Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2017 - zeszyt 11

Wpływ długoterminowych wymuszeń optycznych na charakterystyki widmowe detektorów UV

Long-term optical exposure of semiconductor UV detectors.

10.15199/48.2017.11.21

nr katalogowy: 110391
10.15199/48.2017.11.21

Streszczenie

Detektory UV są używane w pracach badawczych, przemyśle i aplikacjach wojskowych. W pracy przedstawiono wyniki eksperymentalnych badań półprzewodnikowych detektorów UV. Omówiono zrealizowane stanowisko badawcze umożliwiające poddawanie detektorów długoczasowym wymuszeniom optycznym oraz system pomiarowy do rejestracji charakterystyk widmowych.

Abstract

Abstract. UV detectors are used in research, industry, and military applications. The paper presents the results of experimental investigations semiconductor UV detectors. The research stand to allow long-term optical exposure on detectors has been described and the measurement system. for recording spectral characteristics.

Słowa kluczowe

Keywords

Bibliografia

[1] Fraden J., Handbook of Modern Sensors: Physics, Design and Applications, Springer, Berlin Heidelberg, New York 2003
[2] Bielecki Z., Rogalski A., Detekcja sygnałów optycznych, Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa 2001
[3] Rieke G. H. Detection of Light:From the Ultraviolet to Submillimeter. Cambrigde University Press, 2003
[4] Rogalski A., Advanced Technologies in Development of Optical Detectors, Elektronika 12/2004, 5136, 12-19
[5] Ziętek B., Optoelektronika, Wydawnictwo Uniwersytetu Mikołaja Kopernika, Toruń 2005
[6] Szweda R., GaN and SiC detectors for radiation medicine. The Advanced Semiconductor Magazine, vol. 18, no 7, September/October 2005, .40-41
[7] Ściana B., Zborowska-Lindert I., Pucicki D. i inni Technology and characterisation of GaAsN/GaAs heterostructures for photodetector application. Optoelectronics Rev., March 2008,Volume 16. 1-7
[8] Yan F., Zhao J. H., Olsen H.G., Demonstration of the first 4HSiC avalanche photodiodes. Solid-State Electronics 44 (2000), 341 - 346
[9] Liu H-D. i in. Demonstration of Ultraviolet 6H-SiC PIN Avalanche Photodiodes. IEEE Photonics Technology Letters, vol. 18. No. 23,, pp. 2508-2510, Dec. 1, 2006
[10] Ueda Y., Akita S., Nomura Y., Nakayama Y., Naito H.: Study of high temperature photocurrent of 6H-SiC UV sensors. Thin Solid Films 517 (2008), 1471-1473
[11] Razeghi M.,Chen G. i nni. Type-II InAs/GaSb photodiodes and focal plane arrays aimed at high operating temperatures Optoelectronics Rev., September 2011, Volume 19, 361-369
[12] Li M., Anderson W. A., Si-based metal-semiconductor-metal photodetectors with various modifications. Solid-State Electronics 51 (2007), 94 - 101

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 110391 "Wpływ długoterminowych wy..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2017-11 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2017-11

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma