Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2010 - zeszyt 11

Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary

nr katalogowy: 55992

There are distinguished two Interconnect Built In-Self Test (IBIST) categories: test-per-scan [1, 10] and test-per-clock [2-5, 8], which have distinctly different properties. Unfortunately test-per-scan IBIST require long testing time. This drawback does not occur in the test-per-clock IBIST technique, where the testing time is much shorter (i.e. several orders of magnitude) and where there is a potential ability to detect dynamic faults: delay faults, crosstalk and switching noise [6]. A new type of the test-per-clock IBIST structure that has recently become being used for testing of interconnections represents a specific ring register R-LFSR [2, 3], where n lines of the Network Under Test (NUT) act during the test as feedback lines of the LFSR. The cells being in normal operation mode the n transmitters and n receivers of the network lines, during the test constitute a 2n-bit shift register, that together with n lines of the NUT make a R-LFSR. During the test, the R-LFSR generates consecutive 2n-bit pseudorandom test vectors. The half of each vector is a stimulus vector for the NUT. In order to detect a fault in interconnections it is mandatory to find out - for selected initial state SD - such the length m of the sequence of the register states, that the final state (signature) of such a sequence Sm F0 associated with faultfree bus would differ from each state SmFj attributable to a faulty bus. In practice one has to find out the signature Sm F0 for the fault-free R-LFSR unit as well as a set of signatures {Sm Fj } that correspond to defects that were modeled for the bus. In that way the diagnostic dictionary is obtained DD = Sm F0 ∪ {Sm Fj}. 16 Elektronika 11/2010 All methods that employ the ring register and the associated diagnostic dictionary suffer from the problem that consists in fast growth of the dictionary size in pace with the increase of the number of connections under test and multiplicity of the consid[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 55992 "Testing of interconnectio..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2010-11 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2010-11

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma