Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2011 - zeszyt 10

Fourierowska spektroskopia fotoluminescencyjna i fotoodbiciowa struktur półprzewodnikowych przeznaczonych na zakres średniej i długofalowej podczerwieni

nr katalogowy: 63230

W dzisiejszym świecie materiały półprzewodnikowe, czy też struktury niskowymiarowe wykonane z półprzewodników, takie jak np. studnie czy kropki kwantowe, są powszechnie wykorzystywane do konstrukcji urządzeń emitujących bądź wykrywających promieniowanie. Lasery i detektory znajdują powszechne zastosowania w różnych dziedzinach życia, na przykład w szeroko rozumianej optoelektronice towarzysząc w szybkiemu jej rozwojowi, ale też w ochronie środowiska do monitoringu i wykrywania wszelkiego rodzaju zanieczyszczeń. Obecne przyrządy półprzewodnikowe to skomplikowane konstrukcje wykorzystujące z jednej strony właściwości materiałowe z drugiej mechanikę kwantową. Wytwarzanie takich urządzeń wymaga ścisłej współpracy między "technologią i charakteryzacją". W swej konstrukcji urządzenia te składają się z wielu cienkich warstw niejednokrotnie tworzonych z kombinacji różnych półprzewodników jak i różnych koncentracji nośników prądu. Procesy technologiczne takie jak epitaksja z wiązki molekularnej wymagają technik pomiarowych pozwalających na kontrolowanie wzrostu i składów wzrastanych struktur. Oprócz badań strukturalnych niezwykle istotną rolę odgrywają badania spektroskopowe pozwalające na badanie właściwości optycznych. Ponieważ docelowo struktury czy urządzenia takie mają emitować bądź wykrywać promieniowanie elektromagnetyczne istotne jest poznanie ich takich właściwości jak: struktura energetyczna poziomów w potencjale wiążącym, mechanizmy ucieczki nośników z obszarów aktywnych, energie przerw wzbronionych i wiele innych składających się na wydajność pracy przyrządów z nich konstruowanych. Do bardzo użytecznych w tym względzie metod badawczych należą pomiar fotoluminescencji (PL (ang. Photoluminescence), czy fotoodbicia PR (Photoreflectance). Pomiar fotoluminescencji pozwala na zbadanie właściwości emisyjnych badanych/wytwarzanych struktur, które polega na analizie maksimów fotoluminescencyjnych (ich energii, intensywności czy po[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 63230 "Fourierowska spektroskopi..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2011-10 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2011-10

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma