Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2014 - zeszyt 7

Metoda skróconego badania niezawodności układów pamięci NAND FLA SH

10.15199/ELE-2014-089

Krzysztof Bąk

nr katalogowy: 85805
10.15199/ELE-2014-089

Podstawą procesu produkcyjnego, na podstawie którego powstał poniższy artykuł, są układy pamięci NAND FLASH dostarczane w postaci rdzeni krzemowych. Rdzenie krzemowe stanowią półprodukt wymagający umieszczenia w obudowie i późniejszego przetestowania. Półprodukt charakteryzuje się nieznanym typem i liczebnością defektów. Defekty te mają nieznane modele i mogą ujawniać się w całym okresie użytkowania urządzenia. Następstwem defektu jest błąd, często bez możliwości wskazania typu i lokalizacji uszkodzenia. Brak dostępu do interfejsu diagnostycznego układów pamięci powoduje, że niemożliwe jest akcelerowanie napięciowe defektów oraz prowadzenie pomiarów wewnętrznych parametrów pracy. Skutkiem tego jest ograniczenie testu do sekwencji: kasowania, programowania, odczytu danych wzorcowych, zadanych przez tester oraz w docelowym środowisku pracy. W przytaczanym procesie produkcyjnym, pierwszym etapem procesu jest test układów pamięci w testerze. Procedura testowa omówiona w [10] składa się z sekwencji algorytmu MATS[6] testujących komórki pamięci znajdujące się w stronach. Pomiędzy cykl zapisu i weryfikacji danych wprowadzona jest kontrola upływności danych polegająca na wygrzewaniu układów pamięci w zadanej temperaturze i czasie. W wyniku przeprowadzonego testu odrzucane są układy pamięci charakteryzujące się nadmierną upływnością danych oraz te, w których liczba błędnych bitów w danych testowych przekracza ustalone progi. Testowanie w aplikacji - którą jest dysk SSD (ang. Solid State Drive), jest przeprowadzane w maksymalnej temperaturze pracy SSD i polega na zapisie/odczycie danych wzorcowych poprzez interfejs SATA [11]. Tak przeprowadzony test jest kontrolą w maksymalnych warunkach użytkowania układów pamięci w docelowym środowisku pracy. Konsekwencją ograniczenia sekwencji testowych do zapisu i odczytu danych jest brak możliwości pobudzania defektów mogących ujawnić się w okresie użytkowania (okres II), w którym głównie powin[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 85805 "Metoda skróconego badania..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2014-7 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2014-7

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma