Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2013 - zeszyt 12

System pomiarowy do wyznaczania parametrów termicznych elementów półprzewodnikowych

nr katalogowy: 81425

Jednym z głównych problemów współczesnej mikroelektroniki jest skuteczne odprowadzanie ciepła generowanego w strukturach półprzewodnikowych. Wzrost temperatury wnętrza elementów półprzewodnikowych i układów scalonych spowodowany zjawiskiem samonagrzewania powoduje istotne zmiany w przebiegu charakterystyk elementów i układów elektronicznych [1] oraz prowadzi do istotnego skrócenia czasu życia tych elementów [2]. Skuteczność odprowadzania ciepła z elementu elektronicznego do otoczenia może być charakteryzowana makroskopowo za pomocą parametrów termicznych: przejściowej impedancji termicznej Zth(t) oraz rezystancji termicznej Rth. Zgodnie z definicją [3], przejściowa impedancja termiczna definiowana jest wzorem: (1) gdzie Tj(t) oznacza czasowy przebieg temperatury wnętrza elementu pobudzonego uskokiem mocy o wartości P, zaś Ta oznacza temperaturę otoczenia. Wartość Zth(t) w stanie ustalonym równa jest rezystancji termicznej Rth. Jak pokazano m.in. w pracach [4, 5], na przebieg Zth(t) oraz wartość Rth silnie wpływa konstrukcja układu chłodzenia elementu elektronicznego i takie jego składniki, jak typ obudowy, wielkość pól lutowniczych, długość wyprowadzeń elementu, kształt i rozmiary radiatora, obecność wentylatora zapewniającego wymuszone chłodzenie, a także moc wydzielana w elemencie oraz temperatura otoczenia. W celu wyznaczenia parametrów termicznych elementu półprzewodnikowego wraz z systemem jego chłodzenia niezbędny jest pomiar realizowany zgodnie z wzorem (1). W wielu metodach pomiarowych, opisywanych w literaturze, np. [3, 6, 7, 8], wykorzystuje się do wyznaczenia przebiegu Tj (t) metody elektryczne lub optyczne. Zaletą metod elektrycznych jest możliwość pośredniego wyznaczenia wartości lub czasowego przebiegu temperatury wnętrza elementu półprzewodnikowego bez potrzeby dokonywania zmian w jego konstrukcji, np. usuwania górnej części obudowy. Z kolei, wadą metod elektrycznych jest pomijanie nierównomierności rozkład[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 81425 "System pomiarowy do wyzna..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2013-12 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2013-12

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma