Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2018 - zeszyt 8

Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych

Method of refractive indices determination on the films interfaces based on reflectances envelopes

10.15199/48.2018.08.14

nr katalogowy: 115217
10.15199/48.2018.08.14

Streszczenie

W pracy przedstawiana jest nowa metoda wyznaczania wspólczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni ich widm odbciowych. Podawane są proste wzory na współczynniki załamania na powierzchniach granicznych warstwy, które weryfikowane są teoretycznie i eksperymentalnie. Wyliczone prezentowaną metodą współczynniki załamania używane były w obliczeniach widm odbiciowych, które porównywane są z wyjściowymi widmami eksperymentalnymi.

Abstract

The presentation shows the new method allowing determination of refractive indices at interfaces of dielectric films. The method is basing on the analysis of envelopes of reflectance spectra. In the presentation there are shown theoretical foundations of simple mathematical formulas, describing refractive index values at film interfaces as well as experimental results that postively verified our method. In the first step, values of the refractive index at films interfaces were determined using our method. In the second step, reflectance spectra were calculated using the values of refractive indices obtained in the first step and compared with measured ones.

Słowa kluczowe

Keywords

Bibliografia

[1] P. Karasiński, M. Skolik, ,Sol-gel derived antireflective structures for applications in silicon solar cells, Proc. SPIE, 10175, pp.1017517, 2016
[2] E. Gondek, P. Karasiński, ,High reflectance materials for photovoltaics applications: analysis and modelling, J Mater Sci: Mater Electron, vol. 24, pp. 2934-2943, 2013
[3] T.D. Lee, A. U. Ebong, A review of thin film solar cell technologies and challenges, Renew Sustain Energy Rev, vol. 70, pp. 1286-1297, 2017
[4] K. Wörhoff, R. G. Heideman, A. Leinse M. Hoekman, TriPleX: a versatile dielectric photonic platform, Adv. Opt. Techn. vol. 4(2) pp.189-207, 2015
[5] P. Karasiński, C. Tyszkiewicz, A. Domanowska, A. Michalewicz, J. Mazur, ,Low loss, long time stable sol-gel derived silica-titania waveguide films, Mat. Lett. Vol. 143, pp.5- 7, 2015
[6] R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and polarized light, North-Holland, Amsterdam, 1987
[7] P. Karasiński, C. Tyszkiewicz, R. Rogoziński, J. Jaglarz, J. Mazur, Optical rib waveguides based on sol-gel derived silica- titania films, Thin Solid Films, vol. 519, pp. 5544-5551, 2011
[8] J.C. Manifacier, J.Gasiot, J.P. Fillard, A simple method for the determination of the optical constants n, k and the thickness of a wekly absorbing thin film, J. Phys. E, vol.9. pp. 1002-1004, 1976
[9] J.C. Martínez-Antón, Determination of optical parameters in general film-substrate systems: a reformulation based on the concepts of envelop extremes and local magnitudes, Appl. Opt. vol. 39(25) pp.4557-4568, 2000
[10] J. Szczyrbowski, A. Czapla, On the determination of optical constants of films, J. Phys. D: Appl. Phys., vol. 12, pp. 1737- 1751, 1979
[11] T. Pisarkiewicz, T. Stapinski, H. Czternastek, P. Rava, Inhomogeneity of amorphous-silicon thin-films from opticaltransmission and reflection measurements, J. Non-Cryst. Solids 137, pp.619-22, 1991
[12] P. Karasiński, C. Tyszkiewicz, M. Skolik, T. Błaszczyk, A. Kaźmierczak, Determination of non-uniformity of the refractive index in thin films from the reflectance spectra, w przygotowaniu do Optics Express

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 115217 "Metoda wyznaczania współc..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2018-8 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2018-8

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma