Czasopismo | PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY | Rocznik 2016 - zeszyt 9

Badania wybranych materiałów optoelektronicznych z wykorzystaniem fototermicznej radiometrii w podczerwieni

10.15199/48.2016.09.32

nr katalogowy: 100520
10.15199/48.2016.09.32

W artykule przedstawiono wyniki badań materiałów optoelektronicznych z wykorzystaniem fototermicznej radiometrii w podczerwieni (PTR). Opisane zostały szczegóły dotyczące wykorzystanej techniki badawczej. Badania przeprowadzono na próbkach krzemu i krzemu - germanu. Omówiono szczegóły techniczne dotyczące wymagań sprzętowych na potrzeby stanowiska badawczego. W pracy przedyskutowano możliwości interpretacyjne płynące z zastosowania opisanej metody badawczej oraz opisanych modeli matematycznych sygnału PTR. Abstract. In this paper the experimental results of the photothermal radiometry (PTR) investigations of the optoelectronic materials have been presented. The details concerning the used technique have been described. Investigations have been performed on the silicon and silicongermanium samples. Details of the experimental set-up have been discussed. In this work the interpretation abilities connected with the usage of the described experimental method and the described PTR signal mathematical models have been discussed. (Investigations of chosen optoelectronic materials with the photothermal infrared radiometry). Słowa kluczowe: badania nieniszczące, radiometria w podczerwieni, krzem, krzem-german, parametry rekombinacyjne, czas życia nośników. Keywords: Nondestructive testing, photothermal infrared radiometry, silicon, silicon-germanium, recombination parameters, carriers lifetime. Wprowadzenie Materiały optoelektroniczne są w ciągłym spektrum zainteresowań badawczych. Ich parametry np. rekombinacyjne mają istotny wpływ na wydajność i sprawność urządzeń oraz elementów realizowanych na ich podstawie. Urządzenia te przykładowo wykorzystywane są w pozyskiwaniu energii z odnawialnych źródeł. Metoda fototermicznej radiometrii w podczerwieni jest jedną z metod pozwalających na uzy[...]

Bibliografia

[1] Salnik A., Mandelis A., Ruda H., Jean C., Relative sensitivity of photomodulated reflectance and photothermal infrared radiometry to thermal and carrier plasma waves in semiconductors, J. Appl. Phys. 82(4), (1997), 1853-1859
[2] Salnic A., Mandelis A., Jean C., Noncontact measurement of transport properties of long-carrier-lifetime wafers using photothermal radiometry, Appl. Phys. Lett. 69(17), (1996), 2522-2524
[3] Mandelis A., Laser infrared photothermal radiometry of semiconductors: principles and applications to solid state electronics, Solid - State Electronics 42(1), (1998), 1-15
[4] Pawlak M., Maliński M., Minority carrier recombination lifetimes in n-type CdMgSe mixed crystals measured by means of the photothermal infrared radiometry, Opto-Electronics Review 22(1), (2014), 31-35
[5] Pawlak M., Maliński M., Influenceof the Ar8+ and O6+ ion implantation on the recombination parameters of p and n type implanted Si samples investigated by means of the photothermal radiometry, Infrared Physics & Technology 63, (2014), 6-9
[6] Maliński M., Pawlak M., Chrobak Ł., Pal S., Ludwig A., Monitoring of Amorfization of the Oxygen Implanted Layers in Silicon Wafers Using Photothermal Radiometry and Modulated Free Carrier Absorption, Applied Physics A - Materials Science & Processing 118(3), (2015), 1009-1014

Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp - zaloguj się. Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!

Publikacja


e-Publikacja (format pdf) - nr 100520 "Badania wybranych materia..." licencja: Osobista Produkt cyfrowy	10.00 zł

Zeszyt


PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2016-9 licencja: Osobista Produkt cyfrowy	55.00 zł

Prenumerata

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista

Produkt cyfrowy
Nowość

762.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)	1002.00 zł brutto 927.78 zł netto 74.22 zł VAT (stawka VAT 8%)

1002.00 zł

PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista

Szczegóły pakietu

Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna	960.00 zł brutto 888.89 zł netto 71.11 zł VAT (stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka	42.00 zł brutto 34.15 zł netto 7.85 zł VAT (stawka VAT 23%)

1002.00 zł

Zeszyt

2016-9

Twój Koszyk

Publikacja

Zeszyt

Prenumerata

Zeszyt

Czasopisma