
Valeriy ZHUIKOV
nr katalogowy: 76358
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-3a
Optical identification of crystal defects in CCD matrix
Adam POPOWICZ
nr katalogowy: 75059
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-1
Trójfazowy falownik quasi-Z do współpracy z baterią ogniw fotowoltaicznych - analiza symulacyjna i projekt
Jacek RĄBKOWSKI
Mariusz ZDANOWSKI
Henryk SUPRONOWICZ
nr katalogowy: 58326
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-3
Układy zasilające stosowane w lampach LED
Przemysław PTAK
Krzysztof GÓRECKI
Janusz ZARĘBSKI
nr katalogowy: 104325
:10.15199/48.2017.03.39
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2016-8
Calculation of the ultimate efficiency of p-n-junction solar cells taking into account the semiconductor absorption coefficient
Mikhail TIVANOV
Alexander MOSKALEV
Iryna KAPUTSKAYA
Paweł ŻUKOWSKI
nr katalogowy: 99983
10.15199/48.2016.08.23
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-9
Determination of Cu(In,Ga)(S,Se)2-solar cell parameters from quantum efficiency spectra
Michael TIVANOV
Alexander MOSKALEV
Aleksy PATRYN
nr katalogowy: 93273
10.15199/48.2015.09.49
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2015-1
Nanokompozytowe warstwy C-Pd do zastosowania w detekcji wodoru
Elżbieta Czerwosz
Anna Kamińska
Ewa Kowalska
Sławomir Krawczyk
Mirosław Kozłowski
Piotr Dłużewski
nr katalogowy: 89167
10.15199/13.2015.1.3
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2023-11
Simulating the Barrier Heights Impact on the Performance of Dissimilar Electrodes Metal-Insulator-Metal Diode
Rafal Emad
Qais Th. Algwari
Ahmed M. A. Sabaawi
nr katalogowy: 146210
10.15199/48.2023.11.24
MIM diode
tunnelling
electrode asymmetry
SILVACO ATLAS
Dioda MIM
tunelowanie
asymetria elektrod
SILVACO ATLAS
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-2
Oszacowanie strat energii w systemie fotowoltaicznym na podstawie symulacji czasu rzeczywistego w układzie FPGA
Robert STALA
Miłosz SZAREK
nr katalogowy: 49975
PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2009-5
Urządzenie do oznaczania zawartości zapachowych substancji chemicznych w powietrzu
ŁUKASZ GUZ
HENRYK SOBCZUK
HENRYK WASĄG
nr katalogowy: 44479
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2009-4
Silicon carbide JFET - fast, high voltage semiconductor device for power electronics applications
Jacek RĄBKOWSKI
nr katalogowy: 43954
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE 2009-2
Technologia PoE jako element bezpiecznego zasilania napięciem stałym wybranych urządzeń w sieciach komputerowych
Paweł Piotrowski
nr katalogowy: 41197
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-9a
A New Approach for Optimal Power Quality Monitor Placement in Power System Considering System Topology
Ahmad Asrul IBRAHIM
Azah MOHAMED
Hussain SHAREEF
Sakti Prasad GHOSHAL
nr katalogowy: 70655
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2019-10
Modelowanie wpływu zewnętrznego pola elektromagnetycznego na charakterystyki wybranych elementów elektronicznych
Krzysztof GÓRECKI
Janusz ZARĘBSKI
Witold J. STEPOWICZ
Paweł GÓRECKI
Damian BISEWSKI
Kalina DETKA
Przemysław PTAK
Jacek DĄBROWSKI
Małgorzata GODLEWSKA
Kamil BARGIEŁ
Joanna SZELĄGOWSKA
nr katalogowy: 122732
10.15199/48.2019.10.29
modelowanie
elementy półprzewodnikowe
SPICE
zewnętrzne pole elektromagnetyczne
symulacje komputerowe.
modelling
semiconductor devices
SPICE
external electromagnetic field
computer simulations.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-4
Możliwości zastąpienia wybranych łączników przez półprzewodnikowe łączniki fotokonduktancyjne
Karol PIWOWARSKI
Bogdan PERKA
nr katalogowy: 131007
10.15199/48.2021.04.15
urządzenia elektryczne
łącznik elektryczny
półprzewodnikowy łącznik fotokonduktancyjny
fosforek galu
electronic devices
electric switch
photoconductive semiconductor switch
gallium phosphide
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-3
A review on echo and phase inverted scanning in acoustic microscopy for failure analysis
Badrul Hisham Ahmad
Taha Raad Al-Shaikhli
Nornikman Hassan
Ayman Mohammed Ibrahim
P. E. Lim
Nurul Syahira Nordin
nr katalogowy: 130650
10.15199/48.2021.03.02
Acoustic microscopy
C-mode scanning acoustic-microscope (C-SAM)
Confocal scanning acoustic-microscope (CSAM)
Scanning acoustic-microscope (SAM
mikorskop akustyczny
mikroskop skaningowy
mikroskop SAM
CSAM I CSAM
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009-4
An FPGA-based sigma-delta audio DAC
ZBIGNIEW KULKA
MARCIN LEWANDOWSKI
nr katalogowy: 44093
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-12
DC measurements method of the thermal resistance of power MOSFETs (Stałoprądowa metoda pomiaru rezystancji termicznej tranzystorów mocy MOS)
Krzysztof Górecki
Janusz Zarębski
nr katalogowy: 73350
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-1
Mechanical and thermal properties of SiC - ceramics substrate interface
Ryszard Kisiel
ZBIGNIEW Szczepański
Piotr Firek
MAREK Guziewicz
ARKADIUSZ Krajewski
nr katalogowy: 65204
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-6
Graphene production for electrical metrology
RANDOLPH E. ELMQUIST
TIAN SHEN
GEORGE R. JONES
JR
FELIPE L. HERNANDEZ-MARQUEZ
MARIANO A. REAL
DAVID B. NEWELL
nr katalogowy: 60598
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-9
Influence of low-temperature annealing of AlGaN/GaN heterostructures on adhesion of evaporated Pt-based Schottky contacts
Patryk Głowacki
Wojciech Macherzyński
Regina Paszkiewicz
Marek Tłaczała
nr katalogowy: 79325
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-7
Modeling of the processes of low-dimensional structures formation on semiconductors surface by scanning laser radiation
Ivan S. MANAK
Artur MEDVID
Elena S. PANFILIONAK
Waldemar WOJCIK
nr katalogowy: 53390
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-2
Influence of series resistance on thermally induced limitations of SiC Schottky diodes
WŁODZIMIERZ JANKE
ANETA HAPKA
nr katalogowy: 58292
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-11
Krummenacher feedback analysis for high-count-rate semiconductor pixel detector readout
ROBERT SZCZYGIEŁ
nr katalogowy: 55991
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2022-3
Innowacyjny system do lokalizacji zasobów dla poprawy efektywności i bezpieczeństwa w służbie zdrowia
Mateusz RZYMOWSKI
Mateusz GROTH
Krzysztof NYKA
Łukasz KULAS
nr katalogowy: 137538
10.15199/59.2021.3.6
Internet rzeczy
antena rekonfigurowalna
antena typu ESPAR
lokalizacja wewnątrzbudynkowa
służba zdrowia
Internet of Things
reconfigurable antenna
ESPAR antenna
indoor localization
healthcare domain
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2022-3
Innowacyjny system do lokalizacji zasobów dla poprawy efektywności i bezpieczeństwa w służbie zdrowia
Mateusz RZYMOWSKI
Mateusz GROTH
Krzysztof NYKA
Łukasz KULAS
nr katalogowy: 137538
10.15199/59.2021.3.6
Internet rzeczy
antena rekonfigurowalna
antena typu ESPAR
lokalizacja wewnątrzbudynkowa
służba zdrowia
Internet of Things
reconfigurable antenna
ESPAR antenna
indoor localization
healthcare domain
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2024-3
Quasi-two-level method as an universal approach for voltage balancing of series-connected SiC MOSFETs
Rafał KOPACZ
nr katalogowy: 147725
10.15199/48.2024.03.03
multilevel converters. power electronics
series connection
SiC MOSFET
energoelektronika
przekształtniki wielopoziomowe
szeregowe łączenie
SiC MOSFET
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2009-5
Investigation for Ti/TiO2 electrode used as a platform for H2O2 biosensing
MAGDALENA EMILIANÓW
IZABELA GŁAZOWSKA
ELŻBIETA KRASICKA- CYDZIK
nr katalogowy: 47803
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-12
Wykorzystanie technologii GLAD do zastosowań w przenośnych analizatorach oddechu
Dominik Grochala
Anna Paleczek
Jakub Bronicki
Konstanty Marszalek
Artur Rydosz
nr katalogowy: 140828
10.15199/48.2022.12.29
technologia GLAD
czujniki gazów
analiza wydychanego powietrza
GLAD technology
gas sensors
exhaled breath analysis
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-12
Wykorzystanie technologii GLAD do zastosowań w przenośnych analizatorach oddechu
Dominik Grochala
Anna Paleczek
Jakub Bronicki
Konstanty Marszalek
Artur Rydosz
nr katalogowy: 140828
10.15199/48.2022.12.29
technologia GLAD
czujniki gazów
analiza wydychanego powietrza
GLAD technology
gas sensors
exhaled breath analysis
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2018-3
Materiały i przyrządy optoelektroniczne dla zastosowań w zakresie bliskiej i średniej podczerwieni
Andrzej Maląg
Ryszard Stępień
Dariusz Pysz
Marcin Franczyk
Ireneusz Kujawa
Dariusz Podniesiński
Jarosław Kisielewski
Kamila Leśniewska-Matys
Marian Teodorczyk
Elżbieta Dąbrowska
Anna Kozłowska
Dorota Pawlak
Ewa Dumiszewska
nr katalogowy: 112982
10.15199/13.2018.3.9
optoelektronika
pasma optyczne bliskiej i średniej podczerwieni
szkła aktywne
światłowody włóknowe szklane
włókna fotoniczne
kryształy laserowe
kryształy nieliniowe
kryształy półprzewodnikowe
mikrolasery
lasery półprzewodnikowe
optoelektroniczne układy zintegrowane
optoelectronics
optical bands in near and mid-infrared
optically active glasses
optical glass fibres
photonic fibres
laser crystals
nonlinear crystals
semiconductor crystals
microlasers
semiconductor lasers
integrated optoelectronic systems
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-10
Porównanie skuteczności algorytmów regresji nieliniowej w procesie identyfikacji centrów defektowych półizolujących materiałów półprzewodnikowych
Witold KACZMAREK
Marek SUPRONIUK
Karol PIWOWARSKI
Bogdan PERKA
Piotr PAZIEWSKI
nr katalogowy: 133569
centra defektowe
materiały półprzewodnikowe
HRPITS
metoda regresji nieliniowej.
defect centres
semiconductor materials
HRPITS
nonlinear regression method.
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2023-7
PRZEMYSŁOWE AKCELERATORY ELEKTRONÓW I ICH ZASTOSOWANIA W TECHNOLOGIACH RADIACYJNYCH. ZASTOSOWANIE TECHNOLOGII RADIACYJNYCH DO MODYFIKACJI PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH – INFORMACJE PODSTAWOWE
Sylwester Bułka
nr katalogowy: 144096
10.15199/13.2023.7.4
półprzewodnik
defekty sieci
efekt radiacyjny
modyfikacja struktury
semiconductor
lattice deffects
radiation-induced effect
structure modification
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2023-7
PRZEMYSŁOWE AKCELERATORY ELEKTRONÓW I ICH ZASTOSOWANIA W TECHNOLOGIACH RADIACYJNYCH. ZASTOSOWANIE TECHNOLOGII RADIACYJNYCH DO MODYFIKACJI PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH – INFORMACJE PODSTAWOWE
Sylwester Bułka
nr katalogowy: 144096
10.15199/13.2023.7.4
półprzewodnik
defekty sieci
efekt radiacyjny
modyfikacja struktury
semiconductor
lattice deffects
radiation-induced effect
structure modification
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-6
Surface morphology and optical properties of polymer thin films
JAN Weszka
Magdalena Szindler
Maria Bruma
nr katalogowy: 68613
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Zastosowanie algorytmu genetycznego w procesie estymacji parametrów modeli przyrządów półprzewodnikowych
Damian Bisewski
nr katalogowy: 139281
10.15199/48.2022.09.21
algorytm genetyczny
optymalizacja
modelowanie
MOSFET.
genetic algorithm
optimalization
modelling
MOSFET
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Zastosowanie algorytmu genetycznego w procesie estymacji parametrów modeli przyrządów półprzewodnikowych
Damian Bisewski
nr katalogowy: 139281
10.15199/48.2022.09.21
algorytm genetyczny
optymalizacja
modelowanie
MOSFET.
genetic algorithm
optimalization
modelling
MOSFET
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Zastosowanie algorytmu genetycznego w procesie estymacji parametrów modeli przyrządów półprzewodnikowych
Damian Bisewski
nr katalogowy: 139281
10.15199/48.2022.09.21
algorytm genetyczny
optymalizacja
modelowanie
MOSFET.
genetic algorithm
optimalization
modelling
MOSFET
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-2
Modeling of InAs/Si Electron-Hole Bilayer Tunnel Field Effect Transistor
Piotr WIŚNIEWSKI
Bogdan MAJKUSIAK
nr katalogowy: 136090
10.15199/48.2022.02.30
modelowanie numeryczne
tunelowanie
TFET
przyrządy półprzewodnikowe.
numerical modeling
tunneling
TFET
semiconductor devices.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-2
Modeling of InAs/Si Electron-Hole Bilayer Tunnel Field Effect Transistor
Piotr WIŚNIEWSKI
Bogdan MAJKUSIAK
nr katalogowy: 136090
10.15199/48.2022.02.30
modelowanie numeryczne
tunelowanie
TFET
przyrządy półprzewodnikowe.
numerical modeling
tunneling
TFET
semiconductor devices.
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2022-11
POŁĄCZONE ODDZIAŁY ELECTRON DEVICES ORAZ ELECTRONIC PACKAGING POLSKIEJ SEKCJI IEEE
Krzysztof Górecki
Kalina Detka
Mariusz Orlikowski
nr katalogowy: 140731
10.15199/13.2022.11.6
Polska Sekcja IEEE
przyrządy półprzewodnikowe
montaż elektroniczny
IEEE Poland Section
semiconductor devices
electronics packaging
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2022-11
POŁĄCZONE ODDZIAŁY ELECTRON DEVICES ORAZ ELECTRONIC PACKAGING POLSKIEJ SEKCJI IEEE
Krzysztof Górecki
Kalina Detka
Mariusz Orlikowski
nr katalogowy: 140731
10.15199/13.2022.11.6
Polska Sekcja IEEE
przyrządy półprzewodnikowe
montaż elektroniczny
IEEE Poland Section
semiconductor devices
electronics packaging
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2018-3
Comparative analysis of DC-DC inverters as a means of protection against nanoseconds impulses
Konrad SOBOLEWSKI
Michał WOJCIECHOWSKI
nr katalogowy: 112471
10.15199/48.2018.03.27
dc-dc inverter
NEMP impulses
nanoseconds pulses
numerical simulations.
przetwornice DC-DC
impulsy NEMP
impulsy nanosekundowe
symulacje numeryczne.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2018-8
Projekt azotkowego lasera VCSEL z bezpośrednim wstrzykiwaniem prądu do obszaru czynnego
Robert SARZAŁA
Tomasz CZYSZANOWSKI
nr katalogowy: 115204
10.15199/48.2018.08.01
lasery półprzewodnikowe
modelowanie
laser VCSEL
GaN
HCG
semiconductor lasers
numerical simulation
VCSEL
GaN
HCG
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA 2017-18
Historia rozwoju przyrządów półprzewodnikowych w Polsce stosowanych w praktyce (cz. I)
Jerzy KLAMKA
nr katalogowy: 108810
diody półprzewodnikowe
przyrządy półprzewodnikowe
przyrządy mikrofalowe
diody prostownicze
dioda Zanera
fotodioda
waraktor
dioda lawinowa
dioda Schottky’
ego
dioda Gunna
tranzystor
semiconductor diodes
semi-conductor devices
microwave devices
rectifying diodes
Zener diode
photodiode
varactor
avalanche diode
Schottky diode
Gunna diode
transistor.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2020-2
Measurements of transient thermal impedance of SiC BJT
Joanna SZELĄGOWSKA
Damian BISEWSKI
Janusz ZARĘBSKI
nr katalogowy: 124715
10.15199/48.2020.02.42
BJT
transient thermal impedance
thermal resistance
silicon carbide.
przejściowa impedancja termiczna
rezystancja termiczna
tranzystor bipolarny
węglik krzemu.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2019-10
Przegląd metod czyszczenia powierzchni podłoży SiC
Agnieszka MARTYCHOWIEC
Norbert KWIETNIEWSKI
Mariusz SOCHACKI
nr katalogowy: 122738
10.15199/48.2019.10.35
węglik krzemu
SiC
przygotowanie powierzchni SiC
technologia półprzewodnikowa.
silicon carbide
SiC
SiC surface preparation
semiconductor technology.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2019-10
Pogrubiania elektrochemiczne złotem cienkich warstw metalicznych
Wojciech MACHERZYŃSKI
Piotr BUBA
Piotr POKRYSZKA
Grzegorz ILGIEWICZ
Regina PASZKIEWICZ
nr katalogowy: 122736
10.15199/48.2019.10.33
pogrubianie elektrochemiczne
przyrządy półprzewodnikowe
złącza omowe
złącza prostujące.
electrochemical thickening
semiconductor devices
ohmic contacts
Schottky contacts.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2019-9
Wpływ niedokładności wykonania wybranych elementów azotkowego lasera VCSEL na jego charakterystyki emisyjne
Robert P. SARZAŁA
Patrycja ŚPIEWAK
nr katalogowy: 122083
10.15199/48.2019.09.26
laser półprzewodnikowy
GaN
laser VCSEL
modelowanie.
semiconductor laser
GaN
VCSEL
computer modeling.
PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2023-12
Zastosowanie fotokatalizy w syntezie metanolu z metanu
Łukasz Hamryszak
Maria Madej-Lachowska
nr katalogowy: 146554
10.15199/62.2023.12.2
fotokataliza
synteza metanolu
utlenianie metanu
niskie stężenie metanu
konwersja metanu
photocatalysis
methanol synthesis
methane oxidation
low concentration methane
CH4 conversion
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3
LTCC wireless module
LESZEK GOLONKA
ZBIGNIEW IANELLI
HENRYK ROGUSZCZAK
JANUSZ SZTAJER
PIOTR WOJTAS
PRZEMYSŁAW WISZNIOWSKI
DARIUSZ BABECKI
nr katalogowy: 58378
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-2
Układy do pozyskiwania energii elektrycznej małej mocy.
Krzysztof GÓRSKI
Mateusz KOZIEŁ
Jan ZAWADZKI
Karolina ROSIŃSKA
nr katalogowy: 136079
10.15199/48.2022.02.19
termogenerator
ogniwa PV
pole elektromagnetyczne
pozyskiwanie energii z otoczenia.
thermogenrator
PV cell
electromagnetic field
heat
light
energy harvesting systems
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-2
Układy do pozyskiwania energii elektrycznej małej mocy.
Krzysztof GÓRSKI
Mateusz KOZIEŁ
Jan ZAWADZKI
Karolina ROSIŃSKA
nr katalogowy: 136079
10.15199/48.2022.02.19
termogenerator
ogniwa PV
pole elektromagnetyczne
pozyskiwanie energii z otoczenia.
thermogenrator
PV cell
electromagnetic field
heat
light
energy harvesting systems
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-10
Komputerowa analiza zjawisk pojemnościowych w azotkowych laserach VCSEL
Patrycja Śpiewak
Michał Wasiak
Robert P. Sarzała
nr katalogowy: 139778
10.15199/48.2022.10.58
VCSEL
symulacje komputerowe
GaN
lasery półprzewodnikowe.
VCSEL
computer simulations
GaN
semiconductor lasers.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-10
Komputerowa analiza zjawisk pojemnościowych w azotkowych laserach VCSEL
Patrycja Śpiewak
Michał Wasiak
Robert P. Sarzała
nr katalogowy: 139778
10.15199/48.2022.10.58
VCSEL
symulacje komputerowe
GaN
lasery półprzewodnikowe.
VCSEL
computer simulations
GaN
semiconductor lasers.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-8
Początek i rozwój półprzewodnikowych laserów VCSEL
Robert Piotr SARZAŁA
Włodzimierz NAKWASKI
nr katalogowy: 108513
10.15199/48.2017.08.01
laser półprzewodnikowy
VCSEL
GaN
modelowanie
semiconductor laser
VCSEL
GaN
numerical simulation
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-2
Reactive ion etching of 4H-SiC with BCl3 plasma
Bartłomiej STONIO1
2
Norbert KWIETNIEWSKI
Piotr FIREK
Mariusz SOCHACKI
nr katalogowy: 130178
10.15199/48.2021.02.14
węglik krzemu
4H-SiC
trawienie plazmowe
BCl3
RIE
silicon carbide
4H-SiC
plasma etching
BCl3
RIE
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-7
Właściwości hydrofilowe przezroczystych i półprzewodzących cienkich warstw tlenków Ti-V do zastosowań w transparentnej elektronice
Karolina Sieradzka
Jarosław Domaradzki
Bogdan Adamiak
Kosma Baniewicz 
nr katalogowy: 69647
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-7
Physical elementaries of laser radiation sources overall dimensions miniaturization
Ivan S. MANAK
Waldemar WOJCIK
Viktor V. ZUKOWSKI
Maxim S. LEANENIA
nr katalogowy: 53426
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-7
Energooszczędne półprzewodnikowe źródła światła stosowane w technice motoryzacyjnej
Artur BOGUTA
Sławomir OSTROWSKI
Henryk OZIMEK
nr katalogowy: 53414
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Wpływ trybu zasilania magnetronu na właściwości warstw SnSe
Krzysztof Mars
Mateusz Sałęga – Starzecki
Elżbieta Godlewska
nr katalogowy: 139331
10.15199/48.2022.09.71
warstwy SnSe
rozpylanie magnetronowe
materiały termoelektryczne
SnSe layers
magnetron sputtering
thermoelectric materials
ELEKTROINSTALATOR 2022-9
STANDARD 1-WIRE
nr katalogowy: 139253
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Wpływ trybu zasilania magnetronu na właściwości warstw SnSe
Krzysztof Mars
Mateusz Sałęga – Starzecki
Elżbieta Godlewska
nr katalogowy: 139331
10.15199/48.2022.09.71
warstwy SnSe
rozpylanie magnetronowe
materiały termoelektryczne
SnSe layers
magnetron sputtering
thermoelectric materials
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-9
Wpływ trybu zasilania magnetronu na właściwości warstw SnSe
Krzysztof Mars
Mateusz Sałęga – Starzecki
Elżbieta Godlewska
nr katalogowy: 139331
10.15199/48.2022.09.71
warstwy SnSe
rozpylanie magnetronowe
materiały termoelektryczne
SnSe layers
magnetron sputtering
thermoelectric materials
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2018-4
Magnetic field analysis of the Inductive Dynamic Drive
Michał RODAK
Piotr BORKOWSKI
nr katalogowy: 112995
10.15199/48.2018.04.12
Inductive Dynamic Drive
Thomson coil actuator
hybrid circuit breaker
Napęd indukcyjno-dynamiczny
ultraszybki wyłącznik próżniowy
łącznik prądu stałego
kamera szybka
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2020-11
The Integral Parameters of the Mode of a Single-Phase Controlled Compensating Device
Atef Saleh Al-Mashakbeh
nr katalogowy: 128827
10.15199/48.2020.11.13
power controlled compensating device
modulation
energy storage
transistor current operating value
jednofazowy kompensator mocy biernej
pojemnościowy zasobnik energii
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2023-11
Nieliniowe modele termiczne elementów elektronicznych
Krzysztof GÓRECKI
Kalina DETKA
Paweł GÓRECKI
Przemysław PTAK
nr katalogowy: 146224
10.15199/48.2023.11.38
skupiony model termiczny
SPICE
elementy półprzewodnikowe
elementy magnetyczne
samonagrzewanie
wzajemne sprzężenia cieplne
compact thermal model
SPICE
semiconductor devices
magnetic components
self-heating
mutual thermal couplings
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-10
Spis treści / Contents
nr katalogowy: 109859
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-6
Antireflection coating with plasmonic metal nanoparticles for photovoltaic applications
Zbigniew Starowicz
Marek Lipiński
nr katalogowy: 68606
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-6
FPGA implemented temperature controller for mid-IR methane optical detector
Zbigniew St. SOBKOW
Artur RYDOSZ
nr katalogowy: 60091
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-10
Wielowiązkowy układ do obserwacji ugięcia dźwigni macierzy czujników mikromechanicznych
Grzegorz MAŁOZIĘĆ
Teodor GOTSZALK
Konrad NIERADKA
Grzegorz WIELGOSZEWSKI1
Przemysław SULECKI
Jacek RADOJEWSKI
Piotr GRABIEC
Paweł JANUS
nr katalogowy: 55147
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2015-3
Deterioration of cathodoluminescent lamps properties
JERZY KALENIK
MATEUSZ MROCZKOWSKI
PIOTR FIREK
ELŻBIETA CZERWOSZ
JAN SZMIDT
nr katalogowy: 90122
10.15199/13.2015.3.7
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE 2023-2
Okrągłe rocznice urodzin wybitnych elektrotechników: Brunona Abakanowicza (1852-1900), Stanisława Olszewskiego (1852-1898), Juliusza Lilienfelda (1882-1963), Mariana Hoffmanna (1922-2010)
Piotr Rataj
Przemysław Sadłowski
Lidia Serbin-Zuba
Jerzy Hickiewicz
nr katalogowy: 141895
biogramy
Bruno Abakanowicz
Stanisław Olszewski
Juliusz Lilienfeld
Marian Hoffmann
biogrphies
Bruno Abakanowicz
Stanisław Olszewski
Juliusz Lilienfeld
Marian Hoffmann
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE 2023-2
Okrągłe rocznice urodzin wybitnych elektrotechników: Brunona Abakanowicza (1852-1900), Stanisława Olszewskiego (1852-1898), Juliusza Lilienfelda (1882-1963), Mariana Hoffmanna (1922-2010)
Piotr Rataj
Przemysław Sadłowski
Lidia Serbin-Zuba
Jerzy Hickiewicz
nr katalogowy: 141895
biogramy
Bruno Abakanowicz
Stanisław Olszewski
Juliusz Lilienfeld
Marian Hoffmann
biogrphies
Bruno Abakanowicz
Stanisław Olszewski
Juliusz Lilienfeld
Marian Hoffmann
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-12
A design of a computer-based measuring system of a frequency converter drive
Krzysztof OLESIAK
nr katalogowy: 111042
10.15199/48.2017.12.32
induction motor
frequency converter
computer-based measuring system.
silnik indukcyjny
przemiennik częstotliwości
komputerowy układ pomiarowy.
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2017-9
Porównanie metod symulacji właściwości optycznych laserów VCSEL
Marta Więckowska
Maciej Dems
Tomasz Czyszanowski
nr katalogowy: 109649
10.15199/13.2017.9.10
modelowanie urządzeń półprzewodnikowych
lasery półprzewodnikowe
vertical-cavity surface-emitting laser (VCSEL)
modeling of semiconductor devices
semiconductor lasers
vertical-cavity surface-emitting laser (VCSEL)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-1
SiC-Based Magnetic-less DC-DC Converter with Wide Temperature Range Operation
Maciej CHOJOWSKI
Robert STALA
Andrzej MONDZIK
Adam PENCZEK
nr katalogowy: 129831
10.15199/48.2021.01.10
Switched capacitor voltage converter
High temperature power converter
Zero current switching
DC-DC converter
Przełączalne kondensatory
Praca układu w wysokiej temperaturze
przełączanie w zerze prądu
Przekształtnik DC-DC.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-6
Efficiency optimization of totem pole PFC with Gallium Nitride semiconductors
MICHAL ŠÍR
IVAN FEŇO
nr katalogowy: 132280
10.15199/48.2021.06.07
power electronics
GaN
GaN totem pole
GaN efficiency optimization
GaN cooling
GaN on insulated metal substrate IMS.
przekształtnik
azotek galu
warunki chłodzenia
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2023-10
Enhancing the Solar PV Plant Based on Incremental Optimization Algorithm
Ali N. HAMOODI
Safwan A. HAMOODI
Farah I. HAMEEDI
nr katalogowy: 145800
10.15199/48.2023.10.35
PV module
IO
MPPT
Boost converter
zasilanie fotowoltaiczne
optymalizacja
algorytm przyrostowy
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-7
Rola, wymagania i technologia złącza tunelowego dla wielozłączowego ogniwa słonecznego
Wojciech Dawidowski
Beata Ściana
Iwona Zborowska -Lindert
Damian Pucicki
Damian Radziewicz
Katarzyna Bielak
Mikołaj Badura
Marek Tłaczała
nr katalogowy: 77845
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE 2013-5
Properties of polymer composites reinforced with carbon nanotubes
Patrycja ZYGOŃ
Monika GWOŹDZIK
Jerzy PESZKE
Zygmunt NITKIEWICZ
Cezary KOLAN
nr katalogowy: 76914
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-12
Direct torque control of an induction motor using the fuzzy controller
Krzysztof OLESIAK
nr katalogowy: 95282
10.15199/48.2015.12.46
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2018-9
Deposition methods of TiO2 on the glass and characterisation of conductive layer in DSSC
JUSTYNA DZIEDZIC
PAWEŁ KWAŚNICKI
LUDMIŁA MARSZAŁEK
nr katalogowy: 116278
10.15199/13.2018.9.2
TiO2
DSSC
screen printing
doctor blade
nanotechnology
photovoltaics
TiO2
DSSC
sitodruk
doctor blade
nanotechnologia
fotowoltaika
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2018-4
Impedance matching of the inverter for induction heating
Witold KOBOS
nr katalogowy: 113001
10.15199/48.2018.04.18
induction heating
inverter
impedance matching.
nagrzewanie indukcyjne
falownik
dopasowanie impedancyjne
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-8
Innowacyjne konstrukcje laserów z pionową wnęką rezonansową
Anna WÓJCIK-JEDLIŃSKA
Artur BRODA
Jan MUSZALSKI
Anna SZERLING
Maciej BUGAJSKI
Marcin GĘBSKI
Tomasz CZYSZANOWSKI
nr katalogowy: 108534
10.15199/48.2017.08.22
laser półprzewodnikowy
monolityczny laser o emisji powierzchniowej
VECSEL
VCSEL
podfalowe siatki dyfrakcyjne
HCG
semiconductor laser
monolithic surface-emitting laser
VECSEL
VCSEL
subwavelength high-contrast grating
HCG
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-12
Embedded system for supply voltage converter of organic lightemitting diode with extended functionality
Gryhoriy Barylo
Oksana Boyko
Ihor Helzhynskyy
Roman Holyaka
Mykola Khilchuk
Tetyana Marusenkova
nr katalogowy: 134756
10.15199/48.2021.12.11
Embedded System
Supply voltage converter
OLED driver
System wbudowany
konwerter napięcia zasilania
sterownik OLED.
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2023-10
Optical characteristics of cavity structures with Al0.2Ga0.8As/Al0.9Ga0.1As distributed Bragg reflectors and In0.37Ga0.63As quantum dots as the active region
Bartosz KAMIŃSKI
Agata ZIELIŃSKA
Anna MUSIAŁ
Ching-Wen SHIH
Imad LIMAME
Sven RODT
Stephan REITZENSTEIN
Grzegorz SĘK
nr katalogowy: 145827
10.15199/48.2023.10.62
distributed Bragg reflector
quantum dot
optical cavity
semiconductor laser
near infrared spectral range
zwierciadło Bragga
kropka kwantowa
wnęka optyczna
lasery półprzewodnikowe
bliska podczerwień
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2024-7
PORÓWNANIE CHARAKTERYSTYK PRZETWORNICY SEPIC ZAWIERAJĄCEJ TRANZYSTORY MOSFET WYKONANE Z KRZEMU I WĘGLIKA KRZEMU
Michał Downar-Zapolski
nr katalogowy: 149636
10.15199/13.2024.7.8
węglik krzemu (SIC)
krzem (SI)
prze twornica dc-dc
SEPIC
tranzystor (SiC)
carborundum (SIC)
dc-dc converters
SEPIC
transistor (SiC)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-2
Dwuwzbudnikowa nagrzewnica indukcyjna do krystalizacji metodą PVT - koncepcja i symulacja
Marcin WESOŁOWSKI
Ryszard NIEDBAŁA
nr katalogowy: 82684
10.12915/pe.2014.02.10
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-10a
Influence of Supply Voltage Quality on Harmonics Generated by AC Adjustable Speed Drives
Stanislav KOCMAN
Petr ORSÁG
Pavel SVOBODA
nr katalogowy: 71326
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-6
The mathematical model of inverter
Vasyl TCHABAN
Dmytro PELESHKO
nr katalogowy: 68813
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-6
Modelowanie falownika napięcia z quasi-rezonansowym obwodem pośredniczącym
Marek TURZYŃSKI
Piotr J. CHRZAN
Piotr MUSZNICKI
nr katalogowy: 68809
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-2
Właściwości cienkowarstwowych, przezroczystych półprzewodników o zadanym typie przewodnictwa elektrycznego do zastosowań w transparentnej elektronice
Karolina Sieradzka
Michał Mazur
Jarosław Domaradzki
Danuta Kaczmarek
Eugeniusz L. Prociów
Tadeusz Berlicki
nr katalogowy: 66142
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-10
Termografia aktywna w trybie pobudzenia optycznego i konwekcyjnego
Zbigniew SUSZYŃSKI
Mateusz KOSIKOWSKI
nr katalogowy: 63387
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-9
STRESZCZENIA ARTYKUŁÓW
nr katalogowy: 62656
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-9a
Badania półprzewodnikowych detektorów promieniowania optycznego
Joanna ĆWIRKO
Robert ĆWIRKO
nr katalogowy: 62334
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-9
Badania długoczasowe detektorów UV
Joanna ĆWIRKO
Robert ĆWIRKO
nr katalogowy: 79548
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-4
Kierunki rozwoju sprzężonych fazowo matryc krawędziowych diod laserowych
Grzegorz SOBCZAK
nr katalogowy: 76300
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-10
Fizyczne aspekty niezawodności w modelowaniu zintegrowanych mikrosystemów
Tomasz BIENIEK
Grzegorz JANCZYK
Piotr GRABIEC
Jerzy SZYNKA
nr katalogowy: 55125
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-9
Glinian litu - nowy detektor dozymetryczny
Ewa MANDOWSKA
Arkadiusz MANDOWSKI
Paweł BILSKI
Barbara MARCZEWSKA
Anna TWARDAK
Wojciech GIESZCZYK
nr katalogowy: 93255
10.15199/48.2015.09.31
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2015-2-3
Półprzewodnikowe wzmacniacze optyczne w telekomunikacyjnych systemach transmisyjnych
Jarosław Turkiewicz
nr katalogowy: 89719
10.15199/59.2015.2-3.2
Czasopisma
ATEST - OCHRONA PRACY
AURA
AUTO MOTO SERWIS
CHEMIK
CHŁODNICTWO
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
DOZÓR TECHNICZNY
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
GAZETA CUKROWNICZA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA WODNA
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MATERIAŁY BUDOWLANE
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
ODZIEŻ
OPAKOWANIE
PACKAGING REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
PROBLEMY JAKOŚCI
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
SZKŁO I CERAMIKA
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH
