Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2010 - zeszyt 8

Wpływ otoczenia na pomiary emisyjności układów mikroelektronicznych

nr katalogowy: 53914

Pole emisyjności układów mikroelektronicznych (cienkoi grubowarstwowych, hybrydowych, miniaturowych typu PCB o dużej gęstości upakowania, typu MEMS) zwykle jest bardzo zróżnicowane (np., emisyjność ścieżek miedzianych może wynosić 0,07, zaś obudów ceramicznych - 0,97 [1]). Pomiary temperatury wykonywane jednopasmowymi kamerami termowizyjnymi muszą zwykle być poprzedzone pomiarami emisyjności. W elektronice najczęściej stosowane są kamery z chłodzonymi detektorami fotonowymi z uwagi na ich wysoką dokładność, szybkość i długoterminową stabilność parametrów. Niekiedy, dla rozwiązania problemu zróżnicowanej emisyjności, układy są pokrywane cienką dielektryczną warstwą o wysokiej emisyjności, lecz w wielu przypadkach rozwiązanie takie jest niedopuszczalne [2]. W typowej dla układów mikroelektronicznych sytuacji pomiarowej promieniowanie otoczenia (opromieniowanie układu) często jest czynnikiem determinującym dokładność pomiaru. Układ pomiarowy i podstawowe zależności Do pomiaru emisyjności w układach mikroelektronicznych można zastosować układ pomiarowy przedstawiony na rys. 1. Izolowany boks pomiarowy służy do podgrzewania układu do jednorodnej temperatury. W przypadku układów quasi-planarnych powierzchnię izotermiczną można często uzyskać stosując podgrzewanie od tyłu przy użyciu płyty grzewczej. Po uzyskaniu przez badany układ zadanej temperatury odsuwana jest pokrywa boksu i rejestrowany jest obraz układu. W ogólnym przypadku każdy obszar układu opisany parametrem GIFOV (Ground Instantaneous Field-Of-View - parametr określający wymiary liniowe obszaru będącego polem widzenia pojedynczego detektora) posiada swoje własne otoczenie. Otoczenie to stanowi atmosfera (warstwa powietrza pomiędzy kamerą i układem), elementy pomieszczenia, w którym przeprowadzane są pomiary (otoczenie pozaukładowe na rys. 1), kamera, elementy boksu pomiarowego oraz elementy samego układu. Do kamery dociera zarówno promieniowanie układu jak i promie[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 53914 "Wpływ otoczenia na pomiar..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2010-8 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2010-8

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma