Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2011 - zeszyt 12

Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind

Łukasz Chruszczyk

nr katalogowy: 64773

The test engineer must reconcile many contradictories: efficiency of fault diagnosis (how many faults can be successfully diagnosed?), access to circuit internals (usually limited and expensive), circuit cost (maximize tolerances in limits defined by device functionality; minimize circuit overhead possibly caused by designfor- testability), test cost (strongly related with test time: single of many measurements? how much accuracy?). The test cost is a significant part of a final device cost (30…50% [17]). All these factors can be summarized as an optimization problem of many related test and circuit parameters. Two major problems of fault diagnosis of modern analog electronic circuits (AEC) are tolerance of components and limited access to circuit internals. The first causes spread of measured quantities thus resulting in fault masking (ambiguity sets). Lowering tolerances increases diagnosis efficiency together with device manufacturing cost. Limited access to the circuit internal nodes limits sources of information about its state and possible faults. The basic division of AEC testing is: - functional test -verifies if circuit behavior conforms the design, - fault diagnosis - analysis of possible faults that may not influence circuit behavior. There can be distinguished three goals of AEC fault diagnosis (Fig. 1) [1,14,16,18]: - fault detection - differentiates only healthy circuits (Go) from faulty ones (No Go), - fault location -locates damaged element, - fault identification - determines value or shift below or above tolerance margin of a damaged element. The classical sequence of a diagnosis procedures is shown on Fig. 1: detection → location → identification [1,14,16,18]. Such multi-step analysis has advantages. Usually fault detection (as being the simplest diagnosis) is also the shortest and is often the only test needed. If fault probability is low further steps are performed rarely. Additional [...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 64773 "Fault diagnosis of analog..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2011-12 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2011-12

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma