Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2021 - zeszyt 11

Designing LabVIEW Application for Impedance Measurement by using Differential Probe

10.15199/48.2021.11.10

nr katalogowy: 134122
10.15199/48.2021.11.10

Streszczenie

The paper purposed to design a LabVIEW application for measuring the S-parameters and impedance for high-frequency electronic devices such as RFID tag or antenna which cannot be connected to a connector by using a differential probe. A differential probe was fabricated from RG 402 semi-rigid coaxial cable for connecting to the impedance test point and to the vector network analyzer for S-parameter measurements. The LabVIEW Application was developed for data collection of S-parameter from the vector network analyzer and then the data used to calculate and determine the impedance of the device.

Abstract

Artykuł miał na celu zaprojektowanie aplikacji LabVIEW do pomiaru parametrów S i impedancji dla urządzeń elektronicznych o wysokiej częstotliwości, takich jak znacznik RFID lub antena, których nie można podłączyć do złącza za pomocą sondy różnicowej. Sonda różnicowa została wykonana z półsztywnego kabla koncentrycznego RG 402 do podłączenia do punktu pomiaru impedancji oraz do wektorowego analizatora sieci do pomiarów parametrów S. Aplikacja LabVIEW została stworzona do zbierania danych parametru S z wektorowego analizatora sieci, a następnie danych służących do obliczenia i określenia impedancji urządzenia. (Projektowanie aplikacji LabVIEW do pomiaru impedancji przy użyciu sondy różnicowej)

Słowa kluczowe

Keywords

Bibliografia

[1] Kuo, S. K., Chen, S. L., Lin, C. T., An Accurate Method for Impedance Measurement of RFID Tag Antenna, Progress In Electromagnetics Research, 83 (2008), 93-106
[2] Palmer, K. D., & van Rooyen, M. W., Simple broadband measurements of balanced loads using a network analyzer, IEEE transactions on instrumentation and measurement, 55 (2006), No. 1, 266-272
[3] Hutter, M., Schmidt, J. M., Plos, T. Contact-based fault injections and power analysis on RFID tags. In 2009 European Conference on Circuit Theory and Design, (2009), 409-412
[4] Jankowski-Mihułowicz, P., Pitera, G., Węglarski, M., The impedance measurements problem in antennas for rfid technique. Metrology and Measurement Systems, 21 (2014), No. 3, 509-520
[5] Pumpoung T., Phongcharoenpanich C., Design of wideband tag antenna for UHF RFID system using modified T-match and meander-line techniques, Electromagnetics J, 35 (2015), No. 5, 340-354
[6] Qing, X., Goh, C. K., Chen, Z. N., Impedance characterization of RFID tag antennas and application in tag co-design. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 57 (2009), No. 5, 1268-1274
[7] Kamalvand, P., Pandey, G. K., Meshram, M. K., RFID tag antenna for ultra and super high frequency band applications. International Journal of RF and Microwave Computer‐Aided Engineering, 26 (2016), No. 7, 640-650
[8] K. Jianhua, S. Fangyi, Z. Weidong and P. Jie, "Application of Network Analyzer Based on the Automatic Control of LabVIEW in Radio and Television Test," 2013 International Symposium on Biometrics and Security Technologies, 2013, pp. 14-19.
[9] Alqudsi, A., Costanzo, I., Mavretic, A., Ludwig, R., Developing a High-Power Multilayer Ceramic Capacitor Qualification Test Setup for RF Subsystems. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 68 (2018), No. 9, 3396- 3404
[10] Jin, Z., Huo, L., Long, T., Guo, X., Tu, J., Zhang, D., An online impedance analysis and matching system for ultrasonic transducers. IEEE transactions on ultrasonics, ferroelectrics, and frequency control, 66 (2018), No. 3, 591-599
[11] Zhao, Z., Rao, H., Jin, F., Wang, J., Zhu, L., Song, J., ... & Mo, W. GMI Effect Automatic Test System Based on Network Analyzer. In 2018 37th Chinese Control Conference (CCC), (2018), 7380-7383
[12] SZLACHTA, A., ODON, A., BEDNAREK, P., System wizyjny jako interfejs pomiarowy. Przegląd Elektrotechniczny, 91 (2015), No. 12, 292-295.
[13] Electronic Components Datasheet Search, “RG402 Datasheet.” Available at: https://www.alldatasheet.com/view.jsp?Search word=Rg402&gclid=CjwKCAjwv_iEBhASEiwARoemvE-ytNSka -, 2021
[14] Pozar D. M., Microwave Engineering, John Wiley & Sons, 2012
[15] LabVIEW User Manual, National Instruments Corporation, 2015
[16] National Instruments, “Instrument driver Network for Keysight Technologies/Agilent Technologies E5071C,” Available at: http://sine.ni.com, 2017
[17] Keysight Technologies 2000-2021, “E5071C ENA Vector Network Analyzer,” Available at: http://www.keysight.com/ en/pdx-x202270-pn-E5071C, 2021

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY- e-publikacja (pdf) z zeszytu 2021-11 , nr katalogowy 134122 licencja: Osobista Produkt cyfrowy Nowość	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY- e-zeszyt (pdf) 2021-11 licencja: Osobista Produkt cyfrowy Nowość	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2021-11

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma