Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2015 - zeszyt 8

Wpływ parametrów warstw i elementów konstrukcyjnych krzemowego ogniwa słonecznego na jego charakterystykę spektralną

10.15199/13.2015.8.5

Piotr Panek

nr katalogowy: 93170
10.15199/13.2015.8.5

Charakterystyka spektralna SR(λ) ogniwa słonecznego należy do jednej z podstawowych zależności umożliwiającej dokładny pomiar gęstości fotoprądu w zależności od natężenia promieniowania elektromagnetycznego o danej długości fali, padającego na ogniwo na daną powierzchnię [1]. Znajomość wartości SR(λ) w danym przedziale długości fali promieniowania nie tylko pozwala na bezpośrednie obliczenie gęstości prądu zwarcia ogniwa, a także umożliwia ocenę wydajności procesu fotowoltaicznego dla danego obszaru ogniwa poprzez możliwość obliczenia wartości zewnętrznej (EQE) lub wewnętrznej (IQE) sprawności kwantowej zgodnie z zależnością: SR(λ) = Jsc/Pin(λ) = (qλ/hc) EQE(λ) = (qλ/hc) IQE(λ) (1-Rref) (1) Występująca w powyższym wzorze wartość sprawność kwantowej ogniwa słonecznego określa bezpośrednio stosunek ilości wygenerowanych i rozdzielonych par elektron - dziura do ilości fotonów o danej długości fali padających na powierzchnię ogniwa [2]. Wartość natężenia promieniowania dla danej długości fali jest związana ze strumieniem fotonów zależnością: (2) gdzie: Jsc - gęstość prądu zwarcia ogniwa słonecznego, Pin(λ) - natężenie promieniowania, q - ładunek elementarny, λ - długość fali promieniowania, h - stała Plancka, c - prędkość propagacji fali w próżni, EQE(λ) - zewnętrzna spraw- ( ) N () P h c in ph = ność kwantowa, IQE(λ) - wewnętrzna sprawność kwantowa, Rref - współczynnik odbicia promieniowania, Nph(λ) - ilość fotonów dla danej długości fali padających na jednostkę powierzchni ogniwa w czasie jednej sekundy. Zależności (1) nie można stosować w przypadku oświetlenia ogniwa słonecznego światłem skoncentrowanym, gdyż mamy wtedy do czynienia z sytuacją znacznej różnicy koncentracji nadmiarowych nośników mniejszościowych ładunku w porównaniu z koncentracją nośników większościowych. Dokładność pomiaru Jsc(λ) ogniwa zależy przede wszystkim od klasy monochroma[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 93170 "Wpływ parametrów warstw i..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2015-8 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2015-8

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma