Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2010 - zeszyt 9

Reliability state of connections in a microprocessor network with binary hypercube structure

Artur ARCIUCH

nr katalogowy: 55516

In the paper, a method for computing the reliability state of connections within a microprocessor network with a binary hypercube structure was presented. A method for calculating the number of processors (in that network) entitled to initiating this diagnostic procedure was also proposed. Streszczenie. Zaprezentowano metodę obliczania stanu niezawodności sieci mikroprocesorowej o strukturze binarnej hiperkubicznej. Zaproponowano też metodę obliczania liczby procesorów koniecznych do przeprowadzenia diagnostyki. (Stan niezawodności sieci mikroprocesorowej o strukturze binarnej hipeerkubicznej) Keywords: t-dimensional binary hypercube, distributed system level fault diagnosis,. Słowa kluczowe: binarny hipersześcian wymiaru t, systemy dialogu diagnostycznego, Introduction Binary hypercube structures [2, 3, 9], of a particular dimension, are widely used in self-diagnostic microprocessor systems dedicated to parallel processing (effective, parallel implementation of ascend-descend algorithms class [11]). The paper Deal with the problem of computing the reliability state of connections in a self-diagnostic system with hypercube type structure (or reduced hypercube, see definition 2) of a particular dimension. A similar problem was presented in [1], where the authors proposed a method based on finding in hypercube of dimension t a Hamilton cycle with not more than t-2 faulty connection lines. A self-diagnostic system contains both a self-diagnostic structure 0 that is a structure of mutual testing among the elements of the system (as described by testing graph) and a method for using individual tests’ results with an inference model used to draw conclusions about the reliability state of the system (or parts thereof). Self-diagnostic structures can be divided as distributed system level fault diagnosis [4] and centralized systems level fault diagnosis (e.g. model PMC [10]). Within the former [5], inference about the reliability[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 55516 "Reliability state of conn..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2010-9 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2010-9

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma