Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2011 - zeszyt 4

Charakteryzacja metodą XPS warstw azotku krzemu dla ogniw słonecznych

nr katalogowy: 59024

Warstwa azotku krzemu (SiNx:H) jest kluczowym elementem w uzyskaniu wysokich sprawności ogniw fotowoltaicznych opartych na krzemie multikrystalicznym. Spełnia ona równocześnie dwie funkcje: jest warstwą antyrefleksyjną oraz warstwą pasywującą. Warstwa ta może być również wykorzystana w ogniwach trzeciej generacji do wytwarzania krzemowych kropek kwantowych [1]. Właściwości pasywujące warstw SiNx:H związane są z obecnością wodoru w tych warstwach. Atomy wodoru, w trakcie procesu termicznego stosowanego do wypalania kontaktów dyfundują w głąb krzemu pasywując defekty krystalograficzne. Sam mechanizm pasywacji defektów objętościowych nie jest jeszcze dobrze poznany. Wiadomo jest, że efekt pasywacji zależy od struktury warstwy. Istnieje wiele prac opisujących warunki, które muszą być spełnione by warstwa wykazywała najlepsze właściwości pasywujące powierzchnię i objętość krzemu. Według Dekkers’a [2] gęstość warstwy SiNx:H powinna być zawarta w przedziale 2,8…3,0 g/cm3 dla stosunku koncentracji atomów azotu do krzemu [N]/[Si] = 1,1 i dla współczynnika załamania n = 2,0±0,05. Warstwy o niższej gęstości są bardziej porowate w wyniku czego następuje ucieczka atomów wodoru z warstwy w trakcie procesu termicznego w procesie wypalania kontaktów. Zbyt duża gęstość może z kolei utrudnić dyfuzję wodoru z warstwy w głąb krzemu. W niniejszej pracy przedstawiono charakteryzację warstw SiNx:H przy użyciu metody XPS (spektrometrii fotoelektronów generowanych promieniowaniem X) pod kątem ich wykorzystania do krzemowych ogniw słonecznych wytwarzanych w Laboratorium Fotowoltaicznym IMIM PAN w Kozach oraz do opracowania nowego typu ogniw opartych na krzemowych sieciach kwantowych. Eksperyment Osadzanie warstw Warstwy SiNx:H osadzano metodą PECVD przy użyciu urządzenia Plasmalab System 100 firmy Oxford Plasma Technology w [...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 59024 "Charakteryzacja metodą XP..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2011-4 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2011-4

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma