Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2016 - zeszyt 11

A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers

10.15199/48.2016.11.05

Zbigniew CZAJA

nr katalogowy: 101947
10.15199/48.2016.11.05

A new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization. Streszczenie. Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniach transformujących na bieżąco, tj. w trakcie pomiarów, próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe lokalizacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych (Metoda samotestowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami). Keywords: self-testing, microcontrollers, Analog to Digital Converters. Słowa kluczowe: samotestowanie, mikrokontrolery, przetworniki analogowo-cyfrowe. Introduction An important group of electronic embedded systems, used among others in metrology and automation, are mixed-signal electronic microsystems. Mainly, but not only, they are more often smart sensors, which are components of wireless telemetry systems. These devices consist of a digital part responsible for the control, data processing and communication between the sensors, most often based on a microcontroller, and an analog part - an analog circuit - used for conditioning input signals, for example coming from the sensors, i.e. the amplification, filtering and adjusting these signals as required by the analog-to-digital conversion. An important f[...]

Bibliografia

[1] Lewin W., Hryniewicz O., Niezawodna jakość, Problemy jakości, 10/2006, Sigma Not, Warszawa, (2006), 23-24
[2] Zhao F., Koutsoukos X., Haussecker H., Reich J., Cheung P., Monitoring and fault diagnosis of hybrid systems, IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics—Part B: Cybernetics, 35 (2005), 1214-1219
[3] Scottow R. G., Hopkins A. B. T., Instrumentation of real-time embedded system for performance analysis, IEEE Instrumentation and Measurement Conference, IMTC/06, Sorrento, Italy, (2006), 1307-1310
[4] Changhyun B., Seungkyu P., Kyunghee C.,
[similar to] TEST: An effective automation tool for testing embedded software, WSEAS Transactions on Information Science and Applications, 2 (2005), 1214-1219
[5] Souza C. P., Assis F. M., Freire R. C. S., Mixed test pattern generation using single parallel LFSR, IEEE Instrumentation and Measurement Conference, IMTC/06, Sorrento, Italy, (2006), 1114-1118
[6] Toczek W., Czaja Z., Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems, Microelectronic Reliability, 51 (2011), 1413-1421
[7] Czaja Z., A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances, Measurement, 42 (2009), 903-915
[8] Czaja Z., Self-testing of analog parts terminated by ADCs based on multiple sampling of time responses, IEEE Transaction on Instrumentation and Measurement, 62 (2013), 3160-3167
[9] Czaja Z., Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym, Przegląd Elektrotechniczny, 87 (2011), nr.9a, 33-36
[10] Atmel Corporation, Atmel AVR XMEGA AU Manual, (2012), PDF file available from: www.atmel.com
[11] Analog Devices, AD7694, 16-Bit, 250 kSPS PulSAR ADC in MSOP, Norwood, MA, USA, (2005),
[Online] Available: http://www.analog.com
[12] International Rectifier, IRF7105 HEXFET Power MOSFET, El Segundo, CA, USA, (2003),
[Online] Available: http://www.irf.com
[13] Czaja Z., A microcontroller system for measurement of three independent components in impedance sensors using a single square pulse, Sensors and Actuators A, 173 (2013), 284-292

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 101947 "A method of self-testing ..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2016-11 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2016-11

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma