Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2011 - zeszyt 10

Tolerance Maximisation in Fault Diagnosis of Analogue Electronic Circuits

nr katalogowy: 63384

This paper presents method of designing periodic test excitation for fault diagnosis of analogue electronic circuits. There has been proposed maximisation of circuit components tolerances while keeping assumed level of fault diagnosis. There has also been shown that combination of fault detection and location in a single step can remarkably shorten testing time. The optimisation process involves genetic algorithm. Streszczenie. W pracy przedstawiono projektowanie periodycznego pobudzenia testowego dla diagnostyki uszkodzeń analogowych układów elektronicznych. Zaproponowano sposób maksymalizacji tolerancji elementów obwodu przy zachowaniu założonego poziomu diagnostyki uszkodzeń. Wykazano również, że połączenie etapów detekcji i lokalizacji uszkodzeń może znacząco skrócić czas testowania. (Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych). Keywords: fault diagnosis, analogue electronics, test time reduction, components tolerance, genetic algorithm. Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń, elektronika analogowa, redukcja czasu testowania, tolerancja elementów, algorytm genetyczny. Introduction The test engineer must reconcile many contradictories: efficiency of fault diagnosis (how many faults can be successfully diagnosed?), access to circuit internal nodes (usually limited and expensive), circuit cost (maximise tolerances in limits defined by design, minimise circuit overhead caused by design-for-testability), test cost (strongly related with test time: single or many measurements? how much accuracy?). The test cost is a significant part of a final device cost (30% - 50% [17]). All these factors can be summarized as an optimisation problem of many related test and circuit parameters. Two major problems of fault diagnosis of modern analogue electronic circuits (AEC) are tolerance of components and limited access to internal circuit nodes. The first causes spread of measured quantities thus resultin[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 63384 "Tolerance Maximisation in..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2011-10 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2011-10

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma