Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2018 - zeszyt 8

Akademia LabView

LabVIEW Academy

10.15199/48.2018.08.19

nr katalogowy: 115222
10.15199/48.2018.08.19

Streszczenie

Akademia LabVIEW (ang. LabVIEW Academy) to nowoczesny kurs projektowania układów elektronicznych za pomocą środowiska programistycznego LabVIEW firmy National Instruments. Pakiet edukacyjny zawierający materiały do wykładów, filmy szkoleniowe i przykładowe pytania egzaminacyjne jest przygotowany przez firmę National Instruments. Uczelnia posiadająca uprawnienia do Akademii LabVIEW musi zapewnić laboratorium wyposażone w komputery, oprogramowanie, sprzęt oraz zaoferować studentom kurs korzystania ze środowiska LabVIEW. W trakcie kursu studenci zdobywają wiedzę o środowisku LabVIEW i są przygotowywani do egzaminu certyfikującego CLAD (Certified LabVIEW Associate Developer). CLAD jest uznawanym na całym świecie certyfikatem pierwszego stopnia, poświadczającym podstawowe umiejętności programistyczne w środowisku NI LabVIEW. W 2018 r. w Polsce działa 21 Akademii LabVIEW na 13-tu uczelniach. W artykule przedstawiono Akademię LabVIEW na przykładzie jej realizacji w Politechnice Poznańskiej.

Abstract

The National Instruments NI LabVIEW Academy free-of-charge training program is designed to prepare students to use the LabVIEW environment. The company provides the academic institution an educational package, while the university must provide a laboratory equipped with computers, software, hardware and perform the course of using the LabVIEW environment. During the course, students gain knowledge about the LabVIEW environment and are prepared for the CLAD (Certified LabVIEW Associate Developer) certification exam. The CLAD certificate is a worldrecognized first-level certificate that certifies basic programming skills in the NI LabVIEW environment. In 2018, there are 21 LabVIEW academies active at 13 universities in Poland. This article presents the LabVIEW Academy on the example of its realization at the Poznan University of Technology.

Słowa kluczowe

Keywords

Bibliografia

[1] A. Dąbrowski, A. Meyer, P. Pawłowski, R. Weychan, P. Kardyś, A. Chmielewska, A. Namerła, Od metrologii do systemów wizyjnych: środowisko NI LabVIEW w laboratoriach naukowych, Wiadomości elektrotechniczne, Wyd. Sigma NOT, LXXIX, 11/2011, (2011), 42-44
[2] A. Dąbrowski, P. Pawłowski, P. Kardyś, A. Meyer, A. Chmielewska, R. Weychan, A. Namerła, Creating Automatics and Robotics Courses Using LabVIEW, NI ELVIS II, NI CompactDAQ, and NI Vision, National Instruments Case Study Booklet - Eastern Europe, (2011), 33 - 37
[3] P. Pawłowski, A. Namerła, Wpływ komponentów sprzętowoprogramowych na wydajność systemów automatycznej inspekcji wizyjnej, Przegląd Elektrotechniczny (Electrical Review), R. 89, Nr 10/2013, (2013), 126 - 129
[4] P. Reszel, P. Pawłowski, A. Dąbrowski, Budowa zautomatyzowanych systemów pomiarowych w środowisku NI LabVIEW, Elektronika - konstrukcje, technologie, zastosowania, miesięcznik n-t, Wyd. Sigma NOT, p-ISSN: 0033-2089, (2013), nr 10, 45-48
[5] A. Chmielewska, A. Dąbrowski, A. Namerła, P. Pawłowski, R. Weychan, M. Stankiewicz, Comparison of NI LabVIEW and NI Vision Builder AI environments in fast prototyping of video processing algorithms for CCTV using smart camera, Elektronika - konstrukcje, technologie, zastosowania, miesięcznik n-t, Wyd. Sigma NOT, 5/2011, (2011), 72 - 76
[6] National Instruments, LabVIEW 2017 Help, March 2017, 371361P-01, (2017)
[7] P. Pawłowski, R. Binek, D. Mojs, J. Ochowiak, Interaktywny manipulator typu platforma Stewarta sterowany w środowisku LabVIEW, Przegląd Elektrotechniczny, ISSN 0033-2097, R. 92 NR 9/2016, DOI:10.15199/48.2016.09.35, (2016), 133 - 136
[8] National Instruments, NI LabVIEW Academy, http://poland.ni.com/dla-uczelni/labview-academy, dostęp 1.03.2018r.
[9] National Instruments, NI LabVIEW Certifications", http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/pl/nid/201888, dostęp 1.03.2018r.
[10] National Instruments, NI ELVIS II, Educational Laboratory Virtual Instrumentation Suite, 2018
[11] National Instruments, CLAD Preparation Guide using LabVIEW 2017, Rev. Nov. 13 2017

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 115222 "Akademia LabView..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2018-8 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2018-8

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma