Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2014 - zeszyt 10

Kompensacja dryfu w skaningowym mikroskopie tunelowym przeznaczonym do badań nanostruktur grafenowych FoMaMet

10.15199/ELE-2014-162

nr katalogowy: 87352
10.15199/ELE-2014-162

Badania powierzchni we współczesnej praktyce pomiarowej wymagają precyzyjnych i bardzo czułych urządzeń, dokonujących pomiaru z atomową rozdzielczością. Spośród wielu obecnie dostępnych technik mikroskopowych skaningowa mikroskopia tunelowa (ang. Scanning Tunneling Microscopy, STM) zaprezentowana w latach 80-tych ubiegłego wieku przez Binniga i in. [1] spełnia powyższe wymagania. Związane jest to między innymi z eksponencjalną zależnością prądu tunelowego od odległości próbka-sonda pomiarowa. Powyższa zaleta mikroskopu STM może być źródłem niekorzystnych zjawisk związanych z dryfem termicznym czy relaksacją zastosowanych aktuatorów piezoelektrycznych. Objawiać się to będzie przesuwaniem się skanowanego obszaru w osi X oraz Y pomiędzy kolejnymi pomiarami czy też zbliżaniem/oddalaniem ostrza pomiarowego od mierzonej powierzchni (dryf w osi Z). O ile wpływ dryfu w osiach X/Y może zostać zredukowany przykładowo poprzez skanowanie w większym polu, a następnie przetworzenie uzyskanego obrazu czy stosowanie układów niwelujących dryf, o tyle w osi Z jest to utrudnione ze względu na obecność pętli sprzężenia zwrotnego. W pracy przedstawiono problem dryfu występującego w mikroskopie STM. Na przykładzie pomiarów wysokozorientowanego grafitu pyrolitycznego (ang. Highly Oriented Pyrolyric Graphite, HOPG) omówiono jego wpływ na pracę mikroskopu, oraz możliwe zakłócenia procedury pomiarowej. Zaproponowano modyfikację konstrukcji mikroskopu STM tak, aby szkodliwy wpływ dryfu termicznego uległ minimalizacji. W tym celu wykonano układ elektroniczny z precyzyjnym przetwornikiem cyfrowo-analogowym (ang. Digital-Analog Converter, DAC) i porównano go z rozwiązaniem komercyjnym. Przedstawiono również możliwości rozszerzenia opracowanego systemu. Dryf w skaningowym mikroskopie tunelowym Dryf w skaningowym mikroskopie tunelowym może pochodzić z następujących źródeł: - Dryf termiczny całej głowicy STM - w wyniku poboru prądu przez zastosowa[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 87352 "Kompensacja dryfu w skani..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2014-10 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2014-10

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma