Wyniki 1-3 spośród 3 dla zapytania: authorDesc:"Ireneusz Kujawa"

Dwójłomny światłowód szklano-powietrzny o eliptycznych elementach sieci płaszcza fotonicznego

Czytaj za darmo! »

Przedstawiono pomiary i symulacje dla wykonanego światłowodu o prostokątnym przekroju, prostokątnej siatce płaszcza fotonicznego i eliptycznych elementach sieci. Przedyskutowano wpływ parametrów strukturalnych takich jak eliptyczność i stałe sieci prostokątnej siatki krystalicznej na własności modowe i dwójłomność światłowodu. Przedstawiono również jego zalety jako elementu mogącego znaleźć zastosowanie w pomiarach naprężeń, skrętu i tym podobnych wielkości. Abstract. In this paper we report on the fabrication of birefringent photonic crystal fiber with a photonic cladding composed of elliptical holes ordered in a rectangular lattice. We discuss the influence of structural parameters including the ellipticity of the air holes and the aspect ratio of the rectangular lattice on the birefringence and on the modal properties of the fiber potentially useful for sensors. (Birefringent glass-air photonic crystal fiber with elliptical holes). Słowa kluczowe: fotoniczne światłowody dwójłomne, dwójłomność, optyczna anizotropia, czujniki. Keywords: birefringent photonic crystal fiber, elliptical hole PCF’s, birefringence, optical anisotropy, sensors. Wstęp Dwójłomność w światłowodzie fotonicznym powstaje w wyniku anizotropii rozkładu współczynnika załamania światła i jest możliwa do uzyskania w światłowodach o symetrii m=2 [1]. Zastosowanie eliptycznych otworów wraz z prostokątną konfiguracją siatki wzmacnia charakter anizotropii optycznej i jej dwuosiowość. Dzięki temu możliwe jest uzyskanie dużej wartości dwójłomności rzędu 10-2 [2-4]. Prostokątna siatka w połączeniu z prostokątnym przekrojem całego światłowodu fotonicznego ułatwia przestrzenną identyfikację osi głównych włókna (Rys. 1) oraz jego orientację względem mierzonych parametrów zewnętrznych (np. siły nacisku osiowego lub/i siły zginającej). Rys.1 Struktura światłowodu o prostokątnej siatce i przekroju ułatwiającym identyfikację osi głównych Włókna tego typu są więc potencja[...]

Hot embossing method for development of soft glass microoptic components with broadband infrared transmission DOI:10.15199/ELE-2014-205


  Recently we have witnessed a dynamic progress in research and applications of optoelectronics within the infrared (IR) spectrum. In this wavelength range most of the commonly used optical materials such as fused silica glass cannot be used due to high attenuation beyond 2 [mikro]m. There are other materials, suitable for this range, like single crystalline germanium, zinc selenide, chalcogenide glass or GASIR glass [1]. The main problems with the abovementioned materials concern their fabrication, toxicity, relatively high cost and lack of transparency within the visible light range. Therefore it is necessary to study new materials that could be used for the low-cost production of optical components for mid-IR. One of the solutions are the polymer materials. They are low-cost and easy to process, but also show low thermal durability and variation of their optical parameters over time. A possible alternative solution to these problems is to use heavy metal oxide soft glasses. One of the low-cost methods used in the fabrication of optical elements is hot embossing [2], especially appropriate for fabricating polymer elements. The HE method can also be used with glass, but this involves several problems of technical kind. First, the process requires higher temperatures 400-900°C, depending on the composition of the glass used. Secondly, the process requires better temperature stabilization to make the hot glass malleable but not molten and to avoid crystallization. Thus, using soft glasses to fabricate elements with the HE method requires a series of tests to optimize the choice of material and the process. Selection of glasses and materials for mold One of the most important stages of work with a hot embossing system is the choice of the material for the mold, as its thermal expansion coefficient must be close to that of the molded material. Moreover the molded [...]

Materiały i przyrządy optoelektroniczne dla zastosowań w zakresie bliskiej i średniej podczerwieni DOI:10.15199/13.2018.3.9


  Obszary zastosowań koherentnych źródeł emitujących w zakresie NIR - MidIR Wzrost zainteresowania koherentnymi źródłami promieniowania w paśmie podczerwieni, bliskiej (NIR - długość fali λ do 2,5 μm) i średniej (MidIR - 2,5 - 25 μm) w ciągu ostatnich lat wiąże się z odkryciami nowych zjawisk/własności lub nowych aspektów znanych zjawisk i wynikającymi z nich możliwościami zastosowań. Równolegle, rozwój technologii materiałowych umożliwia konstrukcję efektywnych przyrządów na to pasmo. Dotyczy to zastosowań cywilnych jak i obszaru obronności. Istotne jest, że pasma te uznane są za ‘bezpieczne dla oka’ (promieniowanie o długościach fal λ powyżej 1,4 μm praktycznie całkowicie absorbowane jest przez ciało szkliste oka, co ochrania siatkówkę). Dlatego emitery na ten zakres spektralny można stosować zarówno w systemach zamkniętych jak i otwartych - do wolnej przestrzeni. Poniżej omówione są skrótowo niektóre zastosowania gospodarcze i specjalne: ● Detekcja gazów (np. H2O, CO2, N2O) prowadzona w warunkach lokalnych przy mocach rzędu 15 μW oraz w systemach dalekiego zasięgu jak LIDAR lub satelitarny monitoring gazów cieplarnianych z zastosowaniem nanosekundowych impulsów promieniowania o energii rzędu 90 mJ; ● Pomiary atmosfery (np. zachmurzenie, prędkość wiatru, koncentracja pary wodnej). Wykorzystywany jest fakt, że promieniowanie z zakresu 2 μm absorbowane jest w powietrzu jedynie przez parę wodną (linia absorpcyjna ok. 1,9 μm), jednocześnie tuż obok dla λ powyżej 2,1 μm występuje okno transmisyjne (rys. 1, czerwone zaznaczenie); Rys. 1. Transmisja wody i wynikowa (z uwzględnieniem wszystkich składowych) transmisja atmosfery Fig. 1. Water transmission and resultant (taking all constituents) atmosphere transmission Elektronika 3/2018 33 Telekomunikacja w wolnej przestrzeni - wykorzystywane jest ww. okno atmosferyczne w paśmie 2 - 2.5 μm. Z powodu s[...]

 Strona 1