Wyniki 1-7 spośród 7 dla zapytania: authorDesc:"IRENEUSZ MRoZEK"

Transparentne testowanie pamięci RAM wykorzystujące technikę testów symetrycznych

Czytaj za darmo! »

Coraz częściej człowiek w swoim codziennym życiu bezgranicznie musi zaufać komputerom. Chory na cukrzycę ufa, iż jego pompa insulinowa wstrzykuje mu odpowiednią dawkę leku, pasażerowie samolotu pasażerskiego lądującego we mgle ufają, iż komputery pokładowe pozwolą pilotowi w sposób bezpieczny posadzić maszynę na niewidocznej płycie lotniska, czy też dowódca wydający rozkaz wystrzelenia pocis[...]

Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej


  Złożone pamięci półprzewodnikowe stanowią integralną część większości współczesnych modułów elektronicznych będących składowymi urządzeń technicznych wykorzystywanych w wielu dziedzinach życia. Zjawiskiem codziennym są dziś urządzenia cyfrowe pełniące rolę systemów o znaczeniu krytycznym. Efektem tego jest ciągły wzrost wymagań dotyczących długotrwałej, niezawodnej i często nieprzerwanej pracy, zarówno pojedynczych układów scalonych, pakietów, urządzeń, jak również całych systemów cyfrowych. Z danych statystycznych wynika, że około 70% wszystkich uszkodzeń w systemach cyfrowych spowodowanych jest uszkodzeniami pamięci. Dlatego już na etapie projektowania należy zadbać o możliwość łatwego i efektywnego ich testowania. Jednym z najczęściej stosowanych rozwiązań jest projektowanie układów z myślą o testowaniu - DFT (ang. Design For Testability). Z uwagi na coraz większą integrację układów cyfrowych, umieszczaniu wielu modułów (w tym pamięci) na jednym podłożu krzemowym, tradycyjne "zewnętrzne" techniki testowania, nie zawsze mogą być stosowane. Rozwiązaniem problemu okazały się bogato opisane w literaturze techniki testów wbudowanych BIST (ang. Built-In-Self Test) i samonaprawy BISR (ang. Built-In-Self Repair) [1-7]. W procesie wbudowanego testowania pamięci szeroko zaakceptowane zostały testy krokowe (ang. march tests) łączące wysoką wykrywalność uszkodzeń z niską złożonością testu rzędu O(N) [8]. Ponadto klasyczne testy krokowe są łatwo konwertowalne do testów transparentnych (ang. Transparent March Tests) [9-12]. Testy transparentne umożliwiają zachowanie niezmienionej zawartości pamięci w stosunku do zawartości z momentu rozpoczęcia testu. Dzięki temu są one szczególnie predysponowane do realizacji periodycznych testów wykonywanych w czasie normalnej pracy urządzenia [8]. Jednak wraz ze wzrostem rozmiarów pamięci czas niezbędny na jej przetestowanie ulega również wydłużeniu. Problem ten jest szczególnie widoczny w wypadku [...]

Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej


  Złożone pamięci półprzewodnikowe stanowią integralną część większości współczesnych modułów elektronicznych będących składowymi urządzeń technicznych wykorzystywanych w wielu dziedzinach życia. Zjawiskiem codziennym są dziś urządzenia cyfrowe pełniące rolę systemów o znaczeniu krytycznym. Efektem tego jest ciągły wzrost wymagań dotyczących długotrwałej, niezawodnej i często nieprzerwanej pracy, zarówno pojedynczych układów scalonych, pakietów, urządzeń, jak również całych systemów cyfrowych. Z danych statystycznych wynika, że około 70% wszystkich uszkodzeń w systemach cyfrowych spowodowanych jest uszkodzeniami pamięci. Dlatego już na etapie projektowania należy zadbać o możliwość łatwego i efektywnego ich testowania. Jednym z najczęściej stosowanych rozwiązań jest projektowanie układów z myślą o testowaniu - DFT (ang. Design For Testability). Z uwagi na coraz większą integrację układów cyfrowych, umieszczaniu wielu modułów (w tym pamięci) na jednym podłożu krzemowym, tradycyjne "zewnętrzne" techniki testowania, nie zawsze mogą być stosowane. Rozwiązaniem problemu okazały się bogato opisane w literaturze techniki testów wbudowanych BIST (ang. Built-In-Self Test) i samonaprawy BISR (ang. Built-In-Self Repair) [1-7]. W procesie wbudowanego testowania pamięci szeroko zaakceptowane zostały testy krokowe (ang. march tests) łączące wysoką wykrywalność uszkodzeń z niską złożonością testu rzędu O (N) [8]. Ponadto klasyczne testy krokowe są łatwo konwertowalne do testów transparentnych (ang. transparent march tests) [9-12]. Testy transparentne umożliwiają zachowanie niezmienionej zawartości pamięci w stosunku do zawartości z momentu rozpoczęcia testu. Dzięki temu są one szczególnie predysponowane do realizacji periodycznych testów wykonywanych w czasie normalnej pracy urządzenia [8]. Jednak wraz ze wzrostem rozmiarów pamięci czas niezbędny na jej przetestowanie ulega również wydłużeniu. Problem ten jest szczególnie widoczny w wypadku [...]

Kontrolowane generowanie optymalnych testów losowych DOI:10.15199/13.2015.8.15


  Złożoność współczesnych systemów elektronicznych stale rośnie. Dlatego bardzo ważną kwestią staje się ich efektywne testowanie. W przypadku systemów z ograniczoną liczbą wejść można używać testów wyczerpujących. Niestety wykładnicza zależność realizacji testu od liczby wejść systemu ogranicza zastosowanie tej techniki do szczególnych typów systemów charakteryzujących się relatywnie małą liczbą wejść lub oprogramowania z małym rozmiarem domeny danych wejściowych [1, 2]. Koncepcjami pozwalającymi częściowo ominąć restrykcje związane z liczbą wejść testowanego systemu są testy lokalnie wyczerpujące [3] lub pseudowyczerpujące [4-7]. Są one rzeczywistą alternatywą dla testów wyczerpujących. Pozwalają w sposób znaczny zredukować liczbę wektorów testowych. Jest to możliwe dzięki temu, iż często wszystkie wartości wyjściowe lub ich znaczna część zależne są od stosunkowo małego podzbioru danych wejściowych [1, 8]. Bardzo często dobrą aproksymacją testów wyczerpujących i testów pseudowyczerpujących są testy losowe [9-11]. Testowanie losowe jest procesem podawania losowych wartości na wejścia testowanego systemu. Z definicji, każdy wektor testowy jest generowany w sposób losowy niezależnie od wygenerowanych wcześniej wektorów. Jako zalety testowania losowego można wymienić niski koszt generowania wektorów testowych, łatwość implementacji, możliwość generowania dużej liczby wektorów testowych czy możliwość wygenerowania testów bez znajomości specyfikacji testowanego systemu. Dodatkowo technika ta wprowadza losowość w proces testowania. Standardowe testy losowe nie wykorzystują jednak informacji jaka jest dostępna w środowisku testowania czarnej skrzynki. Dlatego można wykorzystać techniki kontrolowanego generowania testów losowych (ang. Contrlled Random Tests), które korzystając z powyższych informacji pozwalają zwiększyć efektywność procesu testowania losowego. Pierwszym podejściem do kontrolowanego testowania losowego jest testowa[...]

Generowanie wieloprzebiegowych kontrolowanych testów losowych DOI:10.15199/13.2016.11.21


  Zauważalną niedoskonałością standardowego podejścia do kontrolowanego generowania testów losowych jest wysoka złożoność obliczeniowa procesu. Dlatego w artykule przedstawiona zostanie technika kontrolowanego generowania testów losowych pozwalająca w sposób znaczny zmniejszyć tę złożoność. Technika ta wykorzystuje ideę testów wieloprzebiegowych i w odróżnieniu od podejścia klasycznego skupia się na generowaniu całych kolejnych testów a nie pojedynczych wzorców testowych. Słowa kluczowe: kontrolowane generowanie testów losowych, testy wieloprzebiegowe, testy antylosowe.Spośród technik testowania opartych o "czarną skrzynkę" szerokie zastosowanie zarówno w odniesieniu do testowania współczesnych układów elektronicznych jak również oprogramowania mają testy losowe [1-4]. Nie zawsze jednak wydajność standardowych testów losowych jest wystarczająca. Dlatego powstało wiele rozszerzeń mających na celu zwiększenie ich efektywności. Cechą wspólną wielu propozycji jest wpływ na postać generowanych wzorców testowych [1, 3, 5, 6]. Testy generowane w ten sposób często określane są mianem kontrolowanych testów losowych (ang. Contrlled Random Tests). Jednym z podstawowych podejść do kontrolowanego testowania losowego jest testowanie antylosowe (ang. Antirandom Testing) [7]. W podejściu tym i podejściach pochodnych wykorzystywana jest określona miara tak, aby każdy kolejny generowany wzorzec testowy cechował się maksymalną odległością od wszystkich wykorzystanych dotychczas wzorców [7, 8]. Zauważalną niedoskonałością standardowego podejścia do kontrolowanego generowania testów losowych jest wysoka złożoność obliczeniowa procesu. W klasycznym podejściu wybór każdego kolejnego wzorca testowego wiąże się z koniecznością przeszukania zbioru możliwych wzorców testowych i wyborze tego, dla którego wartość przyjętej metryki będzie największa. Przy rzeczywistych rozmiarach domen wejściowych podejście klasyczne jest trudno akceptowalne. Dlatego w arty[...]

Inkrementacyjne sekwencje adresowe o niskim narzucie sprzętowym w dwuprzebiegowych testach krokowych


  Pamięci półprzewodnikowe RAM stanowią jeden z głównych elementów współczesnych modułów i urządzeń elektronicznych. Zwiększająca się w szybkim tempie złożoność i pojemność układów pamięci stawia wciąż nowe wyzwania związane z efektywnym jej testowaniem. Jednym z najbardziej skomplikowanych uszkodzeń pamięci RAM, analizowanym w wielu kluczowych publikacjach odnoszących się do dziedziny, jest uszkodzenie uwarunkowane zawartością opisane modelem PSF (ang. Pattern Sensitive Faults) [3-4]. Ten typ uszkodzenia oraz korespondujące z nim testy zdefiniował w 1980 roku J.P. Hayes [5]. Dalsze badania prowadzili m.in. Suk i Reddy [6]. Testy CM-79N i March-100N pozwalające zwiększyć dotychczasową efektywność wykrywania uszkodzeń PSF zaproponował Cheng [7]. W literaturze przedmiotu (np. Cascaval et. al. [8]) można znaleźć również wiele modyfikacji testów dedykowanych uszkodzeniom PSF, pozwalających wykrywać różne klasy tych uszkodzeń. Dotychczasowe badania wykazały, iż przy obecnych rozmiarach pamięci jedynymi testami możliwymi do realnego zastosowania w procesie testowania pamięci są testy z grupy testów maszerujących określanych również mianem testów krokowych (ang. march tests). Charakteryzują się one liniową złożonością, wysokim pokryciem uszkodzeń i niskim narzutem sprzętowym przy ich implementacji jako testy wbudowane BIST (ang. Built- In Self-Test). Ponadto klasyczne testy krokowe są łatwo konwertowalne do testów transparentnych (ang. transparent march tests). Z uwagi na narzut czasowy jaki powstaje przy tradycyjnej konwersji i implementacji testu krokowego jako testu transparentnego, zaproponowane zostały różne techniki zwiększające efektywność testowania transparentnego [14-16]. Jednak tradycyjne testy krokowe nie generują wszystkich możliwych wzorców niezbędnych do detekcji uszkodzeń PSF. Dlatego zaproponowane zostały techniki, wykorzystujące w swej podstawie testy krokowe, umożliwiające zwiększenie pokrycia uszkodzeń PSF. Jedn[...]

 Strona 1