Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2014 - zeszyt 3

Kelvin probe error compensation based on harmonic analysis of measurement signal

10.12915/pe.2014.03.058

nr katalogowy: 83081
10.12915/pe.2014.03.058

Reducing of gap-depended errors of Kelvin probe's measurement signal is achieved by harmonic analysis of measurement signal itself, eliminating the need in optical or other distance measurements. Probe-to-sample gap value is calculated via the signal’s second to first harmonic amplitudes ratio. Gap-depended error compensation can be made in real-time mode as it is shown in the experiment. Streszczenie. Zmniejszanie błędów szczeliny zależnego od sygnału pomiarowego sondą Kelvina uzyskuje się za pomocą analizy harmonicznej samego sygnału pomiarowego, co eliminuje potrzebę używania optycznych lub innych pomiarów odległości. Wartość szczeliny sondy od próbki oblicza się poprzez stosunek amplitud harmonicznych drugiego sygnału do pierwszego. Kompensacja błędu szczeliny może odbywać się trybie czasu rzeczywistego, jak pokazano w doświadczeniu. (Kompensacja błędu sondy Kelvina na podstawie analizy harmonicznej sygnału pomiarowego). Keywords: Kelvin probe, contact potential difference, harmonic analysis, measurement errors. Słowa kluczowe: sonda Kelvina, stykowa różnica potencjałów, analiza harmoniczna, błędy pomiarowe. doi:10.12915/pe.2014.03.58 Introduction A high-resolution Scanning Kelvin Probe (SKP) technique is contactless work function (WF) or contact potential difference (CPD) measurements demands the use of extremely small size capacitor probe [1]. Reducing the probe tip area and therefore the probe-to-sample capacitance leads to the rapid growth of stray capacitance influence [2]. The most common way to solve this problem is to reduce the probe-to-sample gap [3] which can be about the same size as surface roughness. It can lead to additional measurement errors due to non-stability of the gap value. Due to the complexity of theoretical calculations these errors are usually estimated experimentally or even ignored. This approach is appreciable for low-resolution probes, but for high-resolution ones gap-dependent errors [...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 83081 "Kelvin probe error compen..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2014-3 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2014-3

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma