Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2011 - zeszyt 5

Two-stage algorithm for soft fault diagnosis in analog dynamic circuits

Marek KORZYBSKI

nr katalogowy: 59956

The paper deals with the soft fault diagnosis in analog dynamic circuits. The two-stage algorithm for soft fault location and identification has been presented. It is based on the spectrum analysis of the circuit response to the rectangular input signal, a neural network and one of the new evolutionary techniques - gene expression programming. The first stage enable us fault location using neural network. The result of the second stage is fault identification performed with formulas derived using gene expression programming. The method is illustrated with a numerical example Streszczenie. Tematem pracy jest diagnostyka uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach dynamicznych. Przedstawiony jest dwustopniowy algorytm lokalizacji oraz identyfikacji uszkodzeń parametrycznych bazujący na analizie widmowej odpowiedzi układu na prostokątny sygnał wejściowy. Pierwszy stopień realizuje lokalizację uszkodzenia wykorzystując sieć neuronową. Wynikiem drugiego jest identyfikacja, którą umożliwiają zależności wyznaczone przez ewolucyjny algorytm programowania wyrażeń genetycznych. (Dwustopniowy algorytm lokalizacji oraz identyfikacji uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach dynamicznych) Keywords: soft fault diagnosis, neural networks, gene expression programming. Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń parametrycznych, sieci neuronowe, metoda programowania wyrażeń genetycznych. Introduction Fault diagnosis of analog circuits is an important element of the analysis, designing process and testing of electronic systems. During the last decades the problem was considered in numerous papers and books [1-11] and many methods relating to this issue have been developed. The presence of circuit nonlinearities and component tolerances causes that fault diagnosis of analog circuits is very complex [9,10] and it has not achieved the development level of the method for digital circuits. Three major parts of analog circuit testing are fault detectio[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 59956 "Two-stage algorithm for s..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2011-5 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2011-5

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma