Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2017 - zeszyt 8

Effect of annealing on the Structure of thermal evaporated In2S3 thin films

Wpływ obróbki temperaturowej na termicznie naparowane cienkie warstwy In2S3

10.15199/48.2017.08.23

nr katalogowy: 108535
10.15199/48.2017.08.23

Streszczenie

Structural studies on In2S3 thin films deposited by vacuum thermal evaporation on glass substrates at a temperature of 240oC, followed by annealing at 330°C and 400°C are presented. It was shown that the films were of amorphous in nature before annealing and after annealing the films became polycrystalline and showed β- In2S3 structure. The grain size increased and followed the usual crystal growth process as the annealing temperature increased. The annealing-induced changes of surface roughness were characterized by atomic force microscopy.

Abstract

Przedstawiono wyniki badania struktury cienkich warstw In2S3 naniesionych metodą termicznego osadzenia na szkło w próżni w temperaturach od 240oC i kolejnym wygrzewaniem w temperaturach 330oC i 400oC. Ustalono że warstwy miały amorficzną naturę przed wygrzewaniem, po wygrzewaniu wykazywały strukturę polikrystaliczną typu β-In2S3. Rozmiar ziaren powiększał się na skutek aktywnej nuklearyzacji i to przyczyniało się do zwykłej krystalizacji ze wzrostem temperatury. Zmiany zostały przeanalizowane za pomocą AFM.

Keywords

Bibliografia

[1] Seyam M.A., Vacuum, 63 (2001), 441-447
[2] Hara K., Sayama K., Arakawa H., Sol. Energy Mater. Sol. Cells, 62 (2001), 441-449
[3] Shay J.L., Tel l B., Surf. Sci., 37, 748-752 (1973)
[4] George J., Joseph K.S., Prodeep B., Phys. Status. Solidi. Appl. Res., 106 (1988), 123-127
[5] Barreau N., Bernède J.C., Mar s i l l ac S., Thin Solid Films, 431 (2003), 326-331
[6] Bube R.H., McCarroll W.H., J. Phys. Chem. Solids, 10 (1959), 333-340
[7] Naghavi N., Spi e ring S., Powalla M., Cavana B. and Lincot D., Prog. Photovolt. Res. Appl., 11 (2003), 437-443
[8] Strohm A., Eisenmann L., Gebhardt R.K., Harding A., Schlotzer T., Abou-Ras D., Schock H.W., Thin Solid Films, 480-481, 162-167 (2005)
[9] Nehra S.P., Chander S., Anshu Sharma, Dhaka M.S., Mater. Sci. Semicond. Process., 40 (2015), 25-29
[10] Nagabhushana K.R., Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. B, 266 (2008), 1040-1042
[11] Woka M.K., Ottaviano L., Szuber J., Thin Solid Films, 515 (2007), 8328-8332
[12] Li ta E., Sanchez J.E., J. Appl. Phys., 85 (1999), 876-881
[13] Izadneshan H., Gremenok V.F., J. Appl. Spectros., 81 (2014), 293-296
[14] Izadneshan H., Gremenok V.F., J. Appl. Spectros., 81 (2014), 765-770
[15] Bhatti M.T., Rana A.M., Khan A.F., Mater. Chem. Phys., 84 (2004), 126-130
[16] Xiong Y., X ie Y., Du G., T ian X., Q ian Y., J. Solid. State. Chem., 166 (2002), 33-40
[17] Powder Diffraction File, Joint Committee on Powder Diffraction Standards, ASTM, Philadelphia, PA, 1967, Card 250390
[18] Powder Diffraction File, Joint Committee on Powder Diffraction Standards, ASTM, Philadelphia, PA, 1967, Card 050731
[19] Sandoval M.G., Sotelo-Lerma M., Valenzuel a - Jauregu i J.J., Flores-Acosta M., Ramirez-Bon R., Thin Solid Films, 472 (2005), 5-10
[20] Revathi N., Prathap P., Subbaiah Y.P., Reddy K.T., J. Phys. D: Appl. Phys., 41 (2008), 155404-155408
[21] Cul l i t y D., Elements of X-ray Diffraction, Addison-Wesley Publishing Company Inc., (1956), 262-269
[22] Ursaki V.V., Manjón F.J., Tiginyanu I.M., Tezlevan V.E., J. Phys.: Condens. Matter, 14 (2002), 6801-6813
[23] Revathi N., Prathap P., Reddy K.T., Solid State Sci., 11 (2009), 1288-1296
[24] Kambas K., Spyr idel is J., Balkansk i M., Phys. Status Solidi, 105 (1981), 291-296
[25] Tao H., Zang H., Dong G., Zeng J., Zhao X., Optoelectron. Adv. Mater., 2 (2008), 356-359
[26] Raposo M., Ferreira Q., Ribeiro P.A., Modern Research and Educational Topics in Microscopy, FORMATEX, (2007), 758-769
[27] Gadelmawlaa E.S., Kourab M.M., Maksoudc T.M.A., Elewaa I.M., Sol imand H.H., J. Mater. Process. Tech., 123 (2002), 133-140
[28] Wysocka K., Ulatowska A., Bauer J., Holowacz I., Savu B., Stanc iu G., Optica Applicata, 38 (2008), 130-135

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 108535 "Effect of annealing on th..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2017-8 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2017-8

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma