Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2011 - zeszyt 12

Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections

nr katalogowy: 64775

With regard to the methods how test vectors are applied to the Circuit Under Test (CUT) the Interconnect Built-In Self Test (IBIST) tools are classified into two categories: test-per-scan [7, 12] and test‑per‑clock [6, 9, 10] with characteristic features that are substantially different for the both techniques. The significant advantage of the test-per-clock IBIST structures as compared to the respective test-per-scan structures is the considerably (i.e. by several orders of magnitude) shorter time of test execution and much easier testing of dynamic faults, i.e. delay faults, crosstalks and switching noise [1, 6, 11]. The conventional IBIST structures of the test-per-clock type usually comprise two separate modules: the test pattern generator (usually LFSR) and compactor of output responses (usually MISR) [6, 10, 11]. For the IBIST structure of the LFSR-MISR type the test procedure is independent on the CUT function to be tested. At the end of 80’s the new BIST structure of the Circular Self- Test Path (CSTP) [8] was proposed. The method consists in connection of all the memory modules within the CUT in a single shift register that is then converted into a self-test ring by connection of its output with the input. However, for many years the CSTP structure has never been adopted for testing of pure interconnections. The attempt to apply such a structure to test a bus of unidirectional lines was proposed in [4, 5]. In that case the CTSP becomes an ordinary linear ring LFSR (R-LFSR) [4, 5], where the interconnections under test constitute its feedback lines (Fig. 1). The feedback of the register is described by the characteristic polynomial p(x). It makes possible to apply the techniques dedicated to analysis of the test efficiency that are typical for linear registers and that differ from the method proposed in [8]. It eliminates troubles with analyzing efficiency of test procedures [8] caused by the fact th[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 64775 "Analysis of operation of ..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2011-12 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2011-12

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma