Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2021 - zeszyt 10

Porównanie skuteczności algorytmów regresji nieliniowej w procesie identyfikacji centrów defektowych półizolujących materiałów półprzewodnikowych

nr katalogowy: 133569

Streszczenie

W artykule zostały przedstawione testy algorytmów regresji nieliniowej w zastosowaniu do identyfikacji parametrów centrów defektowych, z zasymulowanych relaksacyjnych przebiegów fotoprądu. Wyniki otrzymane w trakcie eksperymentu są podstawą do wykorzystania algorytmów regresji nieliniowej w procesie identyfikacji centrów defektowych .

Abstract

The article presents tests of nonlinear regression algorithms used to identify the parameters of defect centers from simulated photocurrent relaxation signal. The results of the experiment are the basis for the use of non-linear regression algorithms in the process of identifying defect centers. (Comparison of the effectiveness of nonlinear regression algorithms in the process of identifying defect centers in semiinsulating semiconductor materials.).

Słowa kluczowe

Keywords

Bibliografia

[1] Piwowarski, K., Suproniuk, M., Kamiński, P., Perka, B., Kozłowski, R., Teodorczyk, M., Influence of photon energy on conductivity of photoconductive semiconductor switches fabricated from semi-insulating GaP. Proceedings of SPIE, 11442(114420M), DOI: 10.1117/12.2565269, 2020
[2] M. Pawłowski, Obrazowanie struktury defektowej materiałów półizolujących z wykorzystaniem niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej, Wojskowa Akademia Techniczna, Warszawa, 2007
[3] Kozłowski R.: Wyznacznie czasu życia nośników ładunku i poziomów rekombinacyjnych w materiałach wysokorezystywnych poprzez pomiar temperaturowej zależności fotoprądu, Mater. Elektron., 1-2, 28, (2000), 5-17
[4] M. Suproniuk, W. Kaczmarek, M. Pawłowski: A new approach to determinate the spectral images for defect centres in highresistive semiconductor materials, Proceedings of the 23rd International Conference ELECTRONICS 2019, 2019.
[5] P. Kamiński, R. Kozłowski , J. Żelazko: Characterization of radiation defect centres in neutron irradiated Si using inverse Laplace transformation to analysis of photocurrent relaxation waveforms, Official Proceedings of Microtherm 2011, 64-69, Technical University of Lodz, Department of Semiconductor and Optoelectronics Devices.
[6] M. Pawłowski, M. Suproniuk: Błąd adekwatności modelu obrazowania struktury defektowej półprzewodników wysokorezystywnych badanej metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej, Przegląd Elektrotechniczny, vol. 87, ss. 230 – 235, 2011.
[7] M. Suproniuk P. Kaminski, R. Kozlowski, M. Teodorczyk, A. Mirowska, E. Majda-Zdancewicz, M. Wierzbowski, K. Piwowarski, P. Paziewski Semi-insulating GaP as a material for manufacturing photoconductive semiconductor switches. Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering, (2019).
[8] Kelley, C.T.: Iterative Methods for Linear and Nonlinear Equations. Frontiers in Applied Mathematics, vol. 16. SIAM, Philadelphia (1995)
[9] Moré, J.J.: The Levenberg-Marquardt algorithm: implementation and theory. In: Watson, G.A. (ed.) Numerical Analysis. Lecture Notes in Mathematics, vol. 630, pp. 105–116. Springer, Berlin (1978)
[10] Bellavia, S., Macconi, M., Pieraccini, S.: On affine scaling inexact dogleg methods for bound-constrained nonlinear systems. Tech. Rep. 5/2009 (2009)
[11] Conn, A., Gould, N., Toint, Ph.: Trust Region Method, SIAM, Philadelphia (2000)
[12] R. Johansson, Matematyczny Python : obliczenia naukowe i analiza danych z użyciem NumPy, SciPy i Matplotlib, Helion, Gliwice 2021.
[13] W. McKinney, Python w analizie danych : przetwarzanie danych za pomocą pakietów Pandas i NumPy oraz środowiska IPython, Helion, Gliwice 2018

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY- e-publikacja (pdf) z zeszytu 2021-10 , nr katalogowy 133569 licencja: Osobista Produkt cyfrowy Nowość	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY- e-zeszyt (pdf) 2021-10 licencja: Osobista Produkt cyfrowy Nowość	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2021-10

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma