Czasopismo | ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA | Rocznik 2016 - zeszyt 11

Generowanie wieloprzebiegowych kontrolowanych testów losowych

10.15199/13.2016.11.21

nr katalogowy: 102450
10.15199/13.2016.11.21

Zauważalną niedoskonałością standardowego podejścia do kontrolowanego generowania testów losowych jest wysoka złożoność obliczeniowa procesu. Dlatego w artykule przedstawiona zostanie technika kontrolowanego generowania testów losowych pozwalająca w sposób znaczny zmniejszyć tę złożoność. Technika ta wykorzystuje ideę testów wieloprzebiegowych i w odróżnieniu od podejścia klasycznego skupia się na generowaniu całych kolejnych testów a nie pojedynczych wzorców testowych. Słowa kluczowe: kontrolowane generowanie testów losowych, testy wieloprzebiegowe, testy antylosowe.Spośród technik testowania opartych o "czarną skrzynkę" szerokie zastosowanie zarówno w odniesieniu do testowania współczesnych układów elektronicznych jak również oprogramowania mają testy losowe [1-4]. Nie zawsze jednak wydajność standardowych testów losowych jest wystarczająca. Dlatego powstało wiele rozszerzeń mających na celu zwiększenie ich efektywności. Cechą wspólną wielu propozycji jest wpływ na postać generowanych wzorców testowych [1, 3, 5, 6]. Testy generowane w ten sposób często określane są mianem kontrolowanych testów losowych (ang. Contrlled Random Tests). Jednym z podstawowych podejść do kontrolowanego testowania losowego jest testowanie antylosowe (ang. Antirandom Testing) [7]. W podejściu tym i podejściach pochodnych wykorzystywana jest określona miara tak, aby każdy kolejny generowany wzorzec testowy cechował się maksymalną odległością od wszystkich wykorzystanych dotychczas wzorców [7, 8]. Zauważalną niedoskonałością standardowego podejścia do kontrolowanego generowania testów losowych jest wysoka złożoność obliczeniowa procesu. W klasycznym podejściu wybór każdego kolejnego wzorca testowego wiąże się z koniecznością przeszukania zbioru możliwych wzorców testowych i wyborze tego, dla którego wartość przyjętej metryki będzie największa. Przy rzeczywistych rozmiarach domen wejściowych podejście klasyczne jest trudno akceptowalne. Dlatego w arty[...]

Bibliografia

[1] Anand S, Burke EK, Chen TY, Clark J, Cohen MB, Grieskamp W et al. 2013. An Orchestrated Survey of Methodologies for Automated Software Test Case Generation. J Syst Softw. 86(8): 1978-2001. ISSN:0164-1212.
[2] Junpeng L, Hai H, Kai-Yuan C, Chen TY. 2014. Adaptive and Random Partition Software Testing. IEEE T Systems, Man, and Cybernetics: Systems. 44(12): 1649-1664. doi:10.1109/ TSMC.2014.2318019
[3] Malaiya YK, Yang S. 1984. The Coverage Problem for Random Testing. In: Proceedings of the 1994 IEEE International Test Conference. ITC ’84; p. 237-245.
[4] Shahbazi A, Tappenden AF, Miller J. 2013. Centroidal Voronoi Tessellations - A New Approach to Random Testing. IEEE Transactions on Software Engineering. 39(2): 163-183. doi:10.1109/ TSE.2012.18.
[5] Tappenden AF, Miller J. A. 2009. Novel Evolutionary Approach for Adaptive Random Testing. IEEE Transactions on Reliability. 58(4): 619-633. doi:10.1109/TR.2009.2034288.
[6] Wu SH, Jandhyala S., Malaiya YK, Jayasumana AP. 2008. Antirandom testing: a distance-based approach. VLSI Design. 2008:1-2. Available from: http://dx.doi.org/10.1155/2008/165709.
[7] Malaiya YK. 1995. Antirandom Testing: Getting The Most Out Of Black-Box Testing. In: Proceedings of 6thIEEE International Symposium on Software Reliability Engineering. ISSRE ’95. IEEE Computer Society; p. 86-95. Available from: http://www. cs.colostate.edu.
[8] Mrozek, I. and Yarmolik, VN. 2012. Antirandom test vectors for BIST in hardware/software systems, Fundam. Inform., 119(2), p. 163-185. doi: 10.3233/FI-2012-732
[9] Nicolaidis M. 1992. Transparent BIST for RAMs. In: Proceedings IEEE. International Test Conference,Discover the New World of Test and Design, Baltimore, Maryland, USA, September 20-24, 1992. IEEE Computer Society. p. 598-607.
[10] Yarmolik S. 2008. Address sequences and backgrounds with different Hamming distances for multiple run March tests. International Journal of Applied Mathematics and Computer Science. 18(3): 329-339. doi:10.2478/v10006-008-0030-y.
[11] Mrozek I., Yarmolik VN. 2016 Multiple Controlled Random Testing. Fundam. Inform. 144(1): 23-43: doi: 10.3233/FI-2016-1322
[12] Mrozek, I., Yarmolik, VN. 2015. Kontrolowane generowanie optymalnych testów losowych. Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. 56(8) s. 64-66 doi:10.15199/13.2015.8.15.

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 102450 "Generowanie wieloprzebieg..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - e-zeszyt (pdf) 2016-11 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	35.00 zł

Prenumerata

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

420.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - papierowa prenumerata roczna	528.00 zł brutto 488.89 zł netto 39.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

570.00 zł

ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	636.00 zł brutto 588.89 zł netto 47.11 zł VAT (stawka VAT 8%)

636.00 zł

Zeszyt

2016-11

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma