Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2010 - zeszyt 6

Zastosowanie interferometrii niskokoherentnej do jednoczesnego pomiaru grubości i współczynnika załamania struktur warstwowych

nr katalogowy: 52287

Interferometria niskokoherentna, nazywana także interferometrią światła białego jest atrakcyjną metodą pomiarową, oferującą dużą zdolność rozdzielczą, wysoką czułość i krótki czas pomiarów. W przeciwieństwie do klasycznej interferometrii, wykorzystującej źródła promieniowania optycznego o dużej koherencji czasowej, interferometria niskokoherentna umożliwia pomiary bezwzględne. Ze względu na łatwą możliwość odseparowania sygnału optycznego pochodzącego z interferencji od sygnału tła, interferometria niskokoherentna jest szczególnie przydatna do badań obiektów o różnych właściwościach optycznych - od transparentnych do silnie rozpraszających. Z tego względu znalazła ona zastosowanie między innymi w optycznej tomografii koherentnej (OCT) do obrazowania obiektów niejednorodnych. OCT jest mocno rozwijana w zastosowaniach medycznych jako nieinwazyjne narzędzie diagnostyczne w obrazowaniu biomedycznym, szczególnie w okulistyce, dermatologii, stomatologii, kardiologii i endoskopii [1-3]. Tomografia ta znalazła także zastosowanie w badaniach obiektów technicznych, np. ceramiki [4-7], warstw antykorozyjnych [8, 9], polimerów [4, 10, 11], materiałów kompozytowych [12], papieru [13], elementów mikromechanicznych [4]. W badaniach obiektów technicznych bardzo duże znaczenie ma pomiar grubości warstw. Interferometrem mierzona jest różnica dróg optycznych w ramionach pomiarowym i odniesienia. Pomiar grubości geometrycznej warstwy metodami interferometrycznymi jest możliwy przy znajomości współczynnika załamania warstwy. Niestety, często współczynnik ten nie jest znany, w wyniku czego za pomocą interferometrii optycznej dokonujemy pomiaru jedynie grubości optycznej warstw. W pracy zostaną przedstawione opracowane metody jednoczesnego pomiaru grubości geometrycznej warstwy i współczynnika załamania. Jedna z nich oparta jest na pomiarach położenia górnej powierzchni granicznej warstwy, jej grubości optycznej i położenia podłoża, na którym się[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 52287 "Zastosowanie interferomet..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2010-6 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2010-6

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma