Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2016 - zeszyt 8

Compact model for fast analytical evaluation of soft error rate in highly scaled memory circuits in space environment

10.15199/48.2016.08.13

nr katalogowy: 99973
10.15199/48.2016.08.13

It is shown that traditional analytical formula for soft error rate estimation (figure-of-merit) in digital memories in space environment can lead to large uncertainties. An alternative approach, based on another representation of experimental data, has been proposed. Streszczenie. Przedstawiono, że tradycyjna formuła analityczna do szacowania stopnia miękiego błędu (współczynnik jakości) w pamięci cyfrowej w przestrzeni kosmicznej może prowadzić do dużych niepewności. Zaproponowano alternatywne podejście, oparte na innych danych eksperymentalnych. kompaktowy model do szybkiej oceny analitycznej miękkie stopy błędu w bardzo skalowane układów pamięci w przestrzeni kosmicznej. (Kompaktowy model do szybkiej oceny analitycznej stopnia miękkiego błędu w wysoko przeskalowanych układach pamięci w przestrzeni kosmicznej). Keywords: Figure-of-merit, single event upset, soft error rate, multiple cell upset. Słowa kluczowe: Współczynnik jakości, pojedyncze zakłócenie, stopień miękkiego błędu, wielokomórkowe zakłócenie. Introduction Modern highly scaled memory circuits have an area less than 1 um2 and critical charge less than 1 fC. That's why for modern memory circuits with technological standards less than 100nm major problem in space is the multiple cell upsets (MCUs) that is getting own heavy ionizing particle switch more than own memory cell. This circumstance causes a necessity of the Error Correction Codes (ECCs) application that, in its turn, leads to a decrease in functional performance [1]. To optimize the ECC algorithms it's necessary to use an analytical compact model to estimate the soft error rate (SER) calculation in space because the calculation of the exact numerical solution requires a lot of time. Soft error rate calculation is made without taking into account error correction code, since it will be selected after analysis of results. "Figure-of-Merit" (FOM) introduced in 1983 [2] is one of the possible approaches. But this [...]

Bibliografia

[1] Guo J., Xiao L., Mao Z., Zhao Q., Enhanced Memory Reliability Against Multiple Cell Upsets Using Decimal Matrix Code, IEEE Trans. Nucl. Sci., 22, (2013), n.1,127-135
[2] Petersen E.L., Langworthy J.B., Diehl S.E., Suggested Single Event Upset Figure of Merit," IEEE Trans. Nucl. Sci., NS-30, 4533, (1983)
[3] Zebrev G.I., Gorbunov M.S., Useinov R.G., Emeliyanov V.V., Ozerov A.I., Anashin V.S., Kozyukov A.E., Zemtsov K.S., PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY, ISSN 0033-2097, R. 92 NR 8/2016 51 Statistics and methodology of multiple cell upset characterization under heavy ion irradiation, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Sec. A, 775 (2015), 41-45
[4] Petersen E.L., Pickel J.C., Adams Jr. J.H., Smith E.C., Rate Prediction For Single Events-A Critique, IEEE Trans. Nucl. Sci., NS-39, (1992), n.6, 1577-1599
[5] Petersen E.L., The SEU Figure of Merit and Proton Upset Rate Calculations, IEEE Trans. Nucl. Sci., 45, (1998), n.6, 2550- 2562
[6] Heidel D.F., Marshall P.W., LaBel K.A., Schwank J.R., Rodbell K.P., Hakey M., Berg M.D., Dodd P.E., Friendlich M.R., Phan A.D., Seidleck C.M., Shaneyfelt M.R., Xapsos M.A., Low energy proton single-event-upset test results on 65 nm SOI SRAM, IEEE Trans. Nucl. Sci., 55 (2008), n.6, 3259-3264
[7] Haddad N., Bowman J., Brown R., Lawrence R., Rodgers J., Reed R., Traditional Methods Shortfall in Predicting Modem Microelectronics Behavior in Space, RADECS: Proceeding pp. 1-4, (2007)
[8] Gorbunov M.S., Dolotov P.S., Antonov A.A., Zebrev G.I. et al., Design of 65 nm CMOS SRAM for Space Applications: a Comparative Study, IEEE Trans. Nucl. Sci., 61 (2014), n.4, 1575-1582

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 99973 "Compact model for fast an..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2016-8 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2016-8

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma