Wyniki 1-10 spośród 13 dla zapytania: authorDesc:"MAREK OSSOWSKI"

Poprawa skuteczności algorytmów detekcji i lokalizacji uszkodzeń nieliniowych układów analogowych za pomocą selekcji cech


  Zgodnie z definicją zamieszczoną w pracy [1], rozpoznawanie wzorców jest procesem polegającym na pobraniu danych i wykonaniu pewnych czynności zależnych od kategorii rozpoznanego wzorca. Typowymi zastosowaniami w tej dziedzinie są: rozpoznawanie mowy, badania medyczne (diagnozowanie chorób, monitorowanie procesów życiowych), rozpoznawanie pisma, analiza zdjęć satelitarnych, interpretacja sygnałów radarowych, czy diagnostyka uszkodzeń urządzeń technicznych. W rozległej problematyce rozpoznawani wzorców kluczową rolę odgrywa sposób wydobywania cech i ich prawidłowa selekcja. Ekstrakcja i selekcja cech uszkodzeń jest więc również podstawowym etapem diagnostyki analogowych układów nieliniowych, problemu, którego istotnym elementem jest rozpoznawanie wzorców uszkodzeń. Do niedawna, testowanie funkcjonalne (specyfikacyjne) było podstawową metodą diagnozowania urządzeń podczas procesu produkcyjnego. Tego typu testowanie polega zasadniczo na pomiarze wybranych parametrów obwodu i porównaniu z wartościami katalogowymi. Spory sukces metod określanych jako fault-based testing, stosowanych do analizy układów cyfrowych, zainspirował badaczy do włączenia technik opartych na modelowaniu i symulowaniu uszkodzeń poszczególnych elementów do katalogu powszechnie stosowanych procedur diagnostycznych analogowych układów nieliniowych. Lista możliwych uszkodzeń obwodu jest tworzona w oparciu o informacje statystyczne, topologie obwodów oraz doświadczenie projektantów. Najczęściej stosowane techniki pomiarowe można tu podzielić na trzy podstawowe kategorie: analiza stałoprądowa (testy DC), częstotliwościowa i analiza w dziedzinie czasu. Metody DC [2] pozwalają na efektywną detekcję i lokalizację uszkodzeń katastroficznych. Czasochłonne procedury wykorzystujące częstotliwościowe właściwości obwodów [3, 4] nadają się do badania uszkodzeń parametrycznych. Podobne zastosowanie mają metody oparte na analizie stanów dynamicznych testowanych urządzeń [[...]

GA optimization of wavelet analysis of dynamic current supply applied to fault diagnosis

Czytaj za darmo! »

A wavelet transform based dynamic supply current analysis technique for detecting catastrophic faults in analog circuits is described in the paper. Some methods for improving fault detection sensitivity are proposed and verified. A special goal function for GA optimization has been formulated and tested. An algorithm for choosing the best set of continuous wavelet transform (CWT) parameters was [...]

The selection of genetic algorithm parameters for soft fault diagnosis

Czytaj za darmo! »

Some methods for soft fault diagnosis developed in last years use evolutionary computing. Genetic algorithms are the most popular evolutionary method. The genetic algorithms are very sensitive to parameter settings, hence the selection of these parameters seems to be a very important problem. This paper deals with the issue of an optimal determination of genetic algorithm parameters for soft fau[...]

Poprawa skuteczności wykrywania uszkodzeń katastroficznych w układach analogowych

Czytaj za darmo! »

Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektrycznych jest zwykle ważnym elementem procesu modelowania i projektowania. Zasadniczą rolę odgrywa tu fakt, że współczesna wiedza z tego zakresu pozwala na weryfikację systemów zarówno na etapie przygotowywania produkcji, w czasie samej produkcji, jak i w trakcie trwania procedur serwisowych i naprawczych. W przeciwieństwie do układów cyfrowych,[...]

Detekcja i lokalizacja uszkodzeń układów analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów

Czytaj za darmo! »

W artykule omówiono zastosowanie algorytmów bazujących na analizie odpowiedzi czasowej prądu zasilania do detekcji i lokalizacji uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych. Zaprezentowano prosty algorytm wykorzystujący procedury ewolucyjne do wyznaczaniu zaakresu zmienności sygnałów. Zamieszczono przykład detekcji i lokalizacji uszkodzeń układu analogowego z uwzględnieniem tolerancji. Abstract. Fault detection and localization algorithms, based on supply current transient analysis, are described in the paper. A new approach to tolerance regions calculation using genetic algorithms is presented. Numerical example illustrating fault detection and localization with tolerance is briefly discussed. (Fault detection and localization of analog circuits with tolerance). Słowa kluczowe: dia[...]

Ewolucyjny dobór pobudzenia do diagnozowania uszkodzeń w układach analogowych

Czytaj za darmo! »

Praca poświęcona jest metodzie dobierania częstotliwości prostokątnego pobudzenia przeznaczonego do diagnozowania uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych w obwodach analogowych. Wynikiem stosunkowo dużego kosztu obliczeniowego oceny przydatności diagnostycznej każdej częstotliwości zastosowany został algorytm symulowanego wyżarzania, znacznie oszczędniejszy od algorytmu pełnego przeglądu przestrzeni rozwiązań. Opisane przykłady potwierdzają skuteczność prezentowanej metody. Abstract. The paper is devoted to the algorithm for the selection of the frequency of the rectangular input signal used in the parametric and catastrophic fault diagnosis in analog circuits. The calculation of frequency adjustment is very time consuming, so the simulated annealing algorithm is applied for the optimization of the stimuli frequency. The numerical examples confirm the effectiveness of the proposed method. (Evolutionary stimuli selection for fault diagnosis in analog circuits). Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń, uszkodzenia parametryczne i katastroficzne, dobór pobudzenia, układy CMOS. Keywords: fault diagnostic, parametric and catastrophic fault, stimuli selection, CMOS circuit. Wprowadzenie Diagnostyka analogowych układów elektronicznych, której szybki rozwój rozpoczął się na początku ostatniego dwudziestolecia ubiegłego wieku, jest w dalszym ciągu problemem nierozwiązanym. Pomimo powstania wielu nowych, coraz szybszych i bardziej skutecznych metod [1][5], nie został opracowany uniwersalny, skuteczny i wystarczająco dokładny algorytm diagnostyczny pozwalający na uznanie penetracji tego obszaru badawczego za nieuzasadnione. Szybki postęp technologiczny powoduje istotne zmiany w sposobie wytwarzania układów analogowych, co tworzy nowe niezbadane jeszcze obszary zastosowań diagnostycznych. Nieliniowości układów, obecność tolerancji parametrów oraz różnorodność występujących uszkodzeń są głównymi czynnikami generującymi problemy diagn[...]

Optimization of the test conditions for fault detection in nonlinear analog circuits using supply current

Czytaj za darmo! »

In this paper, selection of the optimum test conditions for catastrophic fault diagnosis of analog circuits containing MOS transistors is presented. The method of fault detection applies power supply current waveform IDD as an indicator of a device feature. The stimulate signal parameters and values of additional components are changed in optimization process to extend variation between the test signals for considered faults. An illustrative numerical example is presented. Streszczenie. W pracy przedstawiono dobór warunków testu w metodzie wykrywania i lokalizacji uszkodzen katastroficznych w układach analogowych zawieraja˛cych tranzystory MOS. W zastosowanym algorytmie detekcji uszkodzen informacje o własciwosciach układu sa˛ zakodowane w przebiegu pra˛du z´ródła, zasilaja˛cego obwód w stanie nieustalonym. Parametry sygnału pobudzaja˛cego i wartosci dodatkowych elementów sa˛ modyfikowane w procesie optymalizacyjnym tak, by powie˛kszyc róz˙nice mie˛dzy sygnałami testowymi odpowiadaja˛cymi rozwaz˙anym uszkodzeniom. Działanie algorytmu zilustrowano na praktycznym przykładzie. (Optymalizacja warunków testowych do wykrywania i lokalizacji uszkodzen katastroficznych w nieliniowych układach analogowych) Keywords: analog circuits, fault detection, discrete wavelet transform, feedforward neural network, optimization Słowa kluczowe: układy analogowe, wykrywanie uszkodzen, dyskretna transformacja falkowa, jednokierunkowe sieci neuronowe, optymalizacja Introduction Fault location and detection in electronic equipment is one of the fundamental problems in production of reliable and safe electronic multi-element systems [6], [7], [8]. For diagnosis of faults in numerical electronic devices, effective, automatic procedures have been worked out. Unfortunately, in diagnosis of analog circuits, any universal and dependable technique have not been determined yet, and therefore it is mainly based on engineers’ experience [8]. The review of papers d[...]

An algorithm for fault diagnosis in analogue circuits based on correlation

Czytaj za darmo! »

The paper deals with algorithm for single and multiple catastrophic fault diagnosis in analogue circuits. The algorithm bases on FFT analysis of the circuit response to the rectangular testing signal and uses as a classifier Pearson product-moment correlation coefficient. The algorithm represents SBT technique and requires multiple analyses of circuit under test, which enable us to built a fault dictionary. Each entry of dictionary is assigned with one fault. The numerical example shows the effectiveness of the proposed algorithm. Streszczenie. W artykule przedstawiony został algorytm diagnozowania pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń układów analogowych. Algorytm bazuje na wykorzystującej FFT analizie odpowiedzi badanego układu na prostokątny sygnał wejściowy oraz stosuje jako klasyfikator współczynnik korelacji Pearsona. Algorytm reprezentuje technikę SBT i na etapie przygotowawczym wymaga wielokrotnych analiz diagnozowanego układu pozwalających na zbudowanie słownika uszkodzeń. Jego sygnatury odpowiadają uszkodzeniom, których możliwość występowania została przewidziana na etapie przygotowawczym. Przedstawiony przykład obliczeniowy potwierdza efektywność algorytmu. (Algorytm diagnostyki błędów w układach analogowych bazujący na korelacji). Keywords: fault diagnosis, catastrophic faults, correlation, parameter tolerance Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń, uszkodzenia katastroficzne, korelacja, tolerancja parametrów Introduction The problem of failure detection in electronic circuits appeared when the first electronic circuits were produced. The problem’s severity started to intensify along with the increasing complexity of the circuits and decreasing accessibility to their inside. The rapid development of diagnostics, observed since the early 1980’s, has led to the invention of many new methods [1]-[5], which performance in the case of digital circuits can be regarded as satisfactory. The problem with the diagnostics [...]

Data mining based algorithm for analog circuits fault diagnosis

Czytaj za darmo! »

The paper deals with feature selection of testing signals used for fault-driven analysis of analog circuits based on some grey systems properties. Simple two stages fault diagnostic strategy for circuits with limited access to internal nodes is presented, illustrated with the examples and discussed. Algorithm enabling to detect and localize single and multiple catastrophic faults, is prepared under assumption, that input data sets are extracted from DC analysis. Streszczenie. W artykule przedstawiono dwuetapowy algorytm detekcji I lokalizacji pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń układów analogowych, oparty o pewne techniki drążenia danych i elementy teorii systemów szarych. Założono ograniczony dostęp do punktów wewnętrznych oraz możliwość analizy dynamicznej i stałoprądowej badanych układów. (Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem technik drążenia danych. ). Keywords: fault diagnosis, feature selection, tolerance , catastrophic faults, grey systems theory Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń, selekcja cech, tolerancja, uszkodzenia katastroficzne, teoria systemów szarych Introduction Fault diagnosis of analog electrical circuits with elements tolerances included seems to be still an important part of modern modeling, designing and manufacturing process. Basically, there exist two main methods for taking into account the parameters variations: direct one, based on the tolerance regions calculations [1] and indirect, grounded on the use of particular classifiers including tolerance in the learning stage of pattern recognition process. Most recently, the algorithms using some ideas of grey relational data analysis [2 ], introduced by Deng Julong, widely applied in economics, industry and agriculture were introduced also to the analog circuit fault diagnosis. Mentioned above, indirect methods enabling us to investigate circuits with parameters variations, need very large data sets. Data mining techniques called feature sel[...]

 Strona 1  Następna strona »