Wyniki 1-8 spośród 8 dla zapytania: authorDesc:"Stanisław Galla"

Wykorzystanie termowizji w badaniach odporności na udary wg EN61000-4-5

Czytaj za darmo! »

Przedstawiono wyniki badań konstrukcyjnych urządzeń elektronicznych z zastosowaniem kamery podczerwieni do obserwacji obiektu badanego podczas badań odporności na udary napięciowe wykonywane wg normy EN61000-4-5 Abstract. The results of research design of electronic devices are present during testing resistance to voltage surges carried out according to standard EN61000-4-5 which using an infrared camera to observe the test object. (Application of thermovision in investigations of electronic devices) Słowa kluczowe: EMC odporność, weryfikacja, termowizja. Keywords: EMC immunity, verification, thermovision. Wstęp Podczas badań odporności wykonywanych dla podstawowych prób odporności urządzeń elektronicznych jednym z badań wykonywanych dla urządzeń mających porty wejścia - wyjścia jest badanie odporności na udary wg EN 61000-4-5 [5]. Podczas tego badania na badane porty podaje się za pomocą znormalizowanych układów sprzęgających udary napięciowe o parametrach określonych w odnośnych normach dotyczących danej konstrukcji. W przypadku wystąpienia znacznego przeciążenia elementów ochronnych najczęściej dochodzi do ich trwałego uszkodzenia. W niektórych przypadkach udary probiercze uszkadzają częściowo elementy ochronne nie doprowadzając do ich zniszczenia bądź utraty funkcjonalności, i pozostają nie zauważone. Zastosowanie wizyjnej inspekcji badanego urządzenia w zakresie widma podczerwonego pozwala na bieżąco, podczas badania określać, który element jest najbardziej narażany podczas testu. Uzyskane termogramy badanego obiekt poprawiają znacznie jakość i ilość informacji uzyskiwanych na temat danej konstrukcji. Dodatkowo. monitoring urządzenia badanego w zakresie widma podczerwonego pozwala równocześnie na sprawdzenie czy wszystkie komponenty systemu pracują (w niektórych przypadkach dla urządzeń cyfrowych programowo można wyłączać poszczególne części układów badanych). Pozwala to na kontrolę stosowanego oprogramowania jak równi[...]

Termowizja jako narzędzie weryfikacji stanu elementów ochronnych SMD podczas badań udarowych DOI:10.12915/pe.2014.07.035

Czytaj za darmo! »

Przedstawiono wyniki badań przyrostów temperatury rejestrowanych za pomocą kamery termowizyjnej ochronnych elementów SMD podczas wykonywania badań odporności na udary napięciowe wykonywane wg normy EN61000-4-5 dla różnych poziomów sprzężeń impedancyjnych Abstract. In the paper, author presents results of temperature gradient measurements of SMD protection devices. Measurements were taken with thermovision camera during voltage surge tests conducted according to the norm EN61000-4-5 for various coupling impedance values. Temperature gradient measurements of SMD protection devices Słowa kluczowe: EMC odporność, weryfikacja, termowizja. Keywords: EMC immunity, verification, thermovision. doi:10.12915/pe.2014.07.35 Wstęp W czasie wykonywania badań EMC z zakresu odporności a w szczególności badań udarowych nie kontroluje się stanu elementów ochronnych zastosowanych w badanym obiekcie. W niektórych przypadkach gdy obwody układów są zabezpieczone bardzo "ekonomicznie", może dochodzić do ukrytych uszkodzeń, nie wykrywanych podczas badania udarowego, lecz ujawniających się po pewnym czasie w trakcie następnych badań. Dlatego też diagnostyka urządzenia badanego w czasie testu jest bardzo ważna. Odnosi się to w szczególności do badań rozwojowych (konstrukcyjnych) danego rozwiązania technicznego, podczas których jednym z podstawowych celów jest optymalizacja kosztów wykonania urządzenia przy jednoczesnym spełnieniu wymagań normalizacyjnych. Dla określenia stanu urządzenia badanego znalazły zastosowanie różnorodne urządzenia pomiarowe m.in. kamery termograficzne pozwalające na przeprowadzanie rejestracji emisji promieniowania podczerwonego. Zastosowanie zobrazowani termograficznego w czasie prowadzonego procesu testowania urządzeń pozwala na ocenę stanu urządzenia i zapobiega jego zniszczeniu co jest szczególnie istotne podczas badań prototypów [1]. Znajomość zarejestrowanych wartości temperatury pozwala na bieżącą ocenę[...]

Specyfika badań kompatybilności elektromagnetycznej w zakładowych laboratoriach badawczych DOI:10.15199/48.2015.11.06

Czytaj za darmo! »

W artykule przedstawiono metodykę postępowania stosowaną przy rozwiązywaniu zagadnień związanych z badaniami kompatybilności elektromagnetycznej (EMC) wykonywanymi w zakładowych laboratoriach badawczych. Przedstawiono podstawowe różnice w metodyce prowadzonych badań powstające między laboratoriami zakładowymi a zewnętrznymi jednostkami akredytowanymi. Odstępstwa od reguł przewidzianych w odnośnych normach wynikają głównej z faktu, iż laboratoria zakładowe mogą działać bardziej elastycznie. Wynika to z możliwości modyfikacji normatywnych procedur postepowania opisanych w normach. Abstract. The article presents the methodology used for solving issues related to research electromagnetic compatibility (EMC) performed in factory research laboratories. The basic differences in the methodology of the research arising between factory and accredited laboratories. Derogation from the rules laid down in the relevant standards, the main result of the fact that the internal laboratory can work much more flexibly. This is due to the possibility of modifying the normative procedures described in the standards. The methodology used for solving issues related to research electromagnetic compatibility (EMC) performed in factory research laboratories Słowa kluczowe: badania kompatybilności elektromagnetycznej, zakładowe laboratoria badawcze. Keywords: electromagnetic compatibility testing, factory test site. Wstęp Badania kompatybilności elektromagnetycznej (EMC) stanowią jeden z etapów, jakie producent urządzeń elektrycznych i/lub elektronicznych powinien przejść przed wprowadzeniem urządzeń na rynek. Stanowi to warunek konieczny poprawnej oceny wyrobów, które podlegają odpowiednim badaniom. Producenci dysponują nierzadko własnymi zakładowymi laboratoriami badawczymi, w których jest dostępny różnorodny sprzęt pomiarowy. Są przy tym często wykorzystywane programy umożliwiające przeprowadzenie badań symulacyjnych dla produkowanych urządzeń. Wykonywane w[...]

The measurement of input power of power supply in network disturbed by low frequency distortions DOI:10.15199/48.2016.11.07

Czytaj za darmo! »

In the paper authors present results of observation of input power changes versus harmonics amplitude in supply voltage of low-power power supply device. In the study, the electrical measurements supported with thermal imaging were used. The input circuit elements of studied device responsible for input power increase are pointed. Streszczenie. W artykule przedstawiono wyniki pomiarów zmian mocy wejściowej pobieranej z sieci zasilającej przez zasilacz małej mocy w funkcji harmonicznych napięcia zasilającego. Wytypowano elementy obwodu wejściowego badanego urządzenia odpowiedzialne za zwiększenie poboru mocy przy zasilaniu napięciem silnie zniekształconym. W badaniach oprócz pomiarów elektrycznych wykorzystano również obrazowanie termograficzne. (Pomiar parametrów mocy wejściowej zasilacza zasilanego przez napięcia odkształcone zaburzeniami niskich częstotliwości). Keywords: power supply, distortions, measurements. Słowa kluczowe: zasilacze, zaburzenia, pomiary. Introduction Main parameters that describe electronic equipment declared by producer are, among of others, supply voltage, current consumption, working frequency and efficiency. Producer by declaring values of parameters guarantees that in standard working conditions their values will be in specified range. For equipment intended for domestic use, values of those parameters are determined for standard supply conditions, that means the supply voltage is sinusoidal with specified frequency and amplitude (RMS value). However, in real supply nets the voltage is disturbed by low and high frequency components, what was described e.g. in [1, 2, 3, 4]. For low frequency range, the one of parameters that describes the quality of supply voltage is total harmonics distortion ([...]

Wpływ systemów oświetleniowych LED na zaburzenia nisko częstotliwościowe DOI:10.15199/48.2019.03.07

Czytaj za darmo! »

W ramach istniejącego na Politechnice Gdańskiej Laboratorium Inteligentnej Energetyki LAB-6 przy współudziale Pomorskiej Specjalnej Stref Ekonomicznej wykonywane są różnorodne prace związane szeroko rozumianymi badaniami w zakresie kompatybilności elektromagnetycznej i jakości energii.. W ramach prowadzonych prac zaobserwowano zmiany dotyczące zarówno, jakości energii elektrycznej jak i rodzaju występującej mocy biernej. Praca różnorodnych systemów oświetleniowych, elektronicznych i energoelektronicznych w warunkach występowania harmonicznych napięć i prądów stanowi od dawna ważny aspekt różnorodnych prac badawczych [1 - 6]. Wiąże się one z minimalizacją niekorzystnych oddziaływań wyższych harmonicznych na różnorodne elementy infrastruktury elektroenergetycznej. Jakość energii elektrycznej - to zbiór parametrów opisujących właściwości procesu dostarczania energii do użytkownika w normalnych warunkach pracy, określających ciągłość zasilania (długie i krótkie przerwy w zasilaniu) oraz charakteryzujących napięcie zasilania (wartość, niesymetrię, częstotliwość, kształt przebiegu). Do podlegających kontroli parametrów JEE należą: częstotliwość, wartość napięcia, wahania i odchylenia napięcia, zapady napięcia, przerwy w zasilaniu, przepięcia przejściowe i dorywcze, przepięcia o częstotliwości sieciowej, asymetria napięcia zasilającego, harmoniczne i interharmoniczne dla napięcia, napięcia sygnalizacyjne nałożone na napięcie zasilające. Określenie obowiązujących parametrów jakościowych energii elektrycznej dostarczanej odbiorcom w poszczególnych grupach przyłączeniowych podano w "rozporządzeniu systemowym" [7]. Za wprowadzanie do sieci każdej ilości mocy biernej pojemnościowej odbiorcy płacą dodatkową opłatę karną. Prowadzone na potrzeby zewnętrznych firm pomiary, jakości energii elektrycznej na różnorodnych obiektach zarówno przemysłowych jak i komercyjnych (biura, hotele) wykazują w okresie ostatnich 3 - 4 lat tendencję do z[...]

Zestaw laboratoryjny źródeł zaburzeń EMC


  Rozwój techniki w ostatnich kilku dekadach spowodował wzrost ilości produkowanych urządzeń elektronicznych [1]. Urządzenia te stają się na ogół coraz mniejsze [2] i charakteryzujące się coraz mniejszym poborem mocy, przy równoczesnym korzystaniu z coraz mniejszych poziomów sygnałów sterujących, głównie prądów - zwłaszcza w urządzeniach cyfrowych. Obok urządzeń cyfrowych o małym poborze mocy pracują urządzenia analogowe, które nierzadko przełączają znaczne prądy [3]. Dzisiejsze urządzenia sterujące najczęściej stanowią połączenie cyfrowego sterownika oraz analogowej części wykonawczej. Połączenie ich w jedno urządzenie oraz zasilanie z jednego źródła może stwarzać spore problemy z jego prawidłową pracą lub utrudniać pracę innych urządzeń podłączonych do tego samego źródła zasilania. Obecnie przyjmuje się, że każde działające urządzenie elektryczne, czy też elektroniczne, z jednej strony jest źródłem zaburzeń [4], a z drugiej samo jest poddawane działaniu zakłóceń [1]. Dopuszcza się używanie terminu zakłócenia w odniesieniu do zaburzeń, toteż w niniejszej pracy rozróżnienie zaburzenia (przyczyny) i zakłócenia (skutku) następować będzie jedynie w zależności od kontekstu użycia tego terminu. Propagacja zaburzeń Powstawanie zaburzeń w urządzeniach elektrycznych, czy też elektronicznych, związane jest zawsze z przepływem prądu przez stratne układy [2]. Powstawanie zaburzeń można przedstawić jako prosty układ złożony z: źródła zaburzeń, kanału propagacji i receptora zakłóceń [2]. W zależności od częstotliwości rozważanych zaburzeń będziemy mieli do czynienia z różnymi kanałami (mechanizmami) propagacji. Propagacja zaburzeń wysokiej częstotliwości (w.cz.) W tym zakresie częstotliwości wyróżnia się dwa podstawowe mechanizmy propagacji zaburzeń. Pierwszym z nich jest rozprzestrzenianie się zakłó[...]

Zmiany w instalacjach stacjonarnych a spełnienie wymagań emisji przewodzonej


  Wraz z wejściem w życie dyrektywy EMC 204/108 EMC [1] wymaga się, aby tzw. instalacje stacjonarne spełniały wymagania zawarte w dyrektywie, tzn. nie wprowadzały różnorodnych zaburzeń elektromagnetycznych występujących w danym środowisku elektromagnetycznym i nie były na nie podatne. Równocześnie wielu twórców instalacji nie pamięta lub nie chce przyjąć do wiadomości, iż: instalacja stacjonarna oznacza szczególną kombinację kilku rodzajów aparatury oraz - w stosownych przypadkach - innych urządzeń, montowanych, instalowanych i których przeznaczeniem jest stałe użytkowanie w z góry określonym miejscu [1]. Taka definicja instalacji stacjonarnych w szczególności obejmuje systemy alarmowe i zobowiązuje wykonawców do wystawienia końcowej deklaracji zgodności dla danej instalacji. W wielu przypadkach twórcy danej instalacji uważają, iż zgodność systemu powinien wykazywać producent sprzętu. Niestety, niejednokrotnie - mimo dobrej woli producentów - instalacje stacjonarne może cechować niekompatybilność z powodu drobnych odstępstw dokonywanych przez instalatorów w stosunku do b[...]

Analiza impedancji sieci prądu stałego w instalacjach fotowoltaicznych DOI:


  Dokonano analizy impedancji sieci prądu stałego w instalacji fotowoltaicznej. Analizę tę przeprowadzono pod względem predykcji charakterystyki zaburzeń elektromagnetycznych generowanych przez instalacje PV. Badania przeprowadzono zarówno dla zaburzeń różnicowych, jak i wspólnych. Zastosowano podejście analityczne - wykorzystując teorię linii długiej oraz pomiary wykonane na stanowisku laboratoryjnym. Słowa kluczowe: instalacja fotowoltaiczna, impedancja, zaburzenia elektromagnetyczne Rosnąca popularność instalacji fotowoltaicznych (PV - Photovoltaic) spowodowała wzrost zainteresowania zaburzeniami elektromagnetycznymi (EMI - Electromagnetic Interferences), występującymi w obwodzie prądu stałego tych systemów oraz ich filtracją [4], [5]. Wysokoczęstotliwościowe zaburzenia występujące w instalacji prądu stałego mogą mieć niekorzystny wpływ na otoczenie i sąsiednie urządzenia, dlatego nie można ich zaniedbać. W artykule przedstawiono analizę ścieżek propagacji zaburzeń elektromagnetycznych pomiędzy źródłem PV a przekształtnikiem. Poziomy i częstotliwości tych zaburzeń są ściśle powiązane z impedancją ścieżek ich propagacji. Im[...]

 Strona 1