Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2011 - zeszyt 12

The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing

nr katalogowy: 64774

Analog fault testing is necessary to control the quality of production and to assure a high reliability of analog systems during the after production stage [1-5]. Unfortunately, especially due to continuous character of signals, tolerance dispersions, noise presence and limited accuracy of practical measurements, analog testing and diagnosing are still difficult problems which need intensive researches. Generally, the published analog faults analysis methods can be classified into a few groups. Considering the time of circuit under test (CUT) simulations, the sorts of techniques with simulation before test (SBT) and with simulations after test (SAT) can be found. The SBT concept is more suitable to a production testing, where time effort minimization is very important. On the other hand, SAT concept can be engaged during the design stage to achieve higher accuracy of fault diagnosis. Depending on the goal of the method, it can be sorted to the specification driven (functional) testing (SDT) [2] or to the element faults driven testing (FDT) [3-5] groups. Functional testing is adequate to control the assumed specifications of a CUT (e.g. cut-off frequencies, amplitude frequency response ripple or phase response value). The approach proposed in this paper can be classified into the SBT, SDT groups and it uses energy of pair responses evaluation for a faulty CUT detection. The next section explains the idea and algorithm of the approach, in section III the most important elements of the evolutionary system are described and section IV presents the faults analysis results for an exemplary CUT. Description of the Method The idea of functional faults detection number of state (typically i=0 for a healthy set of CUTs, i.e. with an accepted levels of specifications). After the differential energy Edf determination, the CUT is classified to a healthy S0 or to a faulty group (Edf outside allowed region). The boundary values of Edf for [...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 64774 "The use of specialized mu..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2011-12 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2011-12

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma