Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2010 - zeszyt 9

Wyznaczanie czasu życia nośników ładunku w płytkach krzemowych z pomiaru absorpcji na nośnikach swobodnych

nr katalogowy: 54285

Czas życia nośników ładunku jest istotnym parametrem służącym do oceny jakości monokrystalicznego krzemu przeznaczonego do produkcji detektorów, jak również do oceny jakości krzemu multikrystalicznego. Ponieważ parametr ten jest determinowany koncentracją i właściwościami aktywnych elektrycznie centrów rekombinacyjnych, jego analizowanie po poszczególnych procesach technologicznych takich jak geterowanie wewnętrzne czy zewnętrzne, pasywacja tlenkowa lub azotkowa oraz procesach wygrzewania pozwala na optymalizację tych procesów i uzyskanie korzystnych parametrów materiałowych. Najczęściej stosowane metody pomiaru czasu życia nośników ładunku w mono- i multikrystalicznych płytkach krzemowych wykorzystują efekt zmian konduktancji półprzewodnika po wprowadzeniu nadmiarowych nośników ładunku. W praktyce najczęściej stosowane są trzy stosunkowo szybkie bezkontaktowe grupy metod pomiaru efektywnego czasu życia nośników ładunku: 1) Grupa metod nierównowagowych polegająca na pomiarze stałej opisującej zanik w czasie przewodnictwa fotoelektrycznego po krótkim impulsie promieniowania wstrzykującego nośniki nadmiarowe. Czas trwania impulsu jest w tym przypadku znacznie krótszy od czasu życia nośników w badanej płytce i przy badaniu płytek krzemowych wynosi około 200 ns. Zanik przewodnictwa fotoelektrycznego rejestrowany jest poprzez pomiar zmian amplitudy odbitej wiązki mikrofalowej [1-3]. 2) Grupa metod stacjonarnego pomiaru zmian przewodnictwa fotoelektrycznego w funkcji zmian natężenia wiązki promieniowania generującej nośniki w warunkach quasi-statycznych (QSSPC - Quasi-Steady-State Photoconductance) [4-6]. Oznacza to, że natężenie strumienia promieniowania generującego nośniki nadmiarowe zmieniane jest stosunkowo wolno w stosunku do czasu życia nośników ładunku tak, że w każdej chwili można przyjmować stacjonarny model przewodnictwa fotoelektrycznego. Obydwie z wymienionych grup metod pozwalają na pomiar efektywnego czasu życia[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 54285 "Wyznaczanie czasu życia n..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2010-9 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2010-9

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma