Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2011 - zeszyt 9

Identyfikacja procesów emisji nośników w kropkach kwantowych izotermiczną techniką DLTS

nr katalogowy: 62705

Zastosowanie QDs jako elementów aktywnych w przyrządach elektronicznych wymaga wiedzy na temat szybkości wymiany nośników pomiędzy QDs i ich otoczeniem. W tym względzie DLTS jest unikalną techniką, bowiem takich informacji dostarcza w odniesieniu do bezpośrednich przejść. W ostatnim okresie technika TS-DLTS z powodzeniem została wykorzystywana do charakteryzacji struktur z QDs [1-3]. Jednak ze względu na złożoność procesów emisji, wynikającą z możliwości wielorakich dróg ucieczki nośników z QDs oraz z uwagi na poszerzenia rozkładów energetycznych, które są rezultatem fluktuacji rozmiarów QDs, interpretacja konwencjonalnych widm DLTS napotyka na duże trudności [4]. Częściowym rozwiązaniem problemu są pomiary w niskich temperaturach, w których jedynym procesem odpowiedzialnym za emisję nośników jest tunelowanie. Pomiary niskotemperaturowe w połączeniu z modelowaniem uwzględniającym wpływ pola elektrycznego na szybkość emisji pozwalają wyznaczyć strukturę energetyczną stanów w QDs [5]. Jednak informacje te są niewystarczające, gdyż urządzenia bazujące na QDs pracują w zakresie temperatur, w których efekty termiczne są ważne. W ostatnim czasie zaproponowano model, który traktuje emisję z QDs w sposób kompleksowy oraz do jego weryfikacji zaproponowano nową, wieloparametryczną technikę pomiarową bazującą na DLTS [6-8]. Pomiar sygnałów DLTS, S, związanych z QDs w funkcji T, z VR, jako parametrem, wraz z prezentacją danych w postaci wykresów trójwymiarowych lub konturowych na płaszczyźnie (T, VR) umożliwił identyfikację procesów ucieczki elektronów z QDs z InAs/GaAs [8]. Technika ta okazała się także przydatna do ustalenia warunków pomiarowych, które dla celów charakteryzacji stanów skwantowych, ze względu na złożoność procesów, muszą być optymalizowane [9]. W niniejszej pracy zaproponowano alternatywną metodę charakteryzacji stanów QDs wykorzystującą izotermiczne pomiary sygnału DLTS w funkcji f i VR. Działanie metody zaprezentowa[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 62705 "Identyfikacja procesów em..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2011-9 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2011-9

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma