Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2010 - zeszyt 11a

Multidimensional search space in testing and diagnosis of analogue electronic circuits

nr katalogowy: 55742

In this paper a new testing method of an analogue electronic circuits is presented. The method is based on the idea of using multidimensional search space in order to increase testability and observability of the circuit under test (CUT). Heuristic algorithm particle swarm optimization (PSO) has been applied for continuous optimization problem. Practical example is considered and results shows that using more than one dimension during test of CUT can significantly improve number of unequivocally located states of CUT. Streszczenie. W tym artykule nowa metoda testowania analogowych układów elektronicznych została zaprezentowana. Metoda testowania wykorzystuje wielowymiarową przestrzeń poszukiwań. Zaprezentowane rezultaty badań wyraźnie pokazują, że użycie więcej niż jednego wymiaru podczas testowania układu elektronicznego pozwala na zwiększenie liczby jednoznacznie lokalizowanych stanów testowanego układu. (Testowanie i diagnostyka analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem wielowymiarowej przestrzeni poszukiwań) Keywords: multidimensional search space, analog circuits, particle swarm optimization, diagnosis Słowa kluczowe: wielowymiarowa przestrzeń poszukiwań, CUT, PSO, diagnostyka Introduction In the last decade, a problem of testing and diagnosis of analog electronic circuits has been increased. Nowadays, many analog and mixed circuits are produced on a same substrate as integrated circuits become very popular [9, 11]. This cause that very often only the input and output pins of an integrated circuit are available. Diagnostic information that can be obtained from that kind of circuit under test (CUT) is limited. Testing methodology presented in this paper allows to increase diagnostic information from the circuits with limited measurement availability. Testing of analogue electronic circuits can be divided into: Fault Driven Test (FDT) and Specification Driven Test (SDT) [3, 4]. In FDT approach, a list of faults (states [...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 55742 "Multidimensional search s..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2010-11a licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2010-11a

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma