Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2010 - zeszyt 5

Pomiary czasu życia nadmiarowych nośników ładunku w obszarach bliskich granicom ziaren z wykorzystaniem barierowego efektu fotowoltaicznego

nr katalogowy: 51812

Czas życia nośników mniejszościowych jest istotnym parametrem służącym do oceny jakości multikrystalicznego krzemu przeznaczonego do produkcji ogniw słonecznych. Analizowanie zmian czasu życia nośników nadmiarowych po poszczególnych procesach technologicznych takich jak generowanie, czy pasywacja pozwala na optymalizację tych procesów. Najczęściej stosowane metody pomiaru czasu życia nośników prądu w mono i multikrystalicznych płytkach krzemowych wykorzystują efekt zmian konduktancji półprzewodnika po wprowadzeniu nadmiarowych nośników ładunku. W praktyce stosowane są dwie bezkontaktowe metody: - metoda zaniku w czasie fotoprzewodnictwa po krótkim impulsie promieniowania wstrzykującego nośniki nadmiarowe (czas trwania impulsu << czasu życia nośników, zwykle około 200 ns). Zanik fotoprzewodnictwa rejestrowany jest poprzez zmiany amplitudy odbitej wiązki mikrofalowej (μW-PCD) [1-3], - metoda indukcyjnego pomiaru zmian fotoprzewodnictwa w warunkach quasi-statycznych (QSSPC) [4,5,6], to znaczy gdy natężenie strumienia promieniowania generującego nośniki nadmiarowe zmieniane jest stosunkowo wolno w stosunku do czasu życia nośników prądu tak, że w każdej chwili można przyjmować stacjonarny model fotoprzewodnictwa. Obydwie z wymienionych metod pozwalają na pomiar efektywnego czasu życia nośników prądu wynikającego z konkretnej szybkości rekombinacji powierzchniowej występującej na mierzonej płytce. Osobny problem stanowi wpływ długoczasowych centrów pułapkowych na pomiary realizowane tymi metodami. Wpływ ten udaje się zwykle ujawnić i wykluczyć poprzez stacjonarne dodatkowe oświetlenie płytki. Metoda μW-PCD pozwala na pomiary czasu życia nośników prądu w stosunkowo małych obszarach wynikających ze średnicy sondy wstrzykującej promieniowanie i długości drogi dyfuzji nośników w badanym obszarze, a także konstrukcji układu mikrofalowego. Metoda QSSPC zastosowana w urządzeniach typu Sinton daje rezultaty uśrednione z dużeg[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 51812 "Pomiary czasu życia nadmi..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2010-5 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2010-5

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma