Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2013 - zeszyt 2a

Optimization of the test conditions for fault detection in nonlinear analog circuits using supply current

nr katalogowy: 74447

In this paper, selection of the optimum test conditions for catastrophic fault diagnosis of analog circuits containing MOS transistors is presented. The method of fault detection applies power supply current waveform IDD as an indicator of a device feature. The stimulate signal parameters and values of additional components are changed in optimization process to extend variation between the test signals for considered faults. An illustrative numerical example is presented. Streszczenie. W pracy przedstawiono dobór warunków testu w metodzie wykrywania i lokalizacji uszkodzen katastroficznych w układach analogowych zawieraja˛cych tranzystory MOS. W zastosowanym algorytmie detekcji uszkodzen informacje o własciwosciach układu sa˛ zakodowane w przebiegu pra˛du z´ródła, zasilaja˛cego obwód w stanie nieustalonym. Parametry sygnału pobudzaja˛cego i wartosci dodatkowych elementów sa˛ modyfikowane w procesie optymalizacyjnym tak, by powie˛kszyc róz˙nice mie˛dzy sygnałami testowymi odpowiadaja˛cymi rozwaz˙anym uszkodzeniom. Działanie algorytmu zilustrowano na praktycznym przykładzie. (Optymalizacja warunków testowych do wykrywania i lokalizacji uszkodzen katastroficznych w nieliniowych układach analogowych) Keywords: analog circuits, fault detection, discrete wavelet transform, feedforward neural network, optimization Słowa kluczowe: układy analogowe, wykrywanie uszkodzen, dyskretna transformacja falkowa, jednokierunkowe sieci neuronowe, optymalizacja Introduction Fault location and detection in electronic equipment is one of the fundamental problems in production of reliable and safe electronic multi-element systems [6], [7], [8]. For diagnosis of faults in numerical electronic devices, effective, automatic procedures have been worked out. Unfortunately, in diagnosis of analog circuits, any universal and dependable technique have not been determined yet, and therefore it is mainly based on engineers’ experience [8]. The review of papers d[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 74447 "Optimization of the test ..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2013-2a licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2013-2a

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma