Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2010 - zeszyt 11a

System zaawansowanej analizy sygnałów do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych

nr katalogowy: 55731

W niniejszym artykule zaprezentowano opracowany moduł diagnostyczny, który pozwolił na rozszerzenie możliwości pomiarowych komercyjnego mikroskopu sił atomowych. Zaimplementowane rozwiązanie sprzętowo-programowe pozwala na detekcję skrętnych wychyleń belki skanującej. W efekcie możliwe jest zrekonstruowanie krzywej spektroskopii sił, co umożliwia szybkie, wysokorozdzielcze mapowanie właściwości powierzchni takich jak sztywność, adhezja czy rozpraszanie energii.. Abstract. In this paper, the development of diagnostic upgrade for commercial atomic force microscope is presented. By designing and implementing electronic and software solution, the torsional oscillations of the cantilever detection was possible. As the consequence, the force spectroscopy curve could be reconstructed allowing to perform fast, high-resolution mapping of mechanical properties of the sample such stiffness, adhesion or energy dissipation. (System for advanced signal analysis in measurements of surface’s mechanical properties in atomic force microscopy). Słowa kluczowe: mikroskopia sił atomowych, techniki pomiarowe, przetwarzanie sygnałów. Keywords: atomic force microscopy, measurement techniques, signal processing, harmonic analysis. Wstęp Mikroskopia sił atomowych w ostatnich latach stała się niezwykle popularnym narzędziem badawczym. Różnorodność trybów pomiarowych, pozwalających uzyskać szereg informacji na temat budowy i właściwości powierzchni (mechanicznych, elektrycznych, magnetycznych, termicznych), stanowi olbrzymi potencjał badawczy materiałów i struktur w mikro- i nanoskali. Rozwój technik pomiarowych pozwala na otrzymanie bardziej miarodajnych wyników oraz na zwiększanie rozdzielczości przestrzennej. Idea działania mikroskopii sił atomowych polega na obserwacji oddziaływań pomiędzy wykonanym z krzemu ostrzem skanującym a powierzchnią próbki. Ze względu na mały promień krzywizny ostrza skanującego (pojedyncze nanometry lub dziesiątki nanometr[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 55731 "System zaawansowanej anal..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2010-11a licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2010-11a

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma