Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2010 - zeszyt 9

Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych

nr katalogowy: 54259

Monitorowanie prądu zasilania układu scalonego w stanie statycznym (ang. quiescent state) jest powszechnie uznaną i stosowaną metodą testowania układów cyfrowych klasy CMOS. Metoda ta jest w skrócie określana jako testowanie IDDQ (ang. IDDQ testing). Prąd zasilania IDD cyfrowych układów CMOS w stanie statycznym jest minimalny dla struktury nieuszkodzonej (równy sumie prądów upływności złącz i bramek izolowanych warstwą SiO2) i rośnie radykalnie w przypadku wystąpienia zwarcia otwierającego drogę dla przepływu prądu do masy układu. Diagnostyka analogowych układów scalonych (AUS) metodą IDDQ jest znacznie trudniejszym wyzwaniem m.in. z uwagi na ciągły charakter sygnałów analogowych. Jednak łatwa dostępność pomiarowa oraz podatność poziomu prądu zasilania na defekty układu zachęcają do stosowanie metody IDDQ również dla AUS [1-4]. W dotychczasowych publikacjach można znaleźć rozwiązania poprawiające skuteczność diagnostyczną metody IDDQ przy badaniu AUS. Przykładowo, w publikacji [1] Autorzy proponują rejestrację prądu IDD przy zasilaniu układu przebiegiem piłokształtnym (dynamiczna metoda monitorowania prądu zasilania). W [2] zostały przedstawione rezultaty potwierdzające poprawę poziomu identyfikacji diagnostycznej AUS przy pomiarze statycznego prądu zasilania dla kilku wartości napięcia zasilania, które dobrano empirycznie. Uszkodzenia układów elektronicznych można generalnie podzielić na: katastroficzne (ang. catastrophic faults, hard faults) i parametryczne (ang. parametric faults, soft faults) [5, 6]. Uszkodzenia katastroficzne AUS są spowodowane przez radykalną zmianę parametrów struktury scalonej (np. przebicie złącza lub warstwy SiO2, zwarcie lub przerwa powstałe w procesie technologicznym). Uszkodzenia parametryczne powstają w wyniku dewiacji parametrów poza obszar dozwolony, którego brzegi są określone przez tolerancje specyfikacji projektowych układu. Z uwagi na dokładność, metody diagnostyki AUS można podzielić n[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 54259 "Diagnostyka analogowych u..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2010-9 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2010-9

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma