Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2010 - zeszyt 11a

Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs

nr katalogowy: 55711

The need to apply the test-per-clock method at full clock rates to test crosstalks in networks of long interconnects between modules in a System on a Chip (SoC) is highlighted. Our method involves the 3n-R-LFSR (Ring Linear Feedback Shift Register). The part of the R-LFSR that generates test patterns for n-interconnects has double number of flip-flops where every second flip-flop is connected to the network of Interconnects Under Test (IUT). It has been proved that the 3n-R-LFSR is capable to generate all the two-test patterns that are necessary for IUT. The completed simulation experiments evidenced efficiency of the method application to test crosstalks that are manifested by either a glitch or an edge delay. Streszczenie. Przedstawiono metodę wykrywania przesłuchów w długich połączeniach pomiędzy blokami układów SoC. Wykorzystano liniowy rejestr pierścieniowy R-LFSR. Część rejestru generująca wektory testowe ma podwojoną liczbę przerzutników w stosunku do typowego rejestru pierścieniowego, co drugi przerzutnik połączony jest z testowaną siecią połączeń. Wykazano, że taki rejestr może wygenerować wszystkie pary testów niezbędne do wykrycia przesłuchów. (Wykrywanie przesłuchów w sieciach połączeń z wykorzystaniem liniowych rejestrów pierścieniowych R-LFSR) Keywords: Linear ring register; Test pattern generator; Crosstalks; System on a Chip (SoC); Interconnect network. Słowa kluczowe: Liniowy rejestr pierścieniowy, Generator wektorów testowych, System jednoukładowy, Przesłuchy, Sieć Połączeń Introduction Continuous progress in development of technologies offers the opportunity to place the entire digital system on a singe integrated circuit. Such a System on a Chip (SoC) incorporates embedded modules (cores) that communicate via a network of long interconnections. As integration density of one-chip systems increases, interconnections between the embedded cores are getting more and more crucial for correct and reliable operation of the e[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 55711 "Testing of crosstalk-type..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2010-11a licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2010-11a

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma