Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
ATEST - OCHRONA PRACY
ATEST - OCHRONA PRACY
AURA
AURA
AUTO MOTO SERWIS
AUTO MOTO SERWIS
CHEMIK
CHEMIK
CHŁODNICTWO
CHŁODNICTWO
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
DOZÓR TECHNICZNY
DOZÓR TECHNICZNY
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
GAZETA CUKROWNICZA
GAZETA CUKROWNICZA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA WODNA
GOSPODARKA WODNA
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MATERIAŁY BUDOWLANE
MATERIAŁY BUDOWLANE
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
ODZIEŻ
ODZIEŻ
OPAKOWANIE
OPAKOWANIE
PACKAGING REVIEW
PACKAGING REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
PROBLEMY JAKOŚCI
PROBLEMY JAKOŚCI
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
Czasopisma
Czasopisma
Czasopisma
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
SZKŁO I CERAMIKA
SZKŁO I CERAMIKA
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH
Menu
Menu
Menu
Prenumerata
Prenumerata
Publikacje
Publikacje
Drukarnia
Drukarnia
Kolportaż
Kolportaż
Reklama
Reklama
O nas
O nas
ui-button
Twój Koszyk
Twój koszyk jest pusty.
Niezalogowany
Niezalogowany
Zaloguj się
Zarejestruj się
Reset hasła
Czasopismo
|
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
|
Rocznik 2016 - zeszyt 9
Struktury na bazie ZnO do detekcji światła ultrafioletowego
10.15199/48.2016.09.10
Karolina PARADOWSKA
Ewa PŁACZEK-POPKO
Eunika ZIELONY
Mieczysław PIETRZYK
Adrian KOZANECKI
nr katalogowy: 100498
10.15199/48.2016.09.10
W poniższej pracy, dwie struktury p-Si/n-ZnMgO zostały scharakteryzowane pod kątem zastosowania w detektorach światła ultrafioletowego (UV). Przeprowadzone zostały pomiary charakterystyk prądowo-napięciowych (I-V), fotoluminescencji (PL) oraz fotoodpowiedzi. Charakterystyki I-V zostały zmierzone w 310 K i pozwoliły stwierdzić, że obie struktury posiadają właściwości prostujące. Pomiary fotoluminescencji i fotoodpowiedzi zostały przeprowadzone w temperaturze pokojowej. Została przeprowadzona dokładna analiza widm fotoluminescencji, które w jednej z próbek ujawniły pasma emisyjne świadczące o obecności defektów. Pomiary fotoodpowiedzi również zostały szczegółowo przeanalizowane, podane zostały główne wady badanych struktur oraz rozwiązania, które mogą przyczynić się do udoskonalenia struktur. Abstract. In our paper, two p-Si/n-ZnMgO structures were characterized in terms of applicability in ultraviolet light detectors. A few measurement techniques have been applied: current-voltage (I-V) characteristics, photoluminescence (PL) and photoresponsivity measurements. I-V characteristics were measured at 310 K and allowed us to conlcude, that both of investigated structures have rectifying properties. Photoluminescence and photoresposivity measurements were performed at room temperature. The analysis of PL spectra exhibited emission bands corresponding to defects in one of studied samples. Photoresponsivity spectra were also thoroughly examined - the most important disadvantages of analysed structures were given together with possible solutions, which can be applied in order to obtain well-working UV detectors. (ZnO-based structures for ultraviolet detectors). Słowa kluczowe: ZnO, Si, heterostruktury, fotoodpowiedź, detektory, UV. Keywords: ZnO, Si, heterostructures, photoresponsivity, detectors, UV. Wstęp Detektory światła ultrafioletowego (UV) przyciągają duże zainteresowanie, głównie ze względu na mnogość zastosowań w różnych dziedzinach komer[...]
Bibliografia
[1] Sang L., Liao M., Sumiya M., A Comprehensive Review of Semiconductor Ultraviolet Photodetectors: From Thin Film to One-Dimensional Nanostructures, Sensors, vol. 13, (2013), 10482-10518 [2] Liu K., Sakurai M., Aono M., ZnO-Based Ultraviolet Photodetectors, Sensors, vol. 10, (2010), 8604-8634 [3] Omnès F., Monroy E., Muñoz E., Reverchon J.L., Wide bandgap UV photodetectors: A short review of devices and applications, Proc. SPIE, vol. 6473, (2007), 1-15 [4] Rogalski A., Razeghi M., Semiconductor ultraviolet photodetectors, Opto-Electr. Rev., vol. 4, (1996), 13-31 [5] Monroy E., Omnès F., Calle F., Wide-bandgap semiconductor ultraviolet photodetectors, Semicond. Sci. Technol., vol. 18, (2003), R33-R51 [6] Liao M., Sang L., Teraji T., Imura M., Alvarez J., Koide Y., 42 PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY, ISSN 0033-2097, R. 92 NR 9/2016 Comprehensive Investigation of Single Crystal Diamond Deep- Ultraviolet Detectors, Jpn. J. Appl. Phys., vol. 51, (2012), 090115 [7] Brown D.M., Edmond J.A., Silicon carbide photodiode with improved short wavelength response and very low leakage current, patent amerykański, US5394005 A, Luty 28, 1995 [8] Brown D.M., Downey E.T., Ghezzo M., Kretchmer J.W., Saia R.J., Liu Y.S., Edmond J.A., Gati G., Pimbley J.M., Schneider W.E., Silicon carbide UV photodiodes, IEEE Trans. Electron Devices, vol. 40, (2002), 325-333 [9] Edmond J.A., Carter C.H., Jr., High sensitivity ultraviolet radiation detector, patent amerykański, US5093576 A, Marzec 3, 1992 [10] Edmond J., Kong H., Suvorov A., Waltz D., and Carter C., Jr., 6H-Silicon Carbide Light Emitting Diodes and UV Photodiodes, Phys. stat. sol. (a), vol. 162, (1997), 481-491 [11] McKeag R.D., Chan S.S.M., Jackman R.B., Polycrystalline diamond photoconductive device with high UV‐visible discrimination, Appl. Phys. Lett., vol. 67, (1995), 2117-2119 [12] Whitfield M.D., Chan S.S.M., Jackman R.B., Thin film diamond photodiode for ultraviolet light detection, Appl. Phys. Lett. vol. 68, (1996), 290-292 [13] Werner M.R., Fahmer W.R., Review on Materials, Microsensors, Systems, and Devices for High-Temperature and Harsh-Environment Applications, IEEE Trans. Industrial Electron., vol. 48, (2001), 249-257 [14] Khan M.A., Shatalov M., Maruska H.P., Wang H.M., Kuokstis E., III-Nitride UV Devices, Jpn. J. Appl. Phys., vol. 44, (2005), 7191-7206 [15] Walker D., Saxler A., Kung P., Zhang X., Hamilton M., Diaz J., Razeghi M., Visible blind GaN p-i-n photodiodes, Appl. Phys. Lett., vol. 72, (1998), 3303-3305 [16] Sandvik P., Mi K., Shahedipour F., McClintock R., Yasan A., Kung P., Razeghi M., AlxGa1-xN for solar-blind UV detectors, J. Cryst. Growth, vol. 231, (2001), 366-370 [17] Razeghi M., III-Nitride Optoelectronic Devices: From Ultraviolet Toward Terahertz, IEEE Photon. J., vol. 3, (2011), 263-267 [18] Shi L., Nihtianov S., Comparative Study of Silicon-Based Ultraviolet Photodetectors, IEEE Sensors J., vol. 12, No. 7, (2012), 2453-2459 [19] Taurian O.E., Springborg M., Christensen N.E., Self-consistent electronic structures of MgO and SrO, Solid State Commun., vol. 55, (1985), 351-355 [20] Jin Y., Wang J., Sun B., Blakesley J.C., Greenham N.C., Solution-Processed Ultraviolet Photodetectors Based on Colloidal ZnO Nanoparticles, Nano Lett., vol. 8, (2008), 1649- 1653 [21] Liu Y., Gorla C.R., Liang S., Emanetoglu N., Lu Y., Shen H., Wraback M., Ultraviolet Detectors Based on Epitaxial ZnO Films Grown by MOCVD, J. Electron. Mater., vol. 29, (2000), 69-74 [22] Liang S., Sheng H., Liu Y., Huo Z., Lu Y., Shen H., ZnO Schottky ultraviolet photodetectors, J. Cryst. Growth, vol. 225, (2001), 110-113 [23] Pierret R.F., Semiconductor device fundamentals, Addison- Wesley, 1996 [24] Ye J.D., Gu S.L., Zhu S.M., Liu W., Liu S.M., Zhang R., Shi Y., Zheng Y.D., Electroluminescent and transport mechanisms of n-ZnO⁄p-Si heterojunctions, Appl. Phys. Lett., vol. 88, (2006), 182112 [25] Zhang T.C., Guo Y., Mei Z.X., Gu C.Z., Dua X.L., Visible-blind ultraviolet photodetector based on double heterojunction of n- ZnO/insulator-MgO/p-Si, Appl. Phys. Lett., vol. 94, (2009), 113508 [26] Chaabouni F., Abaab M., Rezig B., Characterization of n- ZnO/p-Si films grown by magnetron sputtering, Superlattices Microstruct., vol. 39, (2006), 171-178 [27] Li D., Leung Y.H., Djurisic A.B., Liu Z.T., Xie M.H., Shi S.L., Xu S.J., Chan W.K., Different origins of visible luminescence in nanostructures fabricated by the chemical and evaporation methods, Appl. Phys. Lett., vol. 85, (2004), 1601 [28] Djurisic A.B., Leung Y.H., Optical properties of ZnO nanostructures, Small, vol. 2, (2006), 944-961 wraz z zawartymi referencjami [29] Placzek-Popko E., Paradowska K.M., Pietrzyk M.A., Gumienny Z., Biegański P., Kozanecki A., Deep traps and photo-electric properties of p-Si/MgO/n-Zn1-xMgxO heterojunction, J. Appl. Phys., vol. 118, (2015), 074501
Treść płatna
Jeśli masz wykupiony/przyznany dostęp -
zaloguj się
.
Skorzystaj z naszych propozycji zakupu!
Publikacja
e-Publikacja (format pdf) - nr 100498 "Struktury na bazie ZnO do..."
licencja: Osobista
Produkt cyfrowy
10.00 zł
Do koszyka
Zeszyt
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - e-zeszyt (pdf) 2016-9
licencja: Osobista
Produkt cyfrowy
55.00 zł
Do koszyka
Prenumerata
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - prenumerata cyfrowa
licencja: Osobista
Produkt cyfrowy
Nowość
762.00 zł
Do koszyka
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS
licencja: Osobista
Szczegóły pakietu
Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - PAKIET prenumerata PLUS (Prenumerata papierowa + dostęp do portalu sigma-not.pl + e-prenumerata)
1002.00 zł brutto
927.78 zł netto
74.22 zł VAT
(stawka VAT 8%)
1002.00 zł
Do koszyka
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna + wysyłka
licencja: Osobista
Szczegóły pakietu
Nazwa
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - papierowa prenumerata roczna
960.00 zł brutto
888.89 zł netto
71.11 zł VAT
(stawka VAT 8%)
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY - pakowanie i wysyłka
42.00 zł brutto
34.15 zł netto
7.85 zł VAT
(stawka VAT 23%)
1002.00 zł
Do koszyka
Zeszyt
2016-9
Czasopisma
ATEST - OCHRONA PRACY
AURA
AUTO MOTO SERWIS
CHEMIK
CHŁODNICTWO
CIEPŁOWNICTWO, OGRZEWNICTWO, WENTYLACJA
DOZÓR TECHNICZNY
ELEKTROINSTALATOR
ELEKTRONIKA - KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA
GAZETA CUKROWNICZA
GAZ, WODA I TECHNIKA SANITARNA
GOSPODARKA MIĘSNA
GOSPODARKA WODNA
HUTNIK - WIADOMOŚCI HUTNICZE
INŻYNIERIA MATERIAŁOWA
MASZYNY, TECHNOLOGIE, MATERIAŁY - TECHNIKA ZAGRANICZNA
MATERIAŁY BUDOWLANE
OCHRONA PRZECIWPOŻAROWA
OCHRONA PRZED KOROZJĄ
ODZIEŻ
OPAKOWANIE
PACKAGING REVIEW
POLISH TECHNICAL REVIEW
PROBLEMY JAKOŚCI
PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
PRZEGLĄD GASTRONOMICZNY
PRZEGLĄD GEODEZYJNY
PRZEGLĄD MECHANICZNY
PRZEGLĄD PAPIERNICZY
PRZEGLĄD PIEKARSKI I CUKIERNICZY
PRZEGLĄD TECHNICZNY. GAZETA INŻYNIERSKA
PRZEGLĄD TELEKOMUNIKACYJNY - WIADOMOŚCI TELEKOMUNIKACYJNE
PRZEGLĄD WŁÓKIENNICZY - WŁÓKNO, ODZIEŻ, SKÓRA
PRZEGLĄD ZBOŻOWO-MŁYNARSKI
PRZEMYSŁ CHEMICZNY
PRZEMYSŁ FERMENTACYJNY I OWOCOWO-WARZYWNY
PRZEMYSŁ SPOŻYWCZY
RUDY I METALE NIEŻELAZNE
SZKŁO I CERAMIKA
TECHNOLOGIA I AUTOMATYZACJA MONTAŻU
WIADOMOŚCI ELEKTROTECHNICZNE
WOKÓŁ PŁYTEK CERAMICZNYCH