Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2011 - zeszyt 12

Metrologia kinetyki fotoindukowanych zmian absorbancji w nanokompozytach krystalicznych

nr katalogowy: 64790

Postęp we współczesnej optoelektronice jest w dużej mierze stymulowany przez wytwarzanie nowych materiałów o pożądanych właściwościach. Jednym z perspektywicznych kierunków zmiany ich właściwości jest możliwość sterowania podstawowych parametrów optoelektronicznych (absorbancji, współczynników odbicia, parametrów nieliniowych) poprzez napromieniowanie diodami laserowymi CW lub laserami pracującymi z energią poniżej wartości przerwy energetycznej [1-3]. Podstawowy mechanizm takich zmian oparty jest na fotopolaryzacji poziomów pułapkowych wewnątrz przerwy energetycznej, która wywołuje oddziaływanie ze strukturą elektronową. Nankompozyty krystaliczne posiadają dużą ilość pułapek w przerwie energetycznej, co pozwala wykorzystywać je jako obiekty modelowe dla przeprowadzenia doświadczeń napromieniowania światłem laserowym. W tej pracy rozpatrzymy dwa podstawowe tryby napromieniowania - ciągły w zakresie przejść między poziomami elektronowymi i impulsowy, który będzie odpowiedzialny za obsadzenie poziomów wibracyjnych. Dzięki obecności drgań siatki (fononów) odpowiednie poziomy pułapkowe stają się trwałymi centrami, które zmieniają podstawowe właściwości optyczne. Głównym problemem technicznym takich zmian jest to, że ich wartości zmiany absorbancji są rzędu kilku cm-1, co utrudnia ich detekcję. Drugi problem, który utrudnia przeprowadzanie metrologii takich pomiarów, polega na wyeliminowaniu niestabilności źródła światła laserowego, co się osiąga przez przeprowadzenie większej ilości pomiarów, i stworzenia niezawodnego, sztywnego zamocowania istotnych elementów stanowiska badawczego (laser, napromieniowany materiał oraz detektor). W naszej pracy zaproponowano układ do pomiaru fotoindukowanej absorbancji w zakresie widm 250…800 nm o rozdzielczości do 0,5 nm, który umożliwia pomiary fotoindukowanej absorbancji w trakcie napromieniowania, jak i po naświetleniu. Czyli układ ten pozwala monitorować zmiany zachodzące w materiałac[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 64790 "Metrologia kinetyki fotoi..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2011-12 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2011-12

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma