Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2012 - zeszyt 10

Inkrementacyjne sekwencje adresowe o niskim narzucie sprzętowym w dwuprzebiegowych testach krokowych

nr katalogowy: 71967

Pamięci półprzewodnikowe RAM stanowią jeden z głównych elementów współczesnych modułów i urządzeń elektronicznych. Zwiększająca się w szybkim tempie złożoność i pojemność układów pamięci stawia wciąż nowe wyzwania związane z efektywnym jej testowaniem. Jednym z najbardziej skomplikowanych uszkodzeń pamięci RAM, analizowanym w wielu kluczowych publikacjach odnoszących się do dziedziny, jest uszkodzenie uwarunkowane zawartością opisane modelem PSF (ang. Pattern Sensitive Faults) [3-4]. Ten typ uszkodzenia oraz korespondujące z nim testy zdefiniował w 1980 roku J.P. Hayes [5]. Dalsze badania prowadzili m.in. Suk i Reddy [6]. Testy CM-79N i March-100N pozwalające zwiększyć dotychczasową efektywność wykrywania uszkodzeń PSF zaproponował Cheng [7]. W literaturze przedmiotu (np. Cascaval et. al. [8]) można znaleźć również wiele modyfikacji testów dedykowanych uszkodzeniom PSF, pozwalających wykrywać różne klasy tych uszkodzeń. Dotychczasowe badania wykazały, iż przy obecnych rozmiarach pamięci jedynymi testami możliwymi do realnego zastosowania w procesie testowania pamięci są testy z grupy testów maszerujących określanych również mianem testów krokowych (ang. march tests). Charakteryzują się one liniową złożonością, wysokim pokryciem uszkodzeń i niskim narzutem sprzętowym przy ich implementacji jako testy wbudowane BIST (ang. Built- In Self-Test). Ponadto klasyczne testy krokowe są łatwo konwertowalne do testów transparentnych (ang. transparent march tests). Z uwagi na narzut czasowy jaki powstaje przy tradycyjnej konwersji i implementacji testu krokowego jako testu transparentnego, zaproponowane zostały różne techniki zwiększające efektywność testowania transparentnego [14-16]. Jednak tradycyjne testy krokowe nie generują wszystkich możliwych wzorców niezbędnych do detekcji uszkodzeń PSF. Dlatego zaproponowane zostały techniki, wykorzystujące w swej podstawie testy krokowe, umożliwiające zwiększenie pokrycia uszkodzeń PSF. Jedn[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 81491 "Badania możliwości wystąp..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2012-10 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2012-10

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma