Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2024 - zeszyt 10

Skuteczność ekranowania wnętrza małej obudowy z otworem przed subnanosekundowym impulsem EM o polaryzacji równoległej

The shielding effectiveness of the interior of a small enclosure with an aperture against subnanosecond electromagnetic pulse with parallel polarization

10.15199/48.2024.10.56

nr katalogowy: 150782
10.15199/48.2024.10.56

Streszczenie

W artykule przedstawiono wyniki badań numerycznych pozwalających na wyznaczenie skuteczności ekranowania (SE) wnętrza obudowy ekranującej z otworem przed subnanosekundowymi impulsami elektromagnetycznymi o polaryzacji równoległej. W badaniach zastosowano środowisko CST Studio. Symulacje obejmowały wykonanie obliczeń numerycznych za pomocą solwera w dziedzinie czasu. Obserwacja czasowych charakterystyk pola EM w dwóch charakterystycznych punktach A i B wewnątrz obudowy wykazała, że pola elektryczne i magnetyczne przyjmują postać impulsów wewnętrznych o amplitudach mniejszych niż amplitudy impulsu zaburzającego. Mimo, że amplitudy tych impulsów są mniejsze to czas ich oddziaływania jest znacznie dłuższy niż czas trwania impulsu zaburzającego. Wynika z tego, że oddziaływania słabszych impulsów, ale w wystarczająco długim czasie może powodować poważne szkody w urządzeniach elektronicznych

Abstract

The article presents the results of numerical investigations allowing for the determination of the shielding effectiveness (SE) of the interior of an enclosure with an aperture against subnanosecond electromagnetic pulses with parallel polarization. The research employed the CST Studio environment. The simulations involved performing numerical computations using a time-domain solver. Observation of the temporal characteristics of the EM field at two characteristic points, A and B, inside the enclosure revealed that the electric and magnetic fields took the form of internal impulses with amplitudes smaller than those of the incident pulse. Although the amplitudes of these impulses are smaller, their interaction time is significantly longer than the duration of the disturbing pulse. It follows that the interactions of weaker impulses, but over a sufficiently long period, can cause serious damage to electronic devices

Słowa kluczowe

Keywords

Bibliografia

[1] Kopp, C.; Pose, R. The Impact of Electromagnetic Radiation Considerations on Computer System Architecture, Dept. of Computer Science, Monash University, Clayton, Victoria, Australia, 2016.
[2] Sabath, F. Threads of Electromagnetic Terrorism, EUROEM 2012, Book of abstracts, EUROEM 2012 – ONERA, Toulouse, France, 2012.
[3] High Power Microwave Technology and Effects, University of Maryland, Short Course Presented to MSIC Redstone Arsenal, Alabama August 8-12, 2005.
[4] Fei, X.; Bing, C.; Chenglong, L. Damage efficiency research of PCB components under strong electromagnetic pulse, Applied Mechanics and Materials, vol. 130-134, pp. 1383-1386, 2012.
[5] Kopp, C.; Pose, R. The Impact of Electromagnetic Radiation Considerations on Computer System Architecture, Dept. of Computer Science, Monash University, Clayton, Victoria, Australia, 2016.
[6] Nitsch, D.; Sabath, F.; Schmidt, H.-U., Braun, C. Comparison of the HPM and UWB Susceptibility of Modern Microprocessor Boards, System Design and Assessment, Note 36, 2002.
[7] IEEE Standard Method for Measuring the Shielding Effectiveness of Enclosures and Boxes Having all Dimensions between 0.1 m and 2 m, IEEE Standard 299.1-2013, 2014.
[8] Budnarowska, M.; Mizeraczyk, J. Determination of Shielding Effectiveness of a Subnanosecond High-Power EM Interference by an Enclosure with Aperture Using Time Domain Approach. Energies, 16(4), 1931, 2023.
[9] Budnarowska, M.; Mizeraczyk, J., Studański, R. Pole elektromagnetyczne w obudowie ekranującej z otworem technologicznym po zaburzeniu ultrakrótkim impulsem fali płaskiej dużej mocy. Przeglad Elektrotechniczny, 98(3), 2022.
[10] Budnarowska, M.; Mizeraczyk, J. Temporal and Spatial Development of the EM Field in a Shielding Enclosure with Aperture after Transient Interference Caused by a Subnanosecond High-Energy EM Plane Wave Pulse. Energies, 14(13), 3884, 2021.
[11] Budnarowska, M.; Mizeraczyk, J. Determination of Shielding Effectiveness of a Subnanosecond High-Power EM Interference by an Enclosure with Aperture Using Time Domain Approach. Energies, 16(4), 1931, 2023.
[12] www.cst.com

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY- e-publikacja (pdf) z zeszytu 2024-10 , nr katalogowy 150782 licencja: Osobista Produkt cyfrowy Nowość	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY- e-zeszyt (pdf) 2024-10 licencja: Osobista Produkt cyfrowy Nowość	85.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2024-10

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma