Twój Koszyk

Investigation of crystalline structure defects in high-resistance monocrystals of gallium selenide

nr katalogowy: 53409

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2007-3-4

Deformation and recrystallization behaviour of Al-1wt.%Mn alloy single crystals with unstable initial orientations

nr katalogowy: 27494

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2010-3

A note on the kink bands in compressed Ni2MnGa single crystals

nr katalogowy: 52664

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2023-9

PRZEMYSŁOWE AKCELERATORY ELEKTRONÓW I ICH ZASTOSOWANIA W TECHNOLOGIACH RADIACYJNYCH ZASTOSOWANIE TECHNOLOGII RADIACYJNYCH DO MODYFIKACJI PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH – WDROŻENIA PRZEMYSŁOWE

Sylwester Bułka

nr katalogowy: 145197

10.15199/13.2023.9.4

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-12

Paths of the heat flow from semiconductor devices to the surrounding (Drogi przepływu ciepła wydzielanego w elementach półprzewodnikowych do otoczenia)

nr katalogowy: 73351

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-2

Dwuwzbudnikowa nagrzewnica indukcyjna do krystalizacji metodą PVT - koncepcja i symulacja

nr katalogowy: 82684

10.12915/pe.2014.02.10

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-9

Lasery półprzewodnikowe

nr katalogowy: 93262

10.15199/48.2015.09.38

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-6

Low-ohmic contacts on the basis of silver nanopowder dedicated to photovoltaic cells

nr katalogowy: 68598

RUDY I METALE NIEŻELAZNE 2011-11

EFEKT TRANSFORMACJI DOMINUJĄCEGO SYSTEMU POŚLIZGU W ROZCIĄGANYCH MONOKRYSZTAŁACH Cu-1,14%at.Al

nr katalogowy: 64022

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-1b

A Modular Simulation System for Semiconductor Manufacturing Scheduling

nr katalogowy: 65395

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2010-3

Properties of WE-43 magnesium alloy in high-temperature brittle range

Janusz Adamiec

nr katalogowy: 52740

PRZEGLĄD PAPIERNICZY 2019-8

Kryształy fotoniczne nadzieją na nowy, a zarazem przyjazny środowisku materiał do licznych i przyszłościowych zastosowań w papiernictwie i poligrafii

nr katalogowy: 121928

10.15199/54.2019.8.1

Topography and water wettability of HWVD produced (Pb,Sn)S2 thin films for solar cells

nr katalogowy: 53383

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-6

Research achievements of the DSOD Lodz in the field of photovoltaics

nr katalogowy: 68618

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-12

Start-up of SSTC semiconductor tesla coil - an example of an educational project

nr katalogowy: 95278

10.15199/48.2015.12.42

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2007-12

Technika próżni i technologie próżniowe - Biuletyn Polskiego towarzystwa próżniowego nr 1-2

nr katalogowy: 32125

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2010-3

Low temperature deformation twinning in channel-die compressed aluminium single crystals evidenced by Acoustic Emission

nr katalogowy: 52729

RUDY I METALE NIEŻELAZNE 2011-11

MECHANIZM TWORZENIA SIĘ PASM UGIĘCIA W MONOKRYSZTAŁACH Ni2MnGa

nr katalogowy: 64016

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-9

Półprzewodnikowe lasery dyskowe  korzyści z inżynierii przerwy wzbronionej

nr katalogowy: 93261

10.15199/48.2015.09.37

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-6

Application of semiconductor sensors for quality control of food products

nr katalogowy: 35629

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2014-9

Effect of iron ions on struvite reaction crystallization from solutions containing phosphate(V) ions Wpływ jonów żelaza na krystalizację struwitu z roztworów zawierających jony fosforanowe(V)

nr katalogowy: 86571

10.12916/przemchem.2014.1594

RUDY I METALE NIEŻELAZNE 2011-11

BADANIA MECHANICZNE ZBLIŹNIACZONYCH MONOKRYSZTAŁÓW Cu-8%at. Al W PRÓBACH ROZCIĄGANIA I ŚCISKANIA

nr katalogowy: 64002

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-6

The field stabilization of optic-active medium of harmful substances sensors

nr katalogowy: 52296

Charakteryzacja wielokanałowego transportu nośników ładunku dla epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych

nr katalogowy: 139313

10.15199/48.2022.09.53

Charakteryzacja wielokanałowego transportu nośników ładunku dla epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych

nr katalogowy: 139313

10.15199/48.2022.09.53

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-6

Formation of thin polyaniline films by means of ionic sputtering in crossed electromagnetic field

nr katalogowy: 35664

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-10

Wybrane aspekty projektowania przełączników fotokonduktancyjnych

nr katalogowy: 109841

10.15199/48.2017.10.24

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-3

Model źródła przewodzonych zaburzeń elektromagnetycznych – weryfikacja, zastosowanie

Piotr RUSZEL

nr katalogowy: 50470

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2009-11

Estymacja parametrów niezawodnościowych półprzewodnikowych źródeł światła

Ryszard KOPKA

nr katalogowy: 48198

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-11a

Wpływ zastosowania elementów półprzewodnikowych z węglika krzemu na charakterystyki przetwornicy buck

nr katalogowy: 55737

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2016-5

Wyznaczanie parametrów cieplnych przyrządów półprzewodnikowych dużej mocy metodą eksperymentalną

nr katalogowy: 98210

10.15199/48.2016.05.46

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2012-5

Krystalizatory o działaniu ciągłym ze strumienicą zasilaną roztworem macierzystym w procesie wydzielania struwitu

nr katalogowy: 68180

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2016-9

Precipitation of calcium carbonate from waste distillation residue and sodium bicarbonate solution in presence of disodium versenate Strącanie węglanu wapnia z płynu podestylacyjnego i roztworu wodorowęglanu sodu z metody Solvaya w obecności wersenianu disodu

nr katalogowy: 100764

10.15199/62.2016.9.9

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2015-9

Effect of zinc ions on quality of struvite Jakość struwitu wydzielanego w obecności jonów cynku

nr katalogowy: 93600

10.15199/62.2015.9.38

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3

IGBT static model based on diffusion equation implemented in SPICE source code

nr katalogowy: 58384

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2019-11

Concept of a measuring system for diagnostics of photoconductive semiconductor switches parameters

nr katalogowy: 123243

10.15199/48.2019.11.31

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2017-2

Połączenie USB-C - HDMI bez elementów pośredniczących

nr katalogowy: 104242

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2004-7

Międzynarodowe Sympozjum ISPSD'03

nr katalogowy: 1081

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2006-6

KSIĄŻKI

nr katalogowy: 16381

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-1

Międzynarodowe Sympozjum ISPSD'04

S. Januszewski

nr katalogowy: 8977

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-1

Międzynarodowe Sympozjum ISPSD'04

S. Januszewski

nr katalogowy: 8977

Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra

nr katalogowy: 100511

10.15199/48.2016.09.23

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2016-11

Effect of aluminum ions on struvite reaction crystallization from wastewaters from phosphorus fertilizer industry Wpływ jonów glinu na krystalizację struwitu ze ścieków z przemysłu nawozów fosforowych

nr katalogowy: 102405

10.15199/62.2016.11.25

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2007-12

Peltier modules array on common alumina substrate for the blind - thermal and electrical tests

nr katalogowy: 32107

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2007-3-4

Transport properties in calcium-doped cobalt oxide

nr katalogowy: 27468

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2008-3

Processes of cubic boron nitride crystallization in B-N-Mg-O system

nr katalogowy: 33616

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-6

Modeling of the light scattering process in a planar waveguide with liquid crystal core

nr katalogowy: 35658

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-1

IV International Workshop on Semiconductor Gas Sensors - SGS'2004

nr katalogowy: 8976

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2005-1

IV International Workshop on Semiconductor Gas Sensors - SGS'2004

nr katalogowy: 8976

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2007-3-4

A reversibly switchable wetting-dewetting system controlled by redox reaction of the regioregular 3-octylthiophene solid film at the electrode surface

nr katalogowy: 27456

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2008-6

Influence of heat treatment on the phase composition of Al-Si coat on X2CrTi12 high chromium steel

nr katalogowy: 40526

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2006-12

V international Workshop on semiconductor Gas sensors sGs 2006

Jacek Szuber

nr katalogowy: 22682

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3

Characterisation of a heterojunction structure based on Au doped WO3 and SnO2

nr katalogowy: 58379

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-4

Korekcja nieliniowości charakterystyk rezystancyjnych czujników gazów

Henryk URZĘDNICZOK

nr katalogowy: 76338

Lasery półprzewodnikowe pompowane promieniowaniem słonecznym

Włodzimierz NAKWASKI

nr katalogowy: 100525

10.15199/48.2016.09.37

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-11

Simulation of magnetically controlled elements for optoelectronic systems on the basis of liquid crystals

nr katalogowy: 72737

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-8

Wytwarzanie nanoigieł z krzemku palladu

nr katalogowy: 70164

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-4b

Pomiary termiczne dla weryfikacji wartości strat łączeniowych w półprzewodnikowych przyrządach mocy

nr katalogowy: 67712

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-9a

Nowa metoda detekcji kondensatu w higrometrze punktu rosy ze zintegrowanym detektorem półprzewodnikowym

nr katalogowy: 62309

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-10

Wyznaczanie temperatury struktury przyrządu półprzewodnikowego w warunkach przeciążeń i zwarć

nr katalogowy: 80169

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-3

Nanoimprint Lithography - a next generation high volume lithography technique for the transition of MEMS technology to nanofabrication

nr katalogowy: 75384

Wpływ postaci modelu termicznego na dokładność obliczania charakterystyk statycznych modułu IGBT

nr katalogowy: 139295

10.15199/48.2022.09.35

Wpływ postaci modelu termicznego na dokładność obliczania charakterystyk statycznych modułu IGBT

nr katalogowy: 139295

10.15199/48.2022.09.35

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2009-12

Propagacja fal akustycznych w kryształach piezoelektrycznych

nr katalogowy: 48783

RUDY I METALE NIEŻELAZNE 2014-11

WPŁYW INTENSYWNOŚCI ODPROWADZANIA CIEPŁA NA WŁAŚCIWOŚCI MECHANICZNE I STRUKTURĘ STOPU AlSi17Cu5

nr katalogowy: 87795

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-9b

Stiffness analysis of electromechanical transducer for nozzle flapper piezoelectric servo valve

nr katalogowy: 70710

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2011-5

Składniki nawozowe w strumieniu osadów ściekowych po fermentacji metanowej

nr katalogowy: 59858

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2021-12

WPROWADZENIE DO GreenPAK (CZĘŚĆ I)

nr katalogowy: 135140

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3

Thermal stability of SiC MOS transistors

WITOLD J. STEPOWICZ

nr katalogowy: 58376

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-8

Technology development of organic photosensitive structures and study of their electrophysical properties

nr katalogowy: 53921

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-10

Evolution of IC Switching Voltage Regulator

nr katalogowy: 94021

10.15199/48.2015.10.31

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2024-5

CO PISZĄ INNI?

Agnieszka Sobczak-Kupiec

nr katalogowy: 151200

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2024-5

Fully spectrum-sliced four-wave mixing wavelength conversion in a Semiconductor Optical Amplifier

nr katalogowy: 148625

10.15199/48.2024.05.40

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2007-3

Wyładowania elektrostatyczne w układach scalonych: modele ESD i powodowane zniszczenia

nr katalogowy: 24688

RUDY I METALE NIEŻELAZNE 2014-6

WPŁYW STOPNIA PRZEGRZANIA NA PARAMETRY STEREOLOGICZNE PIERWOTNYCH KRYSZTAŁÓW KRZEMU W STOPIE AlSi17Cu5

nr katalogowy: 85091

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2012-5

Ciągła krystalizacja struwitu w warunkach stechiometrycznych

nr katalogowy: 68165

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2011-8

Wpływ warunków strącania na właściwości CaCO3 otrzymanego z płynu podestylacyjnego i ługu pofiltracyjnego z metody Solvaya w temperaturze 313 K

nr katalogowy: 61528

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-6

Recovery voltage in ZnO ceramics

nr katalogowy: 60088

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2013-5

Continuous reactive crystallization of struvite from a solution containing phosphate(V) and potassium ions. Ciągła krystalizacja strąceniowa struwitu z roztworu zawierającego jony fosforanowe(V) i jony potasu

nr katalogowy: 76885

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2011-1

Wpływ Rosulfanu L i Sulforokanolu L225/1 na właściwości strącanego węglanu wapnia

nr katalogowy: 57078

PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA 2017-19-20

Historia rozwoju przyrządów półprzewodnikowych w Polsce stosowanych w praktyce (cz. II)

Jerzy KLAMKA

nr katalogowy: 109237

PRZEGLĄD GEODEZYJNY 2021-4

CMOS versus CCD. Zmiany technologiczne we współczesnych kamerach fotogrametrycznych

Krzysztof Konieczny

nr katalogowy: 131174

PRZEGLĄD GEODEZYJNY 2021-4

CMOS versus CCD. Zmiany technologiczne we współczesnych kamerach fotogrametrycznych

Krzysztof Konieczny

nr katalogowy: 131174

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-7a

Impedance of reverse biased diodes irradiated with krypton ions with energy of 250 MeV

nr katalogowy: 69261

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-11

Nonlinear compact thermal model of SiC power semiconductor devices

nr katalogowy: 55990

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2008-11

Use of EM fields in production processes for PV cells

Bernard NACKE

nr katalogowy: 39580

Parallel operation of MOSFET and IGBT transistors in resonant mode converter

nr katalogowy: 53442

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009-1

Applicability of microwave plasma CVD and electrochemical process for deposition of diamond-related thin films

nr katalogowy: 40894

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2014-2

Effect of point defects in a two-dimensional phononic crystal on the reemission of acoustic wave

nr katalogowy: 84287

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2011-5

Wpływ jonów fluorkowych i fluorokrzemianowych na jakość kryształów struwitu w procesie usuwania jonów fosforanowych(V) ze ścieku z przemysłu nawozowego

nr katalogowy: 59866

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-1

MOVPE - present state, future challenges, application in optoelectronic structures

BEATA ŚCIANA

nr katalogowy: 32604

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-1

Wpływ składu materiałowego na przewodnictwo elektryczne cienkich warstw otrzymanych na bazie TiO2

nr katalogowy: 32583

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2007-12

Application of laser-plasma source with gas-puff target for calibration of EUV radiation detectors

nr katalogowy: 32113

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2008-8

Measurements of the temperature-dependent changes of the photometrical and electrical parameters of LEDs

nr katalogowy: 37117

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2019-4

Kinetyka SDG ciągłej krystalizacji strąceniowej struwitu w ściekach i gnojowicy w obecności jonów potasu

nr katalogowy: 119582

10.15199/62.2019.4.26

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-12

Analityczno-numeryczna metoda badania właściwości stanów kwantowych w supersieciach półprzewodnikowych

nr katalogowy: 111045

10.15199/48.2017.12.35

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-11

Wpływ długoterminowych wymuszeń optycznych na charakterystyki widmowe detektorów UV

nr katalogowy: 110391

10.15199/48.2017.11.21

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-6

Multivariate analysis of signals from array of semiconductor gas sensors

nr katalogowy: 35643

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-7

Prezentacja Freescale w Warszawie

nr katalogowy: 61179

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-3

Characterization of mos structures with ultrathin insulator layer by means of a theoretical model

BOGDAN MAJKUSIAK

nr katalogowy: 58380

RUDY I METALE NIEŻELAZNE 2014-7

MIKROSTRUKTURA STOPU AlSi17Cu5 PO PRZEGRZANIU ZNACZNIE POWYŻEJ TEMPERATURY LIKWIDUS

nr katalogowy: 85631

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2021-10

Badania nad otrzymywaniem bezchlorkowych nawozów potasowych

nr katalogowy: 134207

10.15199/62.2021.10.8

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2021-10

Badania nad otrzymywaniem bezchlorkowych nawozów potasowych

nr katalogowy: 134207

10.15199/62.2021.10.8

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2021-10

Badania nad otrzymywaniem bezchlorkowych nawozów potasowych

nr katalogowy: 134207

10.15199/62.2021.10.8

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-2

Influence of the magnetic field on the charge transport in InxGa1-xAs (0 < x < 1) MBE layers

nr katalogowy: 33197

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2008-1

Studies of the feasibility of using global and local optimization methods in MOSFET characterization

nr katalogowy: 32588

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2019-10

Analiza elektrotermiczna obudowy zintegrowanej ze strukturą mikrokanałową dla pastylkowych przyrządów półprzewodnikowych mocy

nr katalogowy: 122737

10.15199/48.2019.10.34

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2020-6

WYBRANE KOMPONENTY UKŁADÓW CHŁODZENIA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

nr katalogowy: 126910

10.15199/13.2020.6.2

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2023-3

Next level epitaxy (NLE) – a novel approach for the mass production of semiconductor layers

nr katalogowy: 144061

10.15199/28.2023.3.2

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2023-3

Next level epitaxy (NLE) – a novel approach for the mass production of semiconductor layers

nr katalogowy: 144061

10.15199/28.2023.3.2

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2023-3

Next level epitaxy (NLE) – a novel approach for the mass production of semiconductor layers

nr katalogowy: 144061

10.15199/28.2023.3.2

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2018-3

Model of PV inverter in H4 and H5 topologies for power loss analysis

Dariusz SOBCZYŃSKI

nr katalogowy: 112475

10.15199/48.2018.03.31

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-2

Wpływ procesów utleniania i wygrzewania w atmosferze zawieraja˛cej fosfor lub azot na jakos´c´ mie˛dzypowierzchni dielektryk/półprzewodnik w strukturze MOS Ti/SiO2/4H-SiC

nr katalogowy: 130187

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-10

Effect of Low Temperature Annealing on Anatase TiO2 Layer as Photoanode for Dye-Sensitized Solar Cell

nr katalogowy: 133550

10.15199/48.2021.10.03

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2024-3

Opportunities of electrical technologies for control of the quality parameters of light sensitive materials

nr katalogowy: 147773

10.15199/48.2024.03.51

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2024-5

DECT FORUM, PÓŁPRZEWODNIKI OSTATNIEJ MILI

nr katalogowy: 148752

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2024-11

dect Forum, półprzewodniki ostatniej mili

nr katalogowy: 151595

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-8

Aparaturowe ograniczenia pomiaru kinetyki pojemności w metodzie DLTS

nr katalogowy: 85967

10.12915/pe.2014.08.049

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-9

Enhancement of immunity on MeV electron radiation of MOS structures by means of fluorine implantation from r.f. plasma

nr katalogowy: 70988

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2016-10

Osadzanie i charakteryzacja cienkich warstw dielektrycznych AlOxNy

nr katalogowy: 101668

10.15199/13.2016.10.15

Programowanie świetlnej odpowiedzi czasowej emitera promieniowania widzialnego

Marian GILEWSKI

nr katalogowy: 100528

10.15199/48.2016.09.40

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009-6

Estymacja parametrówmodelu Danga tranzystora MOS

nr katalogowy: 44781

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-5

Photoelectric semiconductor converters with a large dynamic range

nr katalogowy: 84454

10.12915/pe.2014.05.016

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-11

Moduł czujnikowy do pomiarów ste˛z˙en´ lotnych zwia˛zków

nr katalogowy: 87766

10.12915/pe.2014.11.40

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-11

Węglik krzemu w energoelektronice – nadzieje i ograniczenia

Włodzimierz JANKE

nr katalogowy: 63894

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-10

Pomiary parametrów cieplnych elementów półprzewodnikowych wykonanych z węglika krzemu

nr katalogowy: 63351

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-8

Comparative analysis of selected models of semiconductor superlattices

nr katalogowy: 61627

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-10

Badania falownika napięcia z węglikowo - krzemowymi tranzystorami JFET o charakterystykach mieszanych

nr katalogowy: 80152

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-9

Modelowanie kinetyki fotoprzewodnictwa półizolującego GaAs

nr katalogowy: 79566

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2015-12

Wpływ domieszkowania na właściwości węglika krzemu (SiC) - przegląd

Katarzyna Racka-Szmidt

nr katalogowy: 95862

10.15199/13.2015.12.14

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-10

Wybrane zagadnienia pomiaru fotoprzewodnictwa w aspekcie badania struktury defektowej materiałów półprzewodnikowych

nr katalogowy: 109828

10.15199/48.2017.10.11

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2014-7

Czujnik wodoru do zastosowań w podwyższonej temperaturze i wilgotności

nr katalogowy: 85796

10.15199/ELE-2014-080

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-11b

Semiconductor gas sensors for mobile robot navigation

nr katalogowy: 72332

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-12a

Research on the Mechanism of Pin-to-Pin ESD to SCB Initiators

nr katalogowy: 64256

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-8

Process-oriented suboptimal controller for SiC bulk crystal growth system

Marek Orzyłowski

nr katalogowy: 70156

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-7b

Performance Evaluation of Fabless CMOS Image Sensor Design Houses by Using an Multiple Objective Programming Based Data Envelopment Analysis

nr katalogowy: 69344

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-5b

A Multi-Level Inverter for Ultra High Speed PM Motor Control Application

nr katalogowy: 67820

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-10

Analiza porównawcza strat mocy w trójfazowych falownikach PWM z elementami aktywnymi z węglika krzemu

nr katalogowy: 63369

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-5

A new control method for the three level active neutral point clamped converter for low speed applications

nr katalogowy: 59999

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-4

Determining of the transformer operating modes by means of vibroacoustic signals

nr katalogowy: 76358

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-3a

Optical identification of crystal defects in CCD matrix

Adam POPOWICZ

nr katalogowy: 75059

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2011-1

Trójfazowy falownik quasi-Z do współpracy z baterią ogniw fotowoltaicznych - analiza symulacyjna i projekt

nr katalogowy: 58326

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-3

Układy zasilające stosowane w lampach LED

nr katalogowy: 104325

:10.15199/48.2017.03.39

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2016-8

Calculation of the ultimate efficiency of p-n-junction solar cells taking into account the semiconductor absorption coefficient

nr katalogowy: 99983

10.15199/48.2016.08.23

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-9

Determination of Cu(In,Ga)(S,Se)2-solar cell parameters from quantum efficiency spectra

nr katalogowy: 93273

10.15199/48.2015.09.49

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2015-1

Nanokompozytowe warstwy C-Pd do zastosowania w detekcji wodoru

nr katalogowy: 89167

10.15199/13.2015.1.3

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2023-11

Simulating the Barrier Heights Impact on the Performance of Dissimilar Electrodes Metal-Insulator-Metal Diode

nr katalogowy: 146210

10.15199/48.2023.11.24

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2018-3

Wpływ pH na morfologię kryształów węglanu wapnia strącanego ze strumienia odpadowego z procesu Solvaya

nr katalogowy: 112768

10.15199/62.2018.3.21

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2017-6

Mezoporowate zeolity. Między zeolitami a uporządkowanymi materiałami mezoporowatymi

Karolina Jaroszewska

nr katalogowy: 107084

10.15199/62.2017.6.38

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2010-2

Oszacowanie strat energii w systemie fotowoltaicznym na podstawie symulacji czasu rzeczywistego w układzie FPGA

nr katalogowy: 49975

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2009-5

Urządzenie do oznaczania zawartości zapachowych substancji chemicznych w powietrzu

nr katalogowy: 44479

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2009-4

Silicon carbide JFET - fast, high voltage semiconductor device for power electronics applications

Jacek RĄBKOWSKI

nr katalogowy: 43954

WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE 2009-2

Technologia PoE jako element bezpiecznego zasilania napięciem stałym wybranych urządzeń w sieciach komputerowych

Paweł Piotrowski

nr katalogowy: 41197

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-9a

A New Approach for Optimal Power Quality Monitor Placement in Power System Considering System Topology

nr katalogowy: 70655

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2019-10

Modelowanie wpływu zewnętrznego pola elektromagnetycznego na charakterystyki wybranych elementów elektronicznych

nr katalogowy: 122732

10.15199/48.2019.10.29

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-4

Możliwości zastąpienia wybranych łączników przez półprzewodnikowe łączniki fotokonduktancyjne

nr katalogowy: 131007

10.15199/48.2021.04.15

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-3

A review on echo and phase inverted scanning in acoustic microscopy for failure analysis

nr katalogowy: 130650

10.15199/48.2021.03.02

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2009-4

An FPGA-based sigma-delta audio DAC

nr katalogowy: 44093

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-12

DC measurements method of the thermal resistance of power MOSFETs (Stałoprądowa metoda pomiaru rezystancji termicznej tranzystorów mocy MOS)

nr katalogowy: 73350

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-1

Mechanical and thermal properties of SiC - ceramics substrate interface

nr katalogowy: 65204

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-6

Graphene production for electrical metrology

nr katalogowy: 60598

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2013-9

Influence of low-temperature annealing of AlGaN/GaN heterostructures on adhesion of evaporated Pt-based Schottky contacts

nr katalogowy: 79325

Modeling of the processes of low-dimensional structures formation on semiconductors surface by scanning laser radiation

nr katalogowy: 53390

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2011-2

Influence of series resistance on thermally induced limitations of SiC Schottky diodes

nr katalogowy: 58292

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2010-11

Krummenacher feedback analysis for high-count-rate semiconductor pixel detector readout

ROBERT SZCZYGIEŁ

nr katalogowy: 55991

PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2022-3

Innowacyjny system do lokalizacji zasobów dla poprawy efektywności i bezpieczeństwa w służbie zdrowia

nr katalogowy: 137538

10.15199/59.2021.3.6

PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE 2022-3

Innowacyjny system do lokalizacji zasobów dla poprawy efektywności i bezpieczeństwa w służbie zdrowia

nr katalogowy: 137538

10.15199/59.2021.3.6

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2019-9

Właściwości spektralne i dozymetryczne polikrystalicznego chlorku sodu – naturalnego detektora promieniowania jonizującego

nr katalogowy: 122096

10.15199/48.2019.09.36

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2024-3

Quasi-two-level method as an universal approach for voltage balancing of series-connected SiC MOSFETs

Rafał KOPACZ

nr katalogowy: 147725

10.15199/48.2024.03.03

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2015-12

Modelling of the Magnetoplastic Effect

nr katalogowy: 95270

10.15199/48.2015.12.34

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2022-1

Co piszą inni?

nr katalogowy: 136549

INŻYNIERIA MATERIAŁOWA 2009-5

Investigation for Ti/TiO2 electrode used as a platform for H2O2 biosensing

nr katalogowy: 47803

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-12

Wykorzystanie technologii GLAD do zastosowań w przenośnych analizatorach oddechu

nr katalogowy: 140828

10.15199/48.2022.12.29

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-12

Wykorzystanie technologii GLAD do zastosowań w przenośnych analizatorach oddechu

nr katalogowy: 140828

10.15199/48.2022.12.29

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2021-10

Porównanie skuteczności algorytmów regresji nieliniowej w procesie identyfikacji centrów defektowych półizolujących materiałów półprzewodnikowych

nr katalogowy: 133569

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2023-7

PRZEMYSŁOWE AKCELERATORY ELEKTRONÓW I ICH ZASTOSOWANIA W TECHNOLOGIACH RADIACYJNYCH. ZASTOSOWANIE TECHNOLOGII RADIACYJNYCH DO MODYFIKACJI PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH – INFORMACJE PODSTAWOWE

Sylwester Bułka

nr katalogowy: 144096

10.15199/13.2023.7.4

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2023-7

PRZEMYSŁOWE AKCELERATORY ELEKTRONÓW I ICH ZASTOSOWANIA W TECHNOLOGIACH RADIACYJNYCH. ZASTOSOWANIE TECHNOLOGII RADIACYJNYCH DO MODYFIKACJI PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH – INFORMACJE PODSTAWOWE

Sylwester Bułka

nr katalogowy: 144096

10.15199/13.2023.7.4

RUDY I METALE NIEŻELAZNE 2013-11

ZJAWISKO GIGANTYCZNEGO OVERSHOOT'U W ZBLIŹNIACZONYCH MONOKRYSZTAŁACH Cu-8,5%AT. Al

nr katalogowy: 81014

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2011-5

Wpływ dodatków środków przeciwzbryleniowych na skłonność do zbrylania technicznych soli magnezu

nr katalogowy: 59844

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2012-6

Surface morphology and optical properties of polymer thin films

nr katalogowy: 68613

Zastosowanie algorytmu genetycznego w procesie estymacji parametrów modeli przyrządów półprzewodnikowych

Damian Bisewski

nr katalogowy: 139281

10.15199/48.2022.09.21

Zastosowanie algorytmu genetycznego w procesie estymacji parametrów modeli przyrządów półprzewodnikowych

Damian Bisewski

nr katalogowy: 139281

10.15199/48.2022.09.21

Zastosowanie algorytmu genetycznego w procesie estymacji parametrów modeli przyrządów półprzewodnikowych

Damian Bisewski

nr katalogowy: 139281

10.15199/48.2022.09.21

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-9

Technika elipsometrii spektroskopowej jako metoda monitorowania jakości powierzchni materiałów grupy SrxBa1-xNb2O6

nr katalogowy: 86904

10.12915/pe.2014.09.07

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2012-12a

Crystal stability problem in wireless biomedical devices

Sylwester NOWOCIEŃ

nr katalogowy: 73088

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2013-10

Optycznie stymulowana luminescencja detektorów hybrydowych

nr katalogowy: 80138

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-2

Modeling of InAs/Si Electron-Hole Bilayer Tunnel Field Effect Transistor

nr katalogowy: 136090

10.15199/48.2022.02.30

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2022-2

Modeling of InAs/Si Electron-Hole Bilayer Tunnel Field Effect Transistor

nr katalogowy: 136090

10.15199/48.2022.02.30

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2022-11

POŁĄCZONE ODDZIAŁY ELECTRON DEVICES ORAZ ELECTRONIC PACKAGING POLSKIEJ SEKCJI IEEE

nr katalogowy: 140731

10.15199/13.2022.11.6

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA 2022-11

POŁĄCZONE ODDZIAŁY ELECTRON DEVICES ORAZ ELECTRONIC PACKAGING POLSKIEJ SEKCJI IEEE

nr katalogowy: 140731

10.15199/13.2022.11.6

PRZEMYSŁ CHEMICZNY 2018-2

Związki boru, kobaltu, manganu i molibdenu w procesie odzyskiwania fosforanów ze ścieków z hodowli zwierząt

nr katalogowy: 112296

10.15199/62.2018.2.22

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2017-8

Ab initio molecular dynamics calculations of heat conductivity for silicon related materials

nr katalogowy: 108528

10.15199/48.2017.08.16

SZKŁO I CERAMIKA 2010-2

Wpływ warunków wypalania na wybrane właściwości ekologicznego pigmentu cyrkonowo-żelazowego

CECYLIA DZIUBAK

nr katalogowy: 51092

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY 2014-8

Modelowanie wpływu koncentracji centrów defektowych na rezystywność monokryształów krzemu

nr katalogowy: 85971

10.12915/pe.2014.08.053

Thermal conductivity of silicon: theoretical first principles study

nr katalogowy: 100513

10.15199/48.2016.09.25