Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2010 - zeszyt 7

Analiza profilowa układu warstwowego PCB Cu/Ni/Au metodą spektrometrii mas wyładowania jarzeniowego GDMS

nr katalogowy: 91961

Aby zaprezentować możliwości analityczne skonstruowanego w Instytucie Tele- i Radiotechnicznym spektrometru mas wyładowania jarzeniowego typ SMWJ-01, wykonano analizy profilowe układu warstwowego Cu/Ni/Au płytki drukowanej (PCB) poddanego działaniu wysokich temperatur i zbadano efekt dyfuzji występujący na granicy warstw miedzi i niklu. Efekt dyfuzji miedzi do niklu obserwowany był już przy pomocy spektroskopii rozpraszania wstecznego Rutherforda (RBS) oraz spektroskopii elektronów Auger [1, 2]. Spektrometria mas wyładowania jarzeniowego GDMS (ang. Glow Discharge Mass Spectrometry) należy do jonowych metod analitycznych. W tego rodzaju analizach do uzyskiwania informacji analitycznej wykorzystuje się zjawisko rozpylania jonowego. Występuje ono podczas bombardowania jonami gazu roboczego powierzchni próbki. Gazem tym najczęściej jest argon, którego jony posiadają odpowiednią energię. Następuje wtedy odrywanie z powierzchni badanej próbki atomów i jonów. Uzyskiwany podczas procesu rozpyla- Analiza profilowa układu warstwowego PCB Cu/Ni/Au metodą spektrometrii mas wyładowania jarzeniowego GDMS mgr inż. Krzysztof Kaczorek , dr Piotr Konarski Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa 252 Elektronika 7/2010 nia materiał z badanej próbki trafia następnie do części analitycznej spektrometru, w której to sygnał jonowy po odpowiednim zmodyfikowaniu, zamieniany jest na sygnał elektryczny. Metoda ta należy do niszczących metod analitycznych. Analiza profilowa jest jedną z metod analitycznych stosowanych w celu uzyskania informacji o rodzaju i stężeniu pierwiastków występujących w badanej próbce. Różni się ona od innych metod analiz ilościowej i jakościowej tym, że uzyskiwane informacje przedstawiają profil koncentracji badanego składnika próbki. Profil zaczyna się od powierzchni i przebiega w głąb analizowanej próbki, do wybranej głębokości. Gł[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 91961 "Analiza profilowa układu ..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2010-7

Twój Koszyk

Publikacja

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma