Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2010 - zeszyt 9

Rozpoznawanie uszkodzeń parametrycznych w nieliniowych układach analogowych, przy wykorzystaniu transformacji falkowej i sztucznej sieci neuronowej

ANDRZEJ KUCZYŃSKI

nr katalogowy: 54275

Badanie i rozpoznawanie uszkodzeń w urządzeniach elektronicznych jest jednym z podstawowych zagadnień w zakresie produkcji niezawodnych i bezpiecznych systemów złożonych z wielu elementów. Do diagnozy błędów w cyfrowych układów elektronicznych zostały opracowane skuteczne narzędzia działające automatycznie, natomiast w diagnostyce układów analogowych nie opracowano równie ogólnych i niezawodnych technik i dlatego opiera się ona głównie na doświadczeniach inżynierów. Przegląd publikacji z dziedziny diagnostyki [1, 2] wskazuje, że są rozpatrywane dwa podstawowe rodzaje uszkodzeń: katastroficzne i parametryczne. W przypadku uszkodzeń katastroficznych, które polegają na zwarciu lub rozwarciu elementu, mamy do czynienia ze zmianą topologii obwodu. Sytuacje, w których nie zachodzi zmiana topologii obwodu, lecz wartości parametrów układu różnią się od nominalnych, nazywane są uszkodzeniami parametrycznymi. Oba typy uszkodzeń mogą powodować nieprawidłowe działanie lub nawet zniszczenie systemu, dlatego tak duże znaczenie ma precyzyjne wykonanie diagnostyki wyprodukowanych przyrządów. Skuteczną techniką diagnozowania cyfrowych układów CMOS okazało się, wprowadzone na przełomie lat osiemdziesiątych i dziewięćdziesiątych dwudziestego wieku, monitorowanie prądu spoczynkowego (test IDDQ), zasilającego układ [3, 4]. W celu przezwyciężenia pewnych ograniczeń wspomnianej metody, zastosowano śledzenie prądu zasilania w stanie nieustalonym, wywołanym komutacją testową, która polegała na skokowej zmianie napięcia zasilania [5-7]. Sukces jaki odniosła opisana metoda w badaniach diagnostycznych układów cyfrowych spowodował, że zaczęto ją stosować również w odniesieniu do układów analogowych (test IDD) [9, 10]. Jednak duża zmienność takich układów powoduje, że zagadnienie ich diagnostyki jest zadaniem trudnym i nadal aktualnym pod względem badawczym. W drugiej połowie lat dziewięćdziesiątych pojawiły się prace, w których zastosowano sieci neur[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 54275 "Rozpoznawanie uszkodzeń p..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2010-9 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2010-9

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma