Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2010 - zeszyt 12

Poprawa skuteczności algorytmów detekcji i lokalizacji uszkodzeń nieliniowych układów analogowych za pomocą selekcji cech

MAREK OSSOWSKI

nr katalogowy: 56703

Zgodnie z definicją zamieszczoną w pracy [1], rozpoznawanie wzorców jest procesem polegającym na pobraniu danych i wykonaniu pewnych czynności zależnych od kategorii rozpoznanego wzorca. Typowymi zastosowaniami w tej dziedzinie są: rozpoznawanie mowy, badania medyczne (diagnozowanie chorób, monitorowanie procesów życiowych), rozpoznawanie pisma, analiza zdjęć satelitarnych, interpretacja sygnałów radarowych, czy diagnostyka uszkodzeń urządzeń technicznych. W rozległej problematyce rozpoznawani wzorców kluczową rolę odgrywa sposób wydobywania cech i ich prawidłowa selekcja. Ekstrakcja i selekcja cech uszkodzeń jest więc również podstawowym etapem diagnostyki analogowych układów nieliniowych, problemu, którego istotnym elementem jest rozpoznawanie wzorców uszkodzeń. Do niedawna, testowanie funkcjonalne (specyfikacyjne) było podstawową metodą diagnozowania urządzeń podczas procesu produkcyjnego. Tego typu testowanie polega zasadniczo na pomiarze wybranych parametrów obwodu i porównaniu z wartościami katalogowymi. Spory sukces metod określanych jako fault-based testing, stosowanych do analizy układów cyfrowych, zainspirował badaczy do włączenia technik opartych na modelowaniu i symulowaniu uszkodzeń poszczególnych elementów do katalogu powszechnie stosowanych procedur diagnostycznych analogowych układów nieliniowych. Lista możliwych uszkodzeń obwodu jest tworzona w oparciu o informacje statystyczne, topologie obwodów oraz doświadczenie projektantów. Najczęściej stosowane techniki pomiarowe można tu podzielić na trzy podstawowe kategorie: analiza stałoprądowa (testy DC), częstotliwościowa i analiza w dziedzinie czasu. Metody DC [2] pozwalają na efektywną detekcję i lokalizację uszkodzeń katastroficznych. Czasochłonne procedury wykorzystujące częstotliwościowe właściwości obwodów [3, 4] nadają się do badania uszkodzeń parametrycznych. Podobne zastosowanie mają metody oparte na analizie stanów dynamicznych testowanych urządzeń [[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 56703 "Poprawa skuteczności algo..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2010-12 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2010-12

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma