Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2010 - zeszyt 4

Nanoskopowa analiza orientacji domen magnetycznych z wykorzystaniem technik bliskiego pola

nr katalogowy: 51522

NiFe thin films deposited onto Si substrate at room temperature via impulse magnetron sputtering. Magnetron deposition was carried out in sputtering power 550 W and different argon pressure (0.4, 1.0, 4.0 Pa). The ferromagnetic layers thicknesses were 80, 150 and 120 nm respectively. The samples were characterized by X-Ray diffraction. Effect of sputtering parameters on domain structure, as explored by magnetic force microscopy (MFM), was focused. The investigation showed a variety of magnetic domain microstructures (Utilisation of Near Field Microscopy for Nanoscopic Analysis of Magnetic Domain Orientation). Streszczenie. Cienkie warstwy NiFe otrzymano na szkle kwarcowym za pomocą impulsowego rozpylania magnetronowego. Proces nakładania prowadzono przy stałej mocy (550 W) i różnym ciśnieniu gazu roboczego (0,4, 1,0, 4,0 Pa). Zbadano strukturę domenową otrzymanych warstw za pomocą mikroskopii sił magnetycznych (MFM). Grubość powłok zawierała się w przedziale od 80 do 150 nm. Keywords: magnetic force microscopy, magnetic domains, thin films Ni-Fe, magnetron sputtering. Słowa kluczowe: mikroskopia sił magnetycznych, domeny magnetyczne, cienkie warstwy Ni-Fe, rozpylanie magnetronowe. Wstęp Nanotechnologia, będąca nowym kierunkiem nauki, powstałym w wyniku intensywnego jej rozwoju umożliwia prowadzenie badań na poziomie mikro- i nanoskopowym. Stosowanie nieustannie rozwijanych, nowoczesnych narzędzi badawczych pozwala na określenie właściwości materiałów trudnych lub niemożliwych do opisania za pomocą tradycyjnych metod. Mikroskopia bliskiego pola, w szczególności mikroskopia sił atomowych (AFM, ang. Atomic Force Microscopy) dostarcza informacji na temat różnych właściwości powierzchni badanego obiektu [1, 2]. Możliwe jest to dzięki pomiarowi sił Van der Waalsa, lepkości, magnetycznych i elektrostatycznych występujących między badaną powierzchnią, a skanującym ostrzem znajdującym się w odległości od uła[...]

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 51522 "Nanoskopowa analiza orien..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2010-4 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2010-4

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma