Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2016 - zeszyt 11

A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus

10.15199/48.2016.11.06

nr katalogowy: 101948
10.15199/48.2016.11.06

A new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for fault detection and single soft fault localization in an analog tested circuit (A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus). Streszczenie. Przedstawiono nowe rozwiązanie testera JTAG BIST przeznaczonego do testowania torów analogowych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej, w której tor analogowy pobudzany jest buforowanym sygnałem z linii TMS, a odpowiedź czasowa tego toru na ten sygnał jest próbkowana przez przetwornik A/C wyposażony w interfejs JTAG. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w analogowym układzie badanym (Metoda testowania części analogowych analogowo-cyfrowych systemów elektronicznych wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1). Keywords: IEEE1149.1 test bus, fault diagnosis, microcontrollers, analog circuits. Słowa kluczowe: magistrala IEEE1149.1, diagnostyka uszkodzeń, mikrokontrolery, układy analogowe. Introduction The IEEE 1149.1 standard (JTAG) [1] is recently a commonly used standard for testing digital circuits, packets and systems. That is the reason of implementing the JTAG test bus in more and more nowadays manufactured medium- and large-scale integrated digital circuit. The test bus versatility makes it useful not only for testing, but also for programming and debugging e.g. FPGA and CPLD circuits, as well as microcontrollers. Thus[...]

Bibliografia

[1] Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architeture, IEEE Std 1149. ™-2001, (2008)
[2] Czaja Z., Bartosiński B., Using an IEEE1149.1 test bus for fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems, Proc. of 19th IMEKO TC4 Symposium, Barcelona, Spain, (2013), 6-11
[3] Czaja Z., Bartosiński B., Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1, Pomiary, Automatyka, Kontrola, 60 (2014), 745-748
[4] Texas Instruments Incorporated, SN54BCT8244A, SN74BCT8244A scan test devices with octal buffers, PDF file available from: www.ti.com, (1996)
[5] Texas Instruments Incorporated, , SCANSTA476 Eight Input IEEE 1149.1 Analog Voltage Monitor, PDF file available from: www.ti.com, (2005)
[6] Czaja Z., A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers, Measurement, 40 (2007), 158-170
[7] Czaja Z., A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances, Measurement, 42 (2009), 903-915
[8] Toczek W., An oscillation-based built-in test scheme with AGC loop, Measurement, 41 (2008), 160-168
[9] Ren J., Ye H., A Novel Linear Histogram BIST for ADC, Ninth International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology, Beijing, (2008), 2099-2102
[10] Toczek W., Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation, Microelectronics Reliability, 48 (2008), 1890-1899
[11]Peralta J., Peretti G., Romero E., A New Performance Characterization of Transient Analysis Method, International Journal of Electronics, Communications and Computer Engineering, 1 (2009), 12-19
[12] Toczek W., Analog fault signature based on sigma-delta modulation and oscillation test methodology, Metrology and Measurement Systems, 9 (2004), 363-375
[13] Atmel Corporation, 8-bit bit AVR microcontroller with 32KBytes In-System Programmable Flash, ATmega32, ATmega32L, PDF file available from: www.atmel.com, (2011)
[14] International Rectifier, IRF7105 HEXFET Power MOSFET, PDF file available from: www.irf.com, (2003)

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 101948 "A testing method of analo..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2016-11 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2016-11

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma