Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2011 - zeszyt 4

Zanieczyszczenia multikrystalicznego krzemu modyfikowanego procesem geterowania

nr katalogowy: 59019

Podstawowym parametrem, który charakteryzuje właściwości rekombinacyjne materiałów przeznaczonych na ogniwa słoneczne jest czas życia nadmiarowych nośników ładunku [1-4]. Na czas życia nośników zasadniczy wpływ mają metale [5, 6] zawarte w materiale wejściowym lub kontaminujące na powierzchni i rozdyfundowywane w objętości w czasie procesów termicznych. Procesy rekombinacyjne zachodzące z udziałem stanów energetycznych wytwarzanych przez metale są zasadniczą przyczyną redukcji czasu życia nośników ładunku. Ogromny postęp, jaki się dokonał w kilku ostatnich dekadach w technologii spowodował, że poziom koncentracji domieszek metali przejściowych w monokrystalicznym Si, może być bardzo niski <1×1011 cm-3. Jednak w odróżnieniu od krzemu monokrystalicznego FZ-Si i Cz-Si, krzem multikrystaliczny (mc-Si) może zawierać szereg różnych metali przejściowych takich jak Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Co i Mo z okresu czwartego, Mo, Pd, Ag, Rh, Ru z okresu piątego oraz W, Os, Ir, Pt, Au z okresu szóstego metali przejściowych w podwyższonej koncentracji, rzędu 1×1014 cm-3 wytwarzających tzw. głębokie poziomy rekombinacyjne oraz znaczne koncentracje (1018 cm-3) takich pierwiastków jak tlen i węgiel [5]. Dodatkowe miejsca rekombinacji tworzą defekty rozciągłe takie jak gęsta sieć granic ziaren, płaszczyzn poślizgu i dyslokacji. Pasywacja tych centrów rekombinacji poprzez procesy uwodorniania pozwala na zmniejszenie elektrycznej aktywności tych defektów [7]. Celem tej pracy było określenie rodzaju oraz koncentracji zanieczyszczeń metalicznych występujących w produkcyjnym mc-Si typu p, po procesie geterowania zewnętrznego fosforem [8, 9], definiujących czas życia nośników ładunku w tym materiale. Do pomiaru czasu życia nośników ładunku i określenia koncentracji żelaza, które uważa się za główne zanieczyszczenie w mc-Si, wykorzystano pomiary zaniku fotoprzewodnictwa w czasie, metodą mikrofalową (MWPCD), zaś do identyfikacji innych niż żelazo międzyw[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 59019 "Zanieczyszczenia multikry..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2011-4 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2011-4

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma